1.4. Используемое оборудование

«Измеритель RLC», минимодули «Диэлектрическая прони­цаемость бумаги», «Диэлектрическая проницаемость полиэтилентерефталата», «Диэлектрическая проницаемость полипропилена», соединительные проводники.

1.5. Задание на выполнение лабораторной работы

1. Для выданных образцов определить  и tg,

2. Сравнить полученные результаты со справочными данными.

3. Построить гистограммы и сравнить диэлектрики по величине  и tg.

1.6. Программа работы

1. Прочитать методические указания по подготовке и проведению лабораторной работы.

2. Получить у преподавателя вариант задания исходных данных к работе.

3. При ознакомлении с рабочим местом проверить наличие необходимых приборов и соединительных проводников (в случае отсутствия какого-либо ком­плектующего элемента типового комплекта необходимо немедленно сообщить об этом преподавателю или техническому персоналу);

4. Перед сборкой цепи проверить, чтобы все приборы на рабочем столе бы­ли выключены;

5. Подключить минимодуль «Диэлектрическая проницаемость» к измерителю RLC, как указано на рис. 1.6 (полярность подключения значения не имеет).

В данной лабораторной работе производится измерение емкости конденса­торов прямым методом – измерителем RLC.

6. Собрав электрическую (монтажную) схему, необходимо пригласить пре­подавателя для её проверки.

7. После проверки правильности соединений схемы преподавателем или ла­борантом, подать напряжение питания на комплект включением автоматического выключателя и УЗО «Модуля питания».

Включить измеритель RLC, нажав кнопку 2 (рис. 1.6), нажатием кнопки 1 (рис. 1.6) установить режим измерения емкости, о чем будет свидетельствовать значок «F» - фарады в нижнем правом углу дисплея. Установить частоту тест сигнала 120 Гц нажатием кнопки 3 (рис. 1.6), частота тест сигнала ото­бражается в правой части дисплея «120 Hz». Установить режим измерения ди­электрических потерь кнопкой 4 (рис. 1.6), данный режим измерения инди­цирует символ «D» в верхней части дисплея.

Значение емкости будет отображаться крупными цифрами в нижней части дисплея, справа от значения расположена единица измерения: «F» - 10^–6 Ф; «nF» – 10^–9 Ф; «pF»- 10^–12Ф.

В правой верхней части дисплея отображается тангенс угла диэлектриче­ских потерь. Заносить показания измерителя RLC в табл. 1.1.

Не отключая измеритель RLC заменить минимодуль на другой из набора и заносить емкость и угол диэлектрических потерь в табл. 1.1. Повторить изме­рения для всех выданных образцов. Результаты измерений заносить в табл. 1.1

Таблица 1.1

№ п.п.	f, Гц	0, Ф/м	Измерителем RLС			d, м	S, м2	С0, Ф
			tg	Сx
1-ый образец		8,85 10–12
2-ой образец

---

Рис. 1.6 - Соединение измерителя RLC и минимодуля «Диэлектрическая проницаемость: 1 – кнопка выбора режима измерения основного параметра (ем­кость, индуктивность, сопротивление); 2 – кнопка включения прибора; 3 – кнопка выбора частоты тест сигнала; 4 – кнопка выбора режима измерения дополнительного параметра (активное сопротивление, добротность, диэлектрические потери).

8. Рассчитать диэлектрическую проницаемость  образцов, используя формулы (1.1) – (1.2) и данные табл. 1.1.

Для минимодулей «Диэлектрическая проницаемость»: площадь обкладок измерить на опытном образце, толщина диэлектрика d указана на минимодуле. Расчёты данные заносить в таблицу 1.1.

9. Сравнить полученные данные со справочными.

10. По полученным данным построить гистограммы и сравнить диэлектрики по величине тангенса диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемо­сти. Сделать вывод о целесообразности применения диэлектрика в том или ином случае.

11. После оформления отчета и проверки результатов преподавателем необ­ходимо разобрать схему, предоставить комплект в полном составе и исправности преподавателю или лаборанту.

12. Ответить на контрольные вопросы.

1.7. Содержание отчета

1. Название работы. Цель работы.

2. Используемое оборудование и схемы электрических соединений.

3. Результаты измерений.

4. Результаты расчётов и построенные опытные зависимости (графики).

5. Краткие выводы по каждой работе, анализ полученных результатов:

– сравнение опытных зависимостей (графиков) с теоретическими;

– сравнение полученных экспериментальных значений с табличными, с обязательными ссылками на источники информации;

– сопоставление их расхождений с точностью измерений.

6. Обобщающий вывод по всей лабораторной работе. Вывод включает в себя:

а) основные численные результаты работы;

б) погрешность измерений, в случае относительной погрешности более 15% обязательны анализ и указание причин, приведших к снижению точности эксперимента.

1.8. Контрольные вопросы

1. Приведите определение поляризации

2. Назовите основные механизмы поляризации

3. Приведите определение «диэлектрической проницаемости».

4. Физическая природа диэлектрических потерь.

5. На что расходуется мощность диэлектрических потерь и от чего она за­висит?

6. Приведите векторные диаграммы, соответствующие последовательной и параллельной схемам замещения диэлектрика.

7. Приведите определение тангенса угла диэлектрических потерь.

8. В чем опасность диэлектрических потерь в конденсаторах и изоляционных материалах?

Лабораторная работа № 2

ИЗМЕРЕНИЕ ЗАВИСИМОСТИ УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ОТ ТЕМПЕРАТУРЫ.

2.1. Цель работы

Изучить влияние температуры на тангенс угла диэлектрических потерь и диэлектрической проницае­мости представленных диэлектриков.

---

2.2. Задачи работы

1. Построить график зависимости диэлектрической проницае­мости (или емкости)  и тангенса угла диэлектрических потерь tg исследуемых диэлектриков от температуры.

2. Определить температурный коэффициент диэлектрической проницае­мости при температуре, указанной преподавателем.

2.3. Краткие теоретические сведения

Диэлектриче­ская проницаемость  зависит от концентрации молекул п диэлек­трика и поляризуемости  каждой молекулы. В свою очередь, п и  зависят от природы диэлектрика и его температуры, а  – еще и от частоты приложенного напряжения.

В твердых неполярных диэлектриках молекулярного стро- ения обладают в основ­ном только электронной поляризацией. Поэтому они имеют невысо­кое значение диэлектрической проницаемости ( = 2,0÷2,5).

Значения п и _э от частоты напряжения не зависят, поэтому и диэлектрическая проницаемость  неполярных диэлектриков не за­висит от частоты во всем диапазоне, включая оптические частоты. При нагревании  монотонно снижается (рис. 2.1), так как умень­шается концентрация п поляризуемых молекул в результате теплово­го расширения диэлектрика. В области температуры плавления Т_пл, (у парафина Т_пл  50 °С)  скачкообразно снижается.

Рис. 2.1. Зависимость диэлектрической проницаемости е неполярных диэлектриков от температуры Т

Величина, характеризующая относительное изменение  при на­гревании диэлектрика на один кельвин, называется температурным коэффициентом диэлектрической проницаемости ТК_ и измеряется в К^–1:

. (2.1)

Среднее значение (К^-1) можно определить из выражения

, (2.2)

где значение ₂ измерялось при температуре Т₂ а ₁ – при Т₁.

Твердые диэлектрики молекулярного строения полярные (канифоль) наряду с электронной поляризацией обла­дают и дипольно-релаксационной.

Величина  полярных диэлектриков при нагревании вначале ме­няется незначительно, затем резко возрастает, проходит через макси­мум и далее медленно снижается; максимум с увеличением частоты напряжения смещается в область более высоких температур (рис. 2.2). Наличие максимума объясняется тем, что с увеличени­ем температуры дипольно-релаксационная поляризуемость _др сна­чала возрастает, а затем снижается (см. рис. 2.2, 1).

Рис. 2.2. Зависимость диэлектрической проницаемости  полярного диэлектрика от температуры Т: частота измерения: f₁ = 10², f₂ = 10³, f₃ = 10⁴, f₄ = 10⁵ Гц. Образующие : 1 – _др(T); 2 – _э(T); 3 – n(T).

Вследствие нелинейной зависимости  от температуры ТК_ на­ходят для различных температурных интервалов. Значения ТК_ оп­ределяют чаще всего методом графического дифференцирования кривой зависимости  от Т (см. рис. 2.2). Для этого в точке А, со­ответствующей заданной температуре Т₁ и частоте f₁ проводят каса­тельную к кривой и строят на ней, как на гипотенузе, прямоугольный треугольник произвольных размеров. Значение ТК_ в точке А находится как отношение катетов треугольника с учетом масштабов  и Т, деленное на значение  в точке А.

---

Для твердых диэлектриков ионного строения с плотной упаковкой решетки ионами (корунд, кварц, слюда) характерны электронная и ионная поляризации. При нагревании диэлектрическая проницаемость обычно возрастает (ТК_ положительный), так как возрастает _и (рис. 2.3, а).

У некоторых диэлектриков (титаносодержащая керамика) ТК_ отрицательный, поэтому при нагревании  у них уменьшается.

Рис. 2.3. Температурная зависимость диэлектрической проницаемости  диэлектрика с плотной упаковкой решетки – корунда (а) и с неплотной упаковкой решетки – элек­тротехнического фарфора (б). Образующие : 1 – _э(T); 2 – _н(T); 3 – п(Т); 4 – _ир(T)

Диэлектрическая проницаемость аморфных и кристаллических диэлектриков с неплотной упаковкой решетки ионами (электротехнический фарфор, неорганические стекла, асбест) зави­сит от температуры и частоты напряжения вследствие проявления ионной и, главным образом, ионно-релаксационной поляризаций (см. рис. 2.3, б). У этих диэлектриков ТК_ положительный и в отличие от ТК_ диэлектриков ионного строения с плотной упаков­кой решетки имеет высокие значения. Увеличение диэлектрической проницаемости при нагревании происходит преимущественно за счет роста концентрации ионов, принимающих участие в ионно-релаксационной поляризации.

В кристаллических диэлектриках с плотной упаковкой решетки ионами поляризация не вызывает рассеивание мощности приложенного электрического поля, поэтому диэлектри­ческие потери обусловлены только удельной электро­проводностью и имеют небольшие значения, тангенса угла потерь (tg  10^-4), который при нагревании незначительно возрастает (рис. 2.4, а,б, кривые II) так как возрастает удельная электро­проводность (см. рис. 2.4 а, кривая I). Наличие примеси, искажаю­щей кристаллическую решетку, приводит к существенному увеличе­нию tg.

В диэлектриках аморфных и кристаллических с неплотной упаков­кой решетки поляризация, вызывает ионно-релаксационные потери. Диэлектрические потери в этом случае обусловлены элек­тропроводностью и ионно-релаксационной поляризацией (см. рис. 2.4, а, кривые 1 и 2). Диэлектрические потери в этих диэлектриках выше (tg  10^-2), чем в диэлектриках кристаллических с плотной упаковкой решетки ионами и сильно зависят от температуры (см. рис. 2.4, б, кривая I): при нагревании tg существенно возрастает (ср. кривые I и II рис. 2.4).

Рис. 2.4. Общий вид (а) зависимости tg от температуры T диэлектриков ионного строения аморфных или кристаллических с неплотной упаковкой решетки ионами (I) и с плотной упаковкой решетки ионами (II). Образующие tg, обусловленные электро­проводностью (1) и ионно-релаксационной поляризацией (2);

температурная зависимость (б) tg изоляторного фарфора (I) и алюминоксида (корунда) — (II) при 1 МГц

В неполярных диэлектриках молекулярного строения потери обу­словлены только удельной электропроводностью. У этих диэлектриков наблюдается электронная поляриза­ция; релаксационные виды поляриза­ции отсутствуют. Диэлектрические по­тери небольшие (tg  10^-4) и при нагревании слегка возрастают (анало­гично кривой tg 1 рис. 2.5). Нали­чие ионогенной примеси (например, влаги) приводит к существенному воз­растанию диэлектрических потерь.

---

Рис. 2.5. Общий вид зависимости tg жидких неполярных диэлектриков от температуры Т. 1- образующая tg, обусловленная удельной электропроводностью.

В полярных диэлектриках (напри­мер, в канифоли) на кривых зависи­мости tg от температуры и часто­ты напряжения, подобно полярным жидким диэлектрикам, проявляется максимум тангенса угла диэлектрических потерь, обусловленный дипольно-релаксационной поляризаци­ей (рис. 2.6). В этих диэлектриках, так же как в жидких полярных, диэлектрические потери складываются из потерь, обусловленных электропроводностью и дипольно-релаксационной поляризацией. Величина tg  10^-3- 10^-2.

Рис. 2.6. Зависимость (1) и tg(2) канифоли от температуры Т при 50 Гц

2.4. Используемое оборудование

Модули «Функциональный генератор», «Магнитомягкие ма­териалы и тепловой коэффициент сопротивления / емкости», «Модуль питания», минимодуль «ТКЕ конденсаторов», «Измеритель RLC», мультиметр, соедини­тельные проводники.

2.5. Задание на выполнение лабораторной работы

1. Измерить емкость конденсатора и тангенс угла диэлектрических потерь tg исследуемых диэлектриков при различных температурах.

2. Методом графического дифференцирования вычислить температурный коэффициент емкости и тангенса угла диэлектрических потерь исследуемых образцов при указанной преподавателем температуре.

2.6. Программа работы

1. Прочитать методические указания по подготовке и проведению лабораторной работы.

2. Получить у преподавателя вариант задания исходных данных к работе.

3. При ознакомлении с рабочим местом проверить наличие необходимых приборов и соединительных проводников (в случае отсутствия какого-либо ком­плектующего элемента типового комплекта необходимо немедленно сообщить об этом преподавателю или техническому персоналу);

4. Перед сборкой цепи проверить, чтобы все приборы на рабочем столе бы­ли выключены;

5. Согласно рис. 2.7 выполнить электрические соединения модулей для измерения тангенса диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости твёрдых диэлектриков. Монтаж схемы производить при отключенном пита­нии.

В качестве источника питания, для нагрева опытного образца, использовать нерегулируемый выход «+15В» модуля питания (на время настройки измерителя RLC не соединять общий проводника модуля питания и схемы). В качестве Р1 использовать измеритель RLC, в качестве Р2 – мультиметр в режиме измерения температуры «°С». Подключить выводы термопары минимодуля «ТКЕ конденса­торов» к контактам «ТЕМР» мультиметра.

Рис. 2.7. Схема электрическая соединений типового комплекта для измерения зависимости диэлектрической проницаемости и угла диэлектрических потерь от температуры

6. После проверки правильности соединений схемы преподавателем или лаборантом, подать напряжение питания на комплект включением автоматиче­ского выключателя и УЗО «Модуля питания».

---

Смотрите также файлы

• Макро 2 семестр.docx

• Компьютерный английский Met_196.doc

• Информатика.docx

• Задачи по физике.docx

• дневник ПГС.doc