Файл: Контрольная работа для студентов заочной формы обучения по дисциплине.docx

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 30.11.2023

Просмотров: 17

Скачиваний: 3

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.


ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНСТВО СВЯЗИ

Федеральное государственное бюджетное образовательное

учреждение высшего образования

Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций

им. проф. М. А. Бонч-Бруевича”

__________________________________________________________________

Контрольная работа для студентов заочной формы обучения

по дисциплине

Материалы электронной техники

Вариант№2


Фамилия: Дорофеев

Имя: Михаил

Отчество: Владимирович

Курс: 2

Группа №: АБ-03з

Санкт-Петербург

2022


Вариант 2


Материал

п/п


Температура

Т, К

Концентрация

примесей

Площадь

Перехода

S, мм2

Na, m-3

Nd, m-3


2


Ge


160


2 * 1020


29 * 1021


2

Таблица данных



Задача 1

Определить концентрацию носителей заряда в собственном германии при температуре 160 К. Данные в таблице 1

Решение:

Полупроводник называется собственным или типа i, если в нём отсутсвуют какиу-либо примеси. В этом случае свободные электроны и дырки образуются попарно только за счёт тепловой генерации и рекомбинируют также попарно. Следовательно, в собственном полупроводнике концентрация свободных электронов равна концентрации дырок. Поскольку ширина запрещённой зоны полупроводника зависит от температуры, определим её используя зависимость по формуле




Параметры берём из таблицы 2



Концентрация собственных заряда определяется по формулам



Согласно закону действующих масс nipi = ni2 следовательно ↓



Зная эффективные плотности состояний можно определить собственную концентрацию носителей заряда:



Задача 2



Решение

Удельное электрическое сопротивление обратно пропорционально удельной электрической проводимости



Поскольку в собственном полупроводнике n = p = ni



Следовательно полный ток равен дрейфовому току, который в свою очередь, состоит из дырочной и электронной составляющих

Где Е – напряжённость приложенного электрического поля. Отношения полного тока к электрической составляющей



Задача 3

Сравнить положения уровня Ферми для германия с эффективной плотностью состояний Na = 2 * 1020 м-3, Nb = 29 * 1021м-3 и Ge n-типа с концентрацией электронов nn = 1020 м-3, дырок pn =1021м-3, при Т = 160К

Решение

Определим положение уровня Ферми в собственном полупроводнике по формуле



Поскольку в собственном полупроводнике концентрация дырок равна концентрации электронов




Найдём положение уровня Ферми относительно середины запрещённой зоны. Поскольку энергия уровней измеряется в электрон-вольтах (Эв), возьмём постоянную Больцмана k = 8,614 * 10-5 эВ/К получим



Следовательно, уровень Ферми в собственном полупроводнике лежит выше середины запрещённой зоны на 0,045 эВ. В полупроводнике n-типа концентрация электронов и дырок равны согласно формуле выше↑

Возьмём отношение концентраций и выразим уровень Ферми



Найдём положение уровня Ферми относительно середины запрещённой зоны



Следовательно



В полупроводнике n-типа уровень Ферми расположен на 0,11 эВ выше уровня собственного полупроводника

Задача 4

Определить концентрацию свободных дырок и электронов в полупроводнике р-типа, если собственная концентрация носителей ni = 1018 м-3 акцепторных Na = 1020 м-3

Решение

При некоторой температуре все акцепторы становятся ионизированными и концентрация дырок в валентной зоне примерно равна концентрации акцепторных примесей



Из закона действующих масс, найдём концентрацию электронов, которые для акцепторного полупроводника являются неосновными носителями заряда



Задача 5

Определить концентрацию свободных электронов и дырок в полупроводнике n-типа, если собственная концентрация носителей равна ni =5*1019 м-3, концентрация донорных примесей Nd = 1021 м-3

Решение


В общем случае в полупроводнике должно выполняться условие электронейтральности, когда положительный заряд ионизированных доноров и дырок скомпенсирован отрицательным зарядом свободных электронов



Из закона действующих масс выразим концентрацию электронов и подставим предыдущее выражение





Следовательно, концентрация неосновных носителей заряда (дырок в полупроводнике n-типа) будет равна



Найдём концентрацию электронов



Таким способом рационально находить концентрации носителей заряда при условии, что собственная концентрация по порядку близка к концентрации легирующей примеси, то есть когда ni Nd

Если собственная концентрация носителей много больше концентрации легирующих примеси, то преобладает механизм тепловой генерации и концентрация основных и неосновных носителей заряда примерно равна собственной концентрации.