Файл: Реферат на тему "Размерные эффекты в наноматериалах и принцип работы растрового электронного микроскопа".docx
Добавлен: 09.01.2024
Просмотров: 69
Скачиваний: 2
ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
спектроскопии применяются полированые срезы материала, называемые металлографическими шлифами.
Заключение
В заключение можно отметить, что размерные эффекты в наноматериалах имеют важное значение для механических свойств материалов, особенно для нанокристаллических материалов. Изменение размера зерен может значительно повлиять на прочность, твердость и жесткость материала. Кроме того, закон Холла-Петча является важным инструментом для измерения размеров зерен в материалах.
Растровый электронный микроскоп является важным инструментом для исследования структуры материалов на нанометровом уровне. Принцип работы растрового электронного микроскопа основан на использовании электронов для сканирования поверхности образца. Полученные изображения позволяют исследовать поверхностную структуру материалов и изучать их механические свойства.
Таким образом, изучение размерных эффектов в наноматериалах и принципов работы растрового электронного микроскопа имеет большое значение для современной науки и технологии, позволяет создавать новые материалы с уникальными механическими свойствами и разрабатывать новые методы исследования материалов на нанометровом уровне.
Рекомендуемая литература:
пер. с франц. М, Металлургия, 1985.
Заключение
В заключение можно отметить, что размерные эффекты в наноматериалах имеют важное значение для механических свойств материалов, особенно для нанокристаллических материалов. Изменение размера зерен может значительно повлиять на прочность, твердость и жесткость материала. Кроме того, закон Холла-Петча является важным инструментом для измерения размеров зерен в материалах.
Растровый электронный микроскоп является важным инструментом для исследования структуры материалов на нанометровом уровне. Принцип работы растрового электронного микроскопа основан на использовании электронов для сканирования поверхности образца. Полученные изображения позволяют исследовать поверхностную структуру материалов и изучать их механические свойства.
Таким образом, изучение размерных эффектов в наноматериалах и принципов работы растрового электронного микроскопа имеет большое значение для современной науки и технологии, позволяет создавать новые материалы с уникальными механическими свойствами и разрабатывать новые методы исследования материалов на нанометровом уровне.
Рекомендуемая литература:
-
«Практическая растровая электронная микроскопия» под ред. Дж. Голдстейна и Х. Яковица пер. с англ. М. Мир 1978 . -
«Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия» Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. М. Металлургия, 1982 . -
«Микроанализ и растровая электронная микроскопия» под ред. Ф. Морис, и др.
пер. с франц. М, Металлургия, 1985.