Файл: Вопросы для проверки степени сформированности компетенции пк1.doc
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 25.10.2023
Просмотров: 18
Скачиваний: 2
ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
-
Вопросы для проверки степени сформированности компетенции ПК-1
№ | Вопрос | Варианты ответа | Проверяемые знания |
1 | Для измерения крутизны характеристики лампы нужно | 1. Измерить два напряжения на управляющей сетке 2. Измерить ток накала 3. Измерить ток сеток | Методика измерений параметров прибора |
2 | Для измерения термоэлектронного тока сетки триода нужно | 1. Подать на сетку положительное напряжение 2. Подать на сетку отрицательное напряжение 3. Подать переменное напряжение на анод | Методика измерения термотока |
3 | Какой параметр МГЛ обеспечивает её коэффициент усиления по мощности? | 1. Крутизна 2. Ток эмиссии 3. Ток накала | Связь между параметрами прибора и его усилительными свойствами |
4 | Какие составляющие входят в обратный ток сетки? | 1. Электронный, ионный токи, ток утечки, термоток 2. Ток утечки и термоток 3. Электронный и ионный токи | Физические процессы, определяющие обратный ток сетки |
5 | Что такое ускоренные испытания? | 1. Сокращенные по времени испытания при более жестких условиях проведения 2. Сокращенные по времени испытания для приблизительной оценки стабильности 3. Сокращенные по времени испытания при более жестких критериях или условиях проведения | Методика ускоренных испытаний |
6 | Какие виды испытаний входят в испытания на надежность? | 1.Испытания на безотказность, долговечность и ресурс 2.Испытания на безотказность и ресурс 3. Испытания на долговечность и ресурс | Методика испытаний на надежность |
7 | Что такое метод импульсной статики? | 1. При измерении статических характеристик и параметров постоянные напряжения на электроды подаются импульсами для предотвращения их перегрева 2. Переменные напряжения на электроды подаются импульсами 3. Постоянные напряжения на электроды подаются одиночными импульсами | Методика измерений статических характеристик и параметров МЭПЭСУ |
8 | Какие виды испытаний входят в испытания на внешние воздействующие факторы? | 1. Механические, климатические, радиационные 2. Испытания на тепло и холодоустойчивость 3. Испытания на вибропрочность, виброустойчивость и ударопрочность | Методика испытаний на внешние воздействующие факторы |
9 | Повышенная величина ионного тока сетки лампы свидетельствует о | 1. Газоотделении анода 2. Декарбидировании катода 3. Потере покрытия сетки | Ионизация остаточного газа в приборе |
10 | Холодная сварка применяется для | 1. Крепления катода 2. Сборки анода 3. Герметизации лампы | Методика процесса откачки МЭПЭСУ |
11 | Входная емкость триода в схеме с общим катодом это | 1. Емкость катод-сетка 2. Емкость сетка-анод 3. Емкость катод-анод | Связь между межэлектродными и схемными емкостями МЭПЭСУ |
-
Вопросы для проверки степени сформированности компетенции СПК-1.
№ | Вопрос | Варианты ответа | Проверяемые знания |
1 | Для измерения тока эмиссии лампы нужно | 1. Соединить сетки с анодом 2. Подключить сетку 3. Подключить анод | Методика измерения тока эмиссии МЭПЭСУ |
2 | Измерение расхода воздуха или воды при принудитель-ном способе охлаждения производится | 1. Термометром 2. Ротаметром 3. Манометром | Методики измерений параметров системы охлаждения МЭПЭСУ |
3 | Электрическая прочность мощного прибора измеряется | 1. Отсутствием пробоев 2. Пиковым вольтметром 3. Числом пробоев за определенный интервал времени | Методика измерения электрической прочности МЭПЭСУ |
4 | Причиной снижения эмиссии катода лампы может быть | 1. Декарбидирование катода 2. Термоэмиссия сеток 3. Динатронный эффект | Физические процессы, влияющие на эмиссию катода МЭПЭСУ |
5 | Измерение перепада давления воздуха или воды при принудительном способе охлаждения производится | 1. Ротаметром 2. Расходомером 3. Манометром | Методики измерений параметров системы охлаждения МЭПЭСУ |
6 | Метод импульсной статики не используется при измерениях | 1. Тока анода 2. Тока и напряжения накала и напряжения запирания 3. Тока и напряжения накала | Причины использования метода импульсной статики в МЭПЭСУ |
7 | Типовые испытания приборов проводятся | 1. 1 раз в полгода 2. При передаче разработанного прибора в производство 3. При большом уровне брака | Методика проведения типовых испытаний приборов |
8 | Критерием целостности катода является | 1. Отсутствие проводимости катод-сетка 2. Наличие тока накала 3. Отсутствие проводимости сетка-анод | Схема подведения потенциалов на электроды прибора |
9 | Измерение выходной колебательной мощности в мощных приборах на частотах свыше 300 МГц производится | 1. Калориметрическим способом 2. Ваттметром переменного тока 3. Амперметром и вольтметром переменного тока | Методика измерений параметров прибора в дециметровом диапазоне |
10 | Проходная емкость триода в схеме с общим катодом это | 1. Емкость катод-сетка 2. Емкость сетка-анод 3. Емкость катод-анод | Связь между межэлектродными и схемными емкостями МЭПЭСУ |