Файл: Барьерная емкость полупроводникового диода и электронная перестройка частоты.docx

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 30.11.2023

Просмотров: 17

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

тема: Барьерная емкость полупроводникового диода и

электронная перестройка частоты

колебательного контура

Вариант №4

Цель работы: I. Расчет и построение зависимости емкости обратно смещенного p–n-перехода от напряжения.

II. Определение диапазона электронной перестройки частоты колебательного контура для заданных электрофизических параметров перехода.

Параметры диодной структуры:

1) материал: германий (Ge);

2) диэлектрическая проницаемость: ε = 16;

3) концентрация примеси: NA = 3,5⸱1016 см-3, ND = 5⸱1014 см-3;

4) площадь перехода: Sпер = 10-6 м2;

5) резонансная частота колебательного контура: f0 = 40 МГц;

6) эквивалентная индуктивность контура: LK = 70 мкГн;

7) Собственная концентрация электронов: ni = 2,5⸱1013 см-3.

Определим для заданных параметров диодной структуры зависимость барьерной емкости Сбар от напряжения по формуле:





U

-11

-12

-13

-14

-15

-16

-17

-18

-19

-20

Сбар,пФ

22,26

21,34

20,52

19,79

19,13

18,53

17,98

17,49

17,03

16,6



Определим зависимость толщины обеднённого слоя Lоб от напряжения обратного смещения по формуле:



U

-11

-12

-13

-14

-15

-16

-17

-18

-19

-20

Lоб , м

6,36

6,64

6,9

7,16

7,4

7,64

7,87

8,1

8,32

8,53




По заданным значениям резонансной частоты f0 и эквивалентной индуктивности LK при Сбар = 0 определим собственное значение емкости:





Рассчитаем частоту колебательного контура при изменении напряжения на варикапе:

U

-11

-12

-13

-14

-15

-16

-17

-18

-19

-20

f0, МГц

4,03

4,12

4,2

4,28

4,35

4,42

4,49

4,55

4,61

4,67



Определим диапазон перестройки частоты колебательного контура по графическим зависимостям Сбар(U):



Параметры диодной структуры:

1) материал: арсенид галлия (GaAs);

2) диэлектрическая проницаемость: ε = 10,9;

3) концентрация примеси: NA = 3,5⸱1016 см-3, ND = 5⸱1014 см-3;

4) площадь перехода: Sпер = 10-6 м2;

5) резонансная частота колебательного контура: f0 = 40 МГц;

6) эквивалентная индуктивность контура: LK = 70 мкГн;

7) Собственная концентрация электронов: ni = 8⸱106 см-3;

Определим для заданных параметров диодной структуры зависимость барьерной емкости Сбар от напряжения по формуле:





U

-11

-12

-13

-14

-15

-16

-17

-18

-19

-20

Сбар,пФ

17,78

17,08

16,46

15,91

15,4

14,94

14,52

14,14

13,78

13.45




Определим зависимость толщины обеднённого слоя Lоб от напряжения обратного смещения по формуле:



U

-11

-12

-13

-14

-15

-16

-17

-18

-19

-20

Lоб , м

5,43

5,65

5,86

6,06

6,26

6,46

6,64

6,82

7

7,17



По заданным значениям резонансной частоты f0 и эквивалентной индуктивности LK при Сбар = 0 определим собственное значение емкости:





Рассчитаем частоту колебательного контура при изменении напряжения на варикапе:

U

-11

-12

-13

-14

-15

-16

-17

-18

-19

-20

f0, МГц

4,51

4,6

4,69

4.77

4,85

4,92

5

5,06

5,12

5,19



Определим диапазон перестройки частоты колебательного контура по графическим зависимостям Сбар(U):




Вывод: Из полученных графиков видно, что у германия модуляционная характеристика колебательного контура расположена ниже, чем у арсенида галлия. Это связано в тем, что резонансная частота колебательного контура обратно пропорциональна диэлектрической проницаемости.