Файл: Научноисследовательская работа секция Физика Принцип работы сканирующего электронного микроскопа и его использование в Геологии.pptx
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 05.12.2023
Просмотров: 18
Скачиваний: 1
ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
Бюджетное Муниципальное общеобразовательное учреждение многопрофильная гимназия № 12 г. Твери. Сокращённое наименование: МОУ гимназия № 12 г. Твери
XXIV городская научно-практическая конференция школьников «шаг в будущее»
Научно-исследовательская работа
секция: «Физика»
«Принцип работы сканирующего электронного микроскопа и его использование в Геологии»
Выполнил:
ученик 10 «А» класса
Иващенков Андрей Владимирович
Ведущий учитель:
Заслуженный учитель РФ,
учитель физики высшей категории
Андреева Ольга Николаевна
Научный консультант:
мл.науч.сотр. кафедры геологии СПбГУ
Осипов Анатолий Станиславович
Целью данной работы является получение новых знаний о сканирующем электронном микроскопе и его использовании в геологии.
Актуальность темы научно-исследовательской работы заключается в том, что СЭМ (сканирующий электронный микроскоп) является одним из самых востребованных и популярных приборов в современной геологии для быстрого изучения вещественного состава образца.
Задачи:
1.Изучить литературу по данной теме и раскрыть, на мой взгляд, важные характеристики СЭМ;
2.Отобрать каменный образец и сделать специальную пробоподготовку;
3.Определить качественный элементный состав исследуемого образца методом рентгеноспектрального микроанализа (РСМА) в СЭМ.
История развития сканирующей электронной микроскопии
Сканирующий электронный микроскоп
(В. Зворыкин и другие., 1942 г.)
В 1952 году в К. Оутли вместе с Мак-Маллэном создают первый СЭМ в Кембриджском университете.
В 1960 году Т. Эверхат и Р. Торнли изобрели новый детектор – «детектор Эверхарта-Торнли».
В 1965 году на базе Кембриджского университета был выпушен первый коммерческий сканирующий электронный микроскоп – «Stereoscan».
В последующие годы более 1000 СЭМ были проданы ряду фирм-производителей Японии, США, Великобритании, Франции и др.
Устройство сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
Общая схема СЭМ
Схема электронной пушки
Взаимодействие электронного пучка с образцом
Область генерации различных типов сигналов в СЭМ
Форма областей взаимодействия падающих электронов с образцом (а – низкий атомный номер, б – высокий атомный номер)
В СЭМ для построения изображения используются различные типы сигналов, которые появляются при взаимодействии сфокусированного электронного пучка (зонда) с исследуемым образцом.
Взаимодействие электронного пучка с образцом
Для того чтобы изображение было сформировано в СЭМ, необходимо использовать соответствующий детектор, который преобразует интересующее излучение в электрический сигнал и модулирует интенсивность на рабочем экране для наблюдения и получения фотографии.
Схема детектора Эверхата – Торнли
Практическая часть
Каменный образец
Место отбора каменного материла
(М 1:100 000)
Практическая часть
1)СЭМ TESCAN VEGA;
2)Прозрачно-полированный шлиф, который напылен электропроводным слоем – углеродом. Индивидуальный номер 810461;
3)Напылительная установка Q150T Plus.
1)
2)
3)
Практическая часть
Электронное изображение СЭМ (SEI-вторичные электроны)
Электронное изображение СЭМ (BEC-обратно рассеянные электроны)
Изображение в обратно рассеянных электронах (BEC) и «точка» исследования зерна минерала; масштаб изображения – 0.3 мм.
Энергодисперсионный рентгеновский спектр силикатного минерала
Шлиф | Поле | № спектра | SiO2 | Al2O3 | FeO | CaO | Na2O | K20 | Сумма |
Содержания оксидов, мас.% | |||||||||
810461 | 1-1 | 025 | 99.33 | - | 0.21 | 0.35 | - | - | 99.89 |
810461 | 1-2 | 021 | 64.01 | 18.48 | 0.04 | - | - | 17.46 | 99.99 |
810461 | 1-3 | 026 | 63.39 | 18.19 | 0.21 | - | 0.04 | 17.38 | 99.21 |
Практическая часть
Главная рабочая страница программы «MINAL»
Пример химического состава образца 810461, мас. %
Заключение
- Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) на сегодняшний день является одним из наиболее современных приборов, который используется в междисциплинарной науке Геологии.
- Основной принцип работы СЭМ основан на взаимодействии электронного пучка с исследуемым веществом. При помощи специального детектора, через который проходит электронный пучок (зонд), аналитик лаборатории может получить информацию о свойствах исследуемых различных твердых тел.
- В ходе научно-исследовательской работы мной был отобран образец для изучения и проведена специальная его пробоподготовка.
- При помощи рентгеноспектрального микроанализа был определен качественный элементный состав исследуемого образца, диагностированный как горная порода – гранит.
Спасибо за внимание!