Файл: Научноисследовательская работа секция Физика Принцип работы сканирующего электронного микроскопа и его использование в Геологии.pptx

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 05.12.2023

Просмотров: 18

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Бюджетное Муниципальное общеобразовательное учреждение многопрофильная гимназия № 12 г. Твери. Сокращённое наименование: МОУ гимназия № 12 г. Твери

XXIV городская научно-практическая конференция школьников «шаг в будущее»

 

Научно-исследовательская работа  

секция: «Физика»

 «Принцип работы сканирующего электронного микроскопа и его использование в Геологии»

Выполнил:

ученик 10 «А» класса

Иващенков Андрей Владимирович

 

Ведущий учитель:

Заслуженный учитель РФ,

учитель физики высшей категории

Андреева Ольга Николаевна

Научный консультант:

мл.науч.сотр. кафедры геологии СПбГУ

Осипов Анатолий Станиславович

Целью данной работы является получение новых знаний о сканирующем электронном микроскопе и его использовании в геологии.

Актуальность темы научно-исследовательской работы заключается в том, что СЭМ (сканирующий электронный микроскоп) является одним из самых востребованных и популярных приборов в современной геологии для быстрого изучения вещественного состава образца.

Задачи:

1.Изучить литературу по данной теме и раскрыть, на мой взгляд, важные характеристики СЭМ;

2.Отобрать каменный образец и сделать специальную пробоподготовку;

3.Определить качественный элементный состав исследуемого образца методом рентгеноспектрального микроанализа (РСМА) в СЭМ.

История развития сканирующей электронной микроскопии

Сканирующий электронный микроскоп

(В. Зворыкин и другие., 1942 г.)

В 1952 году в К. Оутли вместе с Мак-Маллэном создают первый СЭМ в Кембриджском университете.

В 1960 году Т. Эверхат и Р. Торнли изобрели новый детектор – «детектор Эверхарта-Торнли».

В 1965 году на базе Кембриджского университета был выпушен первый коммерческий сканирующий электронный микроскоп – «Stereoscan».

В последующие годы более 1000 СЭМ были проданы ряду фирм-производителей Японии, США, Великобритании, Франции и др.

Устройство сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)


Общая схема СЭМ

Схема электронной пушки

Взаимодействие электронного пучка с образцом

Область генерации различных типов сигналов в СЭМ

Форма областей взаимодействия падающих электронов с образцом (а – низкий атомный номер, б – высокий атомный номер)

 

В СЭМ для построения изображения используются различные типы сигналов, которые появляются при взаимодействии сфокусированного электронного пучка (зонда) с исследуемым образцом.

Взаимодействие электронного пучка с образцом

Для того чтобы изображение было сформировано в СЭМ, необходимо использовать соответствующий детектор, который преобразует интересующее излучение в электрический сигнал и модулирует интенсивность на рабочем экране для наблюдения и получения фотографии.

Схема детектора Эверхата – Торнли

Практическая часть

Каменный образец

Место отбора каменного материла

(М 1:100 000)

Практическая часть

1)СЭМ TESCAN VEGA;

2)Прозрачно-полированный шлиф, который напылен электропроводным слоем – углеродом. Индивидуальный номер 810461;

3)Напылительная установка Q150T Plus.

1)

2)

3)

Практическая часть

Электронное изображение СЭМ (SEI-вторичные электроны)

Электронное изображение СЭМ (BEC-обратно рассеянные электроны)

Изображение в обратно рассеянных электронах (BEC) и «точка» исследования зерна минерала; масштаб изображения – 0.3 мм.

Энергодисперсионный рентгеновский спектр силикатного минерала

Шлиф

Поле

№ спектра

SiO2

Al2O3

FeO

CaO

Na2O

K20

Сумма

Содержания оксидов, мас.%

810461

1-1

025

99.33

-

0.21

0.35

-

-

99.89

810461

1-2

021

64.01

18.48

0.04

-

-

17.46

99.99

810461

1-3

026

63.39

18.19

0.21

-

0.04

17.38

99.21

Практическая часть

Главная рабочая страница программы «MINAL»



Пример химического состава образца 810461, мас. %

Заключение
  • Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) на сегодняшний день является одним из наиболее современных приборов, который используется в междисциплинарной науке Геологии.
  • Основной принцип работы СЭМ основан на взаимодействии электронного пучка с исследуемым веществом. При помощи специального детектора, через который проходит электронный пучок (зонд), аналитик лаборатории может получить информацию о свойствах исследуемых различных твердых тел.
  • В ходе научно-исследовательской работы мной был отобран образец для изучения и проведена специальная его пробоподготовка.
  • При помощи рентгеноспектрального микроанализа был определен качественный элементный состав исследуемого образца, диагностированный как горная порода – гранит.

Спасибо за внимание!