Файл: Сканирующая зондовая микроскопия диссертация.pdf

Добавлен: 06.02.2019

Просмотров: 15898

Скачиваний: 9

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
background image

406 

 680. M.R.Cassia-Santos, V.C.Sousa, M.M.Oliveira, F.R.Sensato, W.K.Bacelar, J.W.Gomesa, 

E.Longoa, E.R.Leite, J.A.Varela, Recent research developments in SnO

2

-based varis-

tors, Materials Chemistry and Physics 90 (2005) 1-9 

 681. R.Metz, J.Morel, M.Houabes, J.Pansiot, M.Hassanzadeh, High voltage characterization 

of tin oxide varistors, J.Mater.Sci 42 (2007) 10284-10287 

 682. P.R.Bueno, J.A.Varela, E.Longo, SnO

2

, ZnO and related polycrystalline compound 

semiconductors: An overview and review on the voltage-dependent resistance (non-

ohmic) feature, Journal of the European Ceramic Society 28 (2008) 505-529 

 683. S. Zuca, M. Terzi, M. Zaharescu, K. Matiasovsky, Contribution to the study of SnO

2

-

based ceramics. Part II. Effect of various oxide additives on the sintering capacity and 

electrical conductivity of SnO

2

, J. Mater. Sci., 26 (1991) 1673 – 1676. 

 684. J.Thonstad, P.Fellner, G.M.Haarberg, J.Hives, H.Kvande, A.Sterten, Aluminium Elec-

trolysis. Fundamentals of the Hall-Heroult Process, 3rd edition, Aluminium-Verlag, 

Germany, 2001 

 685. Ю.Г.Михалев,  В.А.Блинов,  П.В.Поляков,  О  некоторых  особенностях  электрохи-

мических  поляризационных  измерениях  в  системе  жидкий  металлический  элек-

трод – солевой расплав, Расплавы, № 4 (1991) 8–13 

 686. H.Xiao, J.Thonstad, S.Rolseth, The Solubility of SnO

2

 in NaF-AlF

3

-Al

2

O

3

 Melts, Acta 

Chemica Scandinavica, 49 (1995) 96-102 

 687. J.-H.Yang, J.Thonstad, On the behaviour of tin-containing species in cryolite-alumina 

melts, J.Appl.Electrochem. 27 (1997) 422-427 

 688. L.Issaeva, J,Yang, G.M.Haarberg, J.Thonstad, N.Aalberg, Electrochemical behaviour of 

tin species dissolved in cryolite-alumina melts, Electrochim.Acta 42 (1997) 1011-1018 

 689. B.Scharifker, G.Hills, Theoretical and experimental studies of multiple nucleation, Elec-

trochim.Acta 28 (1983) 879-889 

 690. K.S.Osen, C.Rosenkilde, A.Solheim, E.Skybakmoen, The behaviour of moisture in 

cryolite melts, Light Metals 2009, 395-400 

 691. C.F. Windish Jr., S.C. Marschman, Electrochemical polarization studies on Cu and Cu-

containing cermet anodes for the aluminium industry, Light Metals 1987, R.D. 

Zabreznik ed., Light Metals (1987) 351-355 

 692. P.G. Russell, Activity of anodic oxide films on metal and cermet anodes in cryolite-

alumina melts, J.Appl. Electrochem, 16 (1986) 147-155 

 693. S.Pietrzyk, Electrochemical testing of inert anodes for alu-minium electrolysis, World 

of Metallurgy - ERZMETALL 60 (2007) 255-259 


background image

407 

 694. S.Zuca, A.Popescu, N.Ene, V.Constantin, Studiul anozilor inerti pe baza de SnO

2

 in 

topiturile criolit-alumina, Revista de Chimie 50 (1999) 42-47 

 695. O. Scarlat, M. Susana-Mihaiu, M. Zaharescu, Semiconducting densified SnO

2

-ceramics 

obtained by a novel sintering technique, J. Eur. Ceram. Soc., 22 (2002) 1839-1846 

 696. C.Li, J.Wang, W.Su, H.Chen, W.Wang, D.Zhuang, Investigation of electrical properties 

of SnO

2

•Co

2

O

3

•Sb

2

O

3

 varistor system, Physica B 307 (2001) 1-8 

 697. C.Wang, J.Wang, W.Su, Microstructural Morphology and Electrical Properties of Cop-

per- and Niobium-Doped Tin Dioxide Polycrystalline Varistors, J. Am. Ceram. Soc., 89 

(2006) 2502-2508 

 698. C.Wang, J.Wang, W.Su, G.Zang, P.Qi, Electrical properties of SnO

2

•CuO•Ta

2

O

5

 varis-

tor system, Materials Letters 59 (2005) 201-204 

 699. H.R.Kokabi, J.Provost, G.Desgardin, A new device for electrical resistivity measure-

ments as a function of temperature (86-700K) under controlled atmosphere by the four-

probe method, Rev.Sci.Instrum. 64 (1993) 1549-1553 

 700. M.Rumyantseva, M.Labeau, G.Delabouglise, L.Ryabova, I.Kutsenok, A.Gaskov, Cop-

per and nickel doping effect on interaction of SnO

2

 with H

2

S, J. Mater. Chem., 7 (1997) 

1785-1790 

 701. R.S.Niranjan, K.R.Patil, S.R.Sainkar, J.S.Mulla, High H

2

S-sensitive copper-doped tin 

oxide thin films, Materials Chemistry and Physics 80 (2003) 250-256 

 702. J.Ni, X.Zhao, X.Zheng, J.Zhao, B.Liu, Electrical, structural, photoluminescence and op-

tical properties of p-type conducting, antimony-doped SnO

2

 thin films, Acta Materialia 

57(2009)278-285 

 703. M.M.Bagheri-Mohagheghi, N.Shahtahmasebi, M.R.Alinejad, A.Youssefi, M.Shokooh-

Saremi, Fe-doped SnO

2

 transparent semi-conducting thin films deposited by spray pyro-

lysis technique: Thermoelectric and p-type conductivity properties, Solid State Science 

11(2009)233-239 

 704. S.Ji, Z.He, Y.Song, K.Liu, Z.Ye, Fabrication and characterization of indium-doped p-

type SnO

2

 thin films, J.Cryst.Growth 259(2003)282-285 

 705. Милнс А., Фойхт Д. Гетеропереходы и переходы металл-полупроводник. М.: Мир, 

1975. 432 с. 

 706. Б.И.Шкловский,  А.Л.Эфрос,  Электронные  свойства  сильно  легированных  полу-

проводников. М., Наука, 1979  

 707. S.Mihaiu, O.Scarlat, G.Aldica, M.Zaharescu, Electronic conduction of the Sn

1-x 

Cu

x/3

Sb

2x/3

O

2

 (x ≤ 1/2) rutile type structures, J.Optoelectr. Adv. Mater. 5(2003)913-918 


background image

408 

 708. M.K.Paria, H.S.Maiti, Electrical conductivity and defect structure of polycrystalline tin 

dioxide doped with antimony oxide, J.Mater.Sci. 17(1982)3275-3280 

 709. T.Sahm, A.Gurlo, N.Barsan, U.Weimar, Basics of oxygen and SnO

2

 interaction; work 

function change and conductivity measurements, Sensors and Actuators B 118 (2006) 

78-83 

 710. Encyclopedia of Electrochemistry, Volume 6, Semiconductor Electrodes and Photo-

electrochemistry. Editors: A.J. Bard, M. Stratmann, S. Licht, Wiley-VCH:2002 

 711. V.S.Bagotsky, Fundamentals of Electrochemistry, Second Edition, Wiley, 2006 

 712. J.C.Tranchart, L.Hollan, R.Memming, Localized Avalance Breakdown on GaAs Elec-

trodes in Aqueous Electrolytes, J.Electrochem.Soc. 125 (1978) 1185-1187 

 713. M.S.Castro, C.M.Aldao, Characterization of SnO

2

-Varistors with Different Additives, 

J.Europ.Ceram.Soc. 18(1998)2233-2239 

 714. A.P.Rizzato, C.V.Santilli, S.H.Pulcinelli, D.Stuerga, D.Chaumont, V.Briois, Densifica-

tion of Mn-Doped Tin Oxide Films by Conventional Heating and Microwave Heating 

Treatment, Physica Scripta, 115(2005)291-293 

 715. Г.А.  Цирлина,  Ю.Е.Рогинская,  Г.Г.Постовалова,  Электрохимическое  поведение  

SnO

2

-TiO

2

  оксидных  наноструктур  на  стеклоуглеродных  подложках,  Электрохи-

мия 34(1998) 569-574 

 716. Г.Г.Постовалова,  О.В.Морозова,  Б.Ш.Галямов,  Е.Н.Лубнин,  С.Г.Прутченко, 

Н.В.Козлова, Ю.Е.Рогинская, Наноструктурированные пленки на основе смешан-

ных оксидов олова и титана, Журнал неорганической химии, 43(1998)36-46 

 717. Г.Г.Постовалова,  Ю.Е.Рогинская,  С.А.Завьялов,  Б.Ш.Галямов,  Н.Л.Климасенко, 

Образование областей с высокой проводимостью в наноструктурированных плен-

ках SnO

2

-AO

x

 (A=Ti

4+

, Zr

4+

, Sb

3+

, Sb

5+

)  под  воздействием  УФ-облучения  или  H

2

Неорганические материалы 36(2000)452-463 

 718. Т.Л.Кулова, А.М.Скундин, Ю.Е.Рогинская, Ф.Х.Чибирова, Интеркаляция лития в 

наноструктурированные пленки на основе оксидов олова и титана, Электрохимия, 

40 (2004) 484-492 

 719. M. Pourbaix, Atlas d’Equilibres Electrochemiques, Gauthier-Villars, Paris, 1963. 

 720. M.Metikos-Hukovic, A.Resetic, V.Gvozdic, Behaviour of tin as a valve metal, Electro-

chim.Acta 40(1995)1777-1779 

 721. R.Diaz, S.Joiret, A.Cuesta, I.Diez-Perez, P.Allongue, C.Gutierrez, P.Gorostiza, F.Sanz, 

Electrochemically Grown Tin Oxide Thin Films: In Situ Characterization of Electronic 

Properties and Growth Mechanism, J.Phys.Chem.B 108(2004)8173-8181 


background image

409 

 722. I.A.Courtney, J.R.Dahn, Key Factors Controlling the Reversibility of the Reaction of 

Lithium with SnO

2

 and Sn

2

BPO

6

 Glass, J.Electrochem.Soc. 144(1997)2943-2948 

 723. I.A.Courtney, J.R.Dahn, Electrochemical and In Situ X-Ray Diffraction Studies of the 

Reaction of Lithium with Tin Oxide Composities, J.Electrochem.Soc. 144(1997)2045-

2052 

 724. K. J. Stout, P. J. Sullivan, W. P. Dong, E. Mainsah, N. Luo, T. Mathia, H. Zahouani 

(1994), The development of methods for the characterization of roughness on three di-

mensions. Publication no. EUR 15178 EN of the Commission of the European Commu-

nities, Luxembourg, 

 725. G. Barbato, K. Carneiro, D. Cuppini, J. Garnaes, G. Gori, G. Hughes, C. P. Jensen, J. F. 

Jørgensen, O. Jusko, S. Livi, H. McQuoid, L. Nielsen, G. B. Picotto, G. Wilkening  

Scanning tunnelling microscopy methods for roughness and micro hardness measure-

ments, Synthesis report for research contract with the European Union under its pro-

gramme for applied metrology, European Commission Catalogue number: CD-NA-

16145 EN-C, Brussels Luxenburg (1995). 

 726. M.Aguilar, A.I.Oliva, E.Anguiano, Imaging in scanning tunneling microscopy and its 

relationship with surface roughness, Europhys.Lett. 46(1999)442-447 

 727. M.Aguilar, A.I.Oliva, E.Anguiano, The importance of imaging conditions in scanning 

tunneling microscopy for the determination of surface  texture and roughness, Surf.Sci. 

420(1999)275-284 

 728. V.Lakshminarayanan, R.Srinivasan, D.Chu, S.Gilman, Area determination in fractal 

surfaces of Pt and Pt-Ru electrodes, Surface Science 392(1997)44-51 

 729. H.M.Saffarian, R.Srinivasan, D.Chu, S.Gilman, Area determination in fractal surfaces 

of Pt and Pt-Ru catalysts for methanol oxidation, Electrochimica Acta 44 (1998) 1447-

1454 

 730. P.Klapetek, I.Ohlidal, J.Bilek, Influence of the atomic force microscope tip on the mul-

tifractal analysis of rough surfaces, Ultamicroscopy 102(2004)51-59 

 731. J.B.da Silva Jr., E.A.de Vasconcelos, B.E.C.A.dos Santos, J.A.K.Freire, V.N.Freire, 

G.A.Farias, E.F.da Silva Jr., Statistical analysis of topographic images of nanoporous 

silicon and model surfaces, Microelectronics Journal, 36(2005)1011-1015 

 732. P.Falaras, A.P.Xagas, Roughness and fractality of nanostructured TiO

2

 films prepared 

via sol-gel technique, J.Mater.Sci. 37(2002)3855-3860 

 733. M.Khaneghie, A.Zendehnam, M.Mirzaei, Statistical characteristics of fluctuation of 

heights, surface roughness and fractal properties of Cu thin films, J.Phys.:Conf.Ser. 

61(2007)529-533 


background image

410 

 734. M.C.Lafouresse, P.J.Heard, W.Schwarzacher, Surface roughness analysis of electro-

plated Cu, Electrochim.Acta 53(2007)229-232 

 735. A. Harriman, G. R. Millward, P. Neta, M. C. Richoux, J. M. Thomas, Interfacial elec-

tron-transfer reactions between platinum colloids and reducing radicals in aqueous solu-

tion, J. Phys. Chem., 92(1988)1286-1290 

 736. D.N.Furlong, A.Launikonis, W.H.F.Sasse, J.V.Sanders, Colloidal platinum sols. Prepa-

ration, characterization and stability towards salt, J. Chem. Soc., Faraday Trans. 

80(1984) 571-588 

 737. K.A.Friedrich, F.Henglein, U.Stimming, W.Unkauf, Investigation of Pt particles on 

gold substrates by IR spectroscopy. Particle structure and catalytic activity, Colloids and 

Surfaces A 134(1998)193-206 

 738. K.A.Friedrich, F.Henglein, U.Stimming, W.Unkauf, Size dependence of the CO 

monolayer oxidation on nanosized Pt particles supported on gold, Electrochim.Acta 

45(2000)3283-3293 

 739. Sh. K. Shaikhutdinov, F. A. Möller, G. Mestl, R. J. Behm, Electrochemical Deposition 

of Platinum Hydrosol on Graphite Observed by Scanning Tunneling Microscopy, Jour-

nal of Catalysis, 163(1996)492-495 

 740. E. Rach, J. Heitbaum, Electrochemically induced surface modifications of Pt-Au alloy, 

Electrochimica Acta, 32(1987)1173-1180 

 741. L.M. Plyasova, I.Yu. Molina, A.N. Gavrilov, S.V. Cherepanova, O.V. Cherstiouk, N.A. 

Rudina, E.R. Savinova, G.A. Tsirlina, Electrodeposited platinum revisited: Tuning 

nanostructure via the deposition potential, Electrochimica Acta (2006) 51, 4477-4488 

 

742. 

O.V.Cherstiouk, A.N.Gavrilov, L.M.Plyasova, I.Yu.Molina, G.A.Tsirlina, 

E.R.Savinova, Influence of structural defects on the electrocatalytic activity of platinum, 

J.Solid State Electrochem 12(2008)497-509 

 743. Л.М.Плясова,  И.Ю.Молина,  С.В.Черепанова,  Н.  А.  Рудина,  Е.Р.Савинова, 

С.Н.Пронькин, Г.А Цирлина, Рентгеновская дифрактометрия и микроскопия дис-

персных электролитических осадков платины и палладия субмикронных толщин 

на поликристаллических подложках, Электрохимия 38(2002)1236-1252 

 744. P. G. Allen, S. D. Conradson, M. S. Wilson, S. Gottesfeld, I. D. Raistrick, J. Valerio, M. 

Lovato, In situ structural characterization of a platinum electrocatalyst by dispersive x-

ray absorption spectroscopy, Electrochim. Acta, 39(1994)2415-2418 

 745. Y. Takasu, N. Ohashi, X. -G. Zhang, Y. Murakami, H. Minagawa, S. Sato, K. Yahiko-

zawa, Size effects of platinum particles on the electroreduction of oxygen, Electrochim. 

Acta, 41(1996)2595-2600