Файл: Исследование математической модели распознавания функциональных ячеек интегральных микросхем.docx
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 25.10.2023
Просмотров: 89
Скачиваний: 2
ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
СОДЕРЖАНИЕ
1 Наукометрические показатели исследуемой статьи
3 Лексико-грамматический анализ текста статьи
4 Стилистический анализ текста
5 Системный анализ ситуации, описанной в тексте статьи
6 Анализ системы, описанной в статье
7 Анализ процессов, протекающих в технических системах, которые описаны в статье
8 Требования, предъявляемые к техническим системам, описанным в статье
a к меньшей b должно стремиться к единице. Экспериментальным путем установлено следующее ограничение: 
. Все элементы, не удовлетворяющие данному условию, удаляются с изображения 
» [1, стр. 18п].
«Преобразование Хафа. Окружность заданного радиуса R рассматривается как трехпарматерическое семейство кривых
где 
– координаты центра. Преобразование Хафа над границами контактов C'', выделенных с помощью оператора Собеля [8], предполагает построение аккумуляторной функции для каждого пикселя множества C''. В результате такого построения, если граница является частью окружности, аккумулятор формирует локальные максимумы на месте центров предполагаемых окружностей» [1, стр. 18п].
«Приведение к компактному виду. В результате этого преобразования объектам множества C'', являющимся окружностями, ставится в соответствие два параметра – координаты центра
и радиус Ri. Для контактов БМК характерно расположение в узлах воображаемой квадратной решетки с расстоянием между центрами смежных контактов r, 
, где λ – топологическая норма конкретной ИС. В таком случае все контакты ИС могут быть представлены в виде двоичной матрицы 
, где 1 соответствует наличию контакта, а 0 – отсутствию» [1, стр. 19л].
«Вторым этапом решения задачи распознавания является обнаружение и классификация объектов ЦИ. Поскольку априорная неопределенность о множестве типов объектов, присутствующих на ЦИ, отсутствует, а форма компактного представления известна, то возможно сформировать классы объектов в виде битовых последовательностей
– построчных разверток матриц, являющихся отображениями пространственного расположения контактов, где – множество классов распознавания» [1, стр. 19п].
«В таком случае процесс распознавания сводится к обработке скользящим окном L, соответствующим каждому классу , ЦИ – D, приведенному к виду
и сравнения выделенного окном фрагмента с классом распознавания на основе выбранной меры» [1, стр. 19п].
«Результаты проведенного имитационного моделирования подтвердили предположение о том, что расстояние Хемминга эффективно классифицирует двоичные последовательности независимо от их длины. Однако в случаях, когда расстояние Хемминга до двух классов равно или незначительно отличается, можно использовать дополнительную меру, повышающую вероятность правильного распознавания» [1, стр. 20л].
Так же могу предположить, что автор имел в виду то, что Результаты проведенного имитационного моделирования подтвердили предположение о том, что расстояние Хемминга эффективно классифицирует двоичные последовательности независимо от их длины. А также разработанный алгоритм позволяет повысить эффективность распознавания по сравнению с известными на 4,5%.
Статья «Алгоритм распознавания функциональных ячеек топологий интегральных микросхем на базовом матричном кристалле» издана в первом номере ежемесячного журнала «Промышленные АСУ и контроллеры» за 2019 соответствует требованиям к оформлению статей, приведенным на официальном сайте журнала.
Анализируемый текст удовлетворяет требования научного жанра, предложения статьи связаны между собой тема-рематической связью, отступление от стилистических норм небольшое.
Автор предлагает алгоритм распознавания функциональных ячеек топологии интегральной микросхемы процесс, протекающий в системе. Также в статье содержится подробное описание алгоритма с приведенными графиками и рисунками.
Построенная математическая модель распознавания функциональных ячеек интегральных микросхем позволяет выявлять поддельные микроэлектронные компоненты, а также повышает эффективность распознавания по сравнению с известными на 4,5 %.
Считаю, что данная математическая модель распознавания функциональных ячеек интегральных микросхем применима на практике.
. Все элементы, не удовлетворяющие данному условию, удаляются с изображения » [1, стр. 18п].«Преобразование Хафа. Окружность заданного радиуса R рассматривается как трехпарматерическое семейство кривых
где – координаты центра. Преобразование Хафа над границами контактов C'', выделенных с помощью оператора Собеля [8], предполагает построение аккумуляторной функции для каждого пикселя множества C''. В результате такого построения, если граница является частью окружности, аккумулятор формирует локальные максимумы на месте центров предполагаемых окружностей» [1, стр. 18п].«Приведение к компактному виду. В результате этого преобразования объектам множества C'', являющимся окружностями, ставится в соответствие два параметра – координаты центра
и радиус Ri. Для контактов БМК характерно расположение в узлах воображаемой квадратной решетки с расстоянием между центрами смежных контактов r, , где λ – топологическая норма конкретной ИС. В таком случае все контакты ИС могут быть представлены в виде двоичной матрицы , где 1 соответствует наличию контакта, а 0 – отсутствию» [1, стр. 19л].«Вторым этапом решения задачи распознавания является обнаружение и классификация объектов ЦИ. Поскольку априорная неопределенность о множестве типов объектов, присутствующих на ЦИ, отсутствует, а форма компактного представления известна, то возможно сформировать классы объектов в виде битовых последовательностей
– построчных разверток матриц, являющихся отображениями пространственного расположения контактов, где – множество классов распознавания» [1, стр. 19п].«В таком случае процесс распознавания сводится к обработке скользящим окном L, соответствующим каждому классу , ЦИ – D, приведенному к виду
и сравнения выделенного окном фрагмента с классом распознавания на основе выбранной меры» [1, стр. 19п].
«Результаты проведенного имитационного моделирования подтвердили предположение о том, что расстояние Хемминга эффективно классифицирует двоичные последовательности независимо от их длины. Однако в случаях, когда расстояние Хемминга до двух классов равно или незначительно отличается, можно использовать дополнительную меру, повышающую вероятность правильного распознавания» [1, стр. 20л].
Так же могу предположить, что автор имел в виду то, что Результаты проведенного имитационного моделирования подтвердили предположение о том, что расстояние Хемминга эффективно классифицирует двоичные последовательности независимо от их длины. А также разработанный алгоритм позволяет повысить эффективность распознавания по сравнению с известными на 4,5%.
Заключение
Статья «Алгоритм распознавания функциональных ячеек топологий интегральных микросхем на базовом матричном кристалле» издана в первом номере ежемесячного журнала «Промышленные АСУ и контроллеры» за 2019 соответствует требованиям к оформлению статей, приведенным на официальном сайте журнала.
Анализируемый текст удовлетворяет требования научного жанра, предложения статьи связаны между собой тема-рематической связью, отступление от стилистических норм небольшое.
Автор предлагает алгоритм распознавания функциональных ячеек топологии интегральной микросхемы процесс, протекающий в системе. Также в статье содержится подробное описание алгоритма с приведенными графиками и рисунками.
Построенная математическая модель распознавания функциональных ячеек интегральных микросхем позволяет выявлять поддельные микроэлектронные компоненты, а также повышает эффективность распознавания по сравнению с известными на 4,5 %.
Считаю, что данная математическая модель распознавания функциональных ячеек интегральных микросхем применима на практике.
Перечень использованных источников
-
Конышев, М.Ю. Алгоритм распознавания функциональных ячеек топологий интегральных микросхем на базовом матричном кристалле [Текст] / М.Ю. Конышев, А.В. Панкратов, И.М. Булаев. // Промышленные АСУ и контроллеры. – 2019. – № 1 – с. 15 – 22. -
Толстой, Л.Н. Война и мир: Роман в четырех книгах. Том 3 [Текст] / Л.Н. Толстой. – М.: Прос вещение, 1981. – 318 с.