Файл: Лабораторная работа 3 (Симулятор ПЛК Omron ZEN-10C1AR-A).pdf

21 

5.7 Виды соединений 

Нормально  разомкнутый  контакт  (рис.  26).  Состояние  входа  I1  будет 

присваиваться выходу Q1. Выход Q1 будет активным, если вход I1 будет в логическом 

положении 1. 

Рисунок 26 – Нормально разомкнутый контакт (N.O) 

Нормально замкнутый контакт (рис. 27). Отрицательное состояние входа I1 будет 

присваиваться выходу Q1. Выход Q1 будет активным, если вход I1 будет в логическом 

положении 0. 

Рисунок 27 – Нормально замкнутый контакт (N.C.) 

Последовательное  соединение  (рис.  28).  Выход  Q2  будет  активным,  если  оба 

входы I1 и I2 будут в логическом положении 1. 

Рисунок 28 – Последовательное соединение 

Параллельное соединение (рис. 29). Выход Q3 будет активным, если хотя бы один 

из входов I1, I2 будет в логическом положении 1. 

22 

Рисунок 29 – Параллельное соединение 

Все  цепи  лад  программ  состоят  из  комбинации  приведённых  выше  соединений. 

Ниже  будут  приведены  примеры  программ,  использованные  для  тестирования 

приложения. 

23 

6 Структура LAD-программ 

Симулятор  может  выполнить  до  девяноста  шести  строк  LAD-программы  за  один 

цикл  с  первой  строки  по  последнюю.  Изменяемое  в  цикле  состояние  бита  будет 

использоваться только после начала следующего цикла. 

Структура цепи LAD: 

  каждая  линия  цепи  может  иметь  до  четырёх  логических  элементов, 

соединённых последовательно (три входа, один выход); 

  цепь может иметь не более шестнадцати входных элементов; 
  каждая цепь может иметь до 16 параллельных линий; 
  используйте один адрес выходного бита только для одного вывода в программе, 

адрес будет корректен для первого встретившегося в программе выхода; 

  не  создавайте  программы,  в  которых  соединительная  линия  дважды  меняет 

направление соединения (рис. 30). 

Рисунок 30 – Пример некорректного ввода программы 

24 

7 Варианты заданий 

Напишите программы на языке релейных схем (Ladder Diagram, LD) в симуляторе, 

согласно  своему  варианту,  и  подтвердите  (или  опровергните)  правильность  их  работы 

результатами тестов. 

7.1 Вариант 1 

А)  Проверка  включения  нормально  разомкнутого  контакта.  Схема  состоит  из 

нормально  разомкнутого  входа  I0  и  выхода  Q0.  При  подаче  сигнала  на  вход  выход 

должен становиться активным. В таблице 1 приведены результаты теста. 

Таблица 1 – Результаты первого теста 

Входной набор 1 

Входной набор 2 

Входы 

Выходы 

Входы 

Выходы 

Ожидаемое   Полученное 

Ожидаемое   Полученное 

I0 

1 

Q0 

1 

Q0 

1 

I0 

0 

Q0 

0 

Q0 

0 

Б)  Проверка  смешанного  подключения.  Схема  состоит  из  последовательно 

соединенных  элементов  I1  с  параллельно  соединенными  элементами  I2,  I3  и  далее 

последовательно I4. Q3=1, если I1 и I4 является активным и один из входов I2, I3 (или 

оба)  является  неактивным.  Результаты  запуска  программы  с  одним  активным  входом 

параллельного звена и обоими активными входами параллельного звена представлены на 

рисунках 31 и 32 соответственно. Результаты обоих тестов представлены в таблице 2. 

Таблица 2 – Результаты восьмого теста 

Входной набор 1 

Входной набор 2 

Входы 

Выходы 

Входы 

Выходы 

Ожидаемое   Полученное 

Ожидаемое   Полученное 

I1 

1 

Q2 

1 

Q2 

1 

I1 

1 

Q2 

0 

Q2 

0 

I2 

0 

I2 

1 

I3 

1 

I3 

1 

I4 

1 

I4 

1 

25 

Рисунок 31 – Один из параллельных элементов неактивен 

Рисунок 32 – Активны оба параллельных элемента 

7.2 Вариант 2 

А)  Проверка  включения  нормально  замкнутого  контакта.  Схема  состоит  из 

нормально замкнутого  входа  I0 и выхода  Q0. Выход  Q0 будет активным если  I0 будет