Файл: Методические указания по выполнению курсовой работы Новосибирск 2022 удк 621. 383. 82.docx

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 05.12.2023

Просмотров: 51

Скачиваний: 1

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

СОДЕРЖАНИЕ

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет телекоммуникацийи информатики» (СибГУТИ)Савиных В.Л.РАЗРАБОТКА ИНТЕГРАЛЬНОГО УСИЛИТЕЛЯ Методические указанияпо выполнению курсовой работыНовосибирск2022УДК 621.383.82 Утверждено редакционно-издательским советом СибГУТИРецензент канд. техн. наук, доц. Савиных В.Л. Разработка интегрального усилителя: методические указания / Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики; каф. Технической электроники. - Новосибирск, 2022. – 30 с.Приведены методические указания к выполнению курсовой работы на тему Разработка интегрального усилителя. В указаниях приводится структурная и принципиальная схемы проектируемого устройства и их описание. Приведена методика выбора элементной базы и рассмотрены особенности электрического расчета усилителя на полевых и биполярных транзисторах. Ил. …, табл. …, список лит. - … назв.Рецензент ктн доц.Для направлений Утверждено редакционно-издательским советом СибГУТИ в качестве практикума© Савиных А.Л., 2022© Сибирский государственный университеттелекоммуникаций и информатики, 2022Оглавление

Расчет амплитудно-частотной характеристики усилителя

Рекомендации по составлению топологии ГИМС Общими принципами составления топологического чертежа являются минимизация длины межэлементных соединений; минимизация площади, занимаемой элементами; равномерное расположение элементов на площади подложки; сигнальные вход и выход разносятся на максимальное расстояние.Далее указывают материал подложки, размещают выбранные и рассчитанные элементы на поле подложки и составляют чертеж топологии ИМС в масштабе 10:1 или 20:1 на миллиметровой бумаге.При составлении эскиза топологии необходимо учитывать следующие основные ограничения, накладываемые тонкопленочной технологией:- навесные элементы (компоненты) устанавливаются в специально отведенные места на расстоянии не менее 500 мкм (0,5 мм) от пленочных элементов и не менее 600 мкм от контактной площадки; - минимальное расстояние между навесными элементами 300 мкм; - длина проволочных выводов навесных элементов должна находиться в пределах от 600 мкм до 5 мм; - минимально допустимое расстояние между пленочными элементами (и в том числе и контактными площадками) 200 мкм;- минимальная длина резистора Lmin не менее 500 мкм;- минимальная ширина пленочных резисторов bmin не менее 200 мкм при масочном методе, не менее 100 мкм при фотолитографии;- нижняя обкладка пленочных конденсаторов должна выступать за край верхней обкладки не менее чем на 200 мкм; диэлектрик должен выступать за край нижней обкладки не менее чем на 100 мкм;- минимально допустимая ширина пленочных проводников 100 мкм при масочном методе, 50 мкм при фотолитографии;- минимально допустимые размеры контактных площадок при припайке 400×400 мкм, при приварке 200×250 мкм;- пассивные и активные элементы располагаются на расстоянии не менее 1 мм от края подложки;- входные и выходные контакты располагаются вдоль длинных сторон подложки на расстоянии не менее 1 мм от края;В конце раздела приводят краткое описание технологического процесса изготовления пленочных элементов и этапов изготовления ГИМС.В заключении провести моделирование в среде EWB и скорректировать элементы для получения исходных данных. Результаты привести в таблице 11. В результате корректировки изменены следующие элементы:R1= …, R2=…, R3=…, R4=…, C1=…, C2=…, C3=…, C4=…Таблица 11 - Результаты расчетов и моделирования

Список рекомендуемой литературы

Приложение Д

Рекомендации по составлению топологии ГИМС



Общими принципами составления топологического чертежа являются минимизация длины межэлементных соединений; минимизация площади, занимаемой элементами; равномерное расположение элементов на площади подложки; сигнальные вход и выход разносятся на максимальное расстояние.

Далее указывают материал подложки, размещают выбранные и рассчитанные элементы на поле подложки и составляют чертеж топологии ИМС в масштабе 10:1 или 20:1 на миллиметровой бумаге.

При составлении эскиза топологии необходимо учитывать следующие основные ограничения, накладываемые тонкопленочной технологией:

- навесные элементы (компоненты) устанавливаются в специально отведенные места на расстоянии не менее 500 мкм (0,5 мм) от пленочных элементов и не менее 600 мкм от контактной площадки;

- минимальное расстояние между навесными элементами 300 мкм;

- длина проволочных выводов навесных элементов должна находиться в пределах от 600 мкм до 5 мм;

- минимально допустимое расстояние между пленочными элементами (и в том числе и контактными площадками) 200 мкм;

- минимальная длина резистора Lmin не менее 500 мкм;

- минимальная ширина пленочных резисторов bmin не менее 200 мкм при масочном методе, не менее 100 мкм при фотолитографии;

- нижняя обкладка пленочных конденсаторов должна выступать за край верхней обкладки не менее чем на 200 мкм; диэлектрик должен выступать за край нижней обкладки не менее чем на 100 мкм;

- минимально допустимая ширина пленочных проводников 100 мкм при масочном методе, 50 мкм при фотолитографии;

- минимально допустимые размеры контактных площадок при припайке 400×400 мкм, при приварке 200×250 мкм;

- пассивные и активные элементы располагаются на расстоянии не менее 1 мм от края подложки;

- входные и выходные контакты располагаются вдоль длинных сторон подложки на расстоянии не менее 1 мм от края;

В конце раздела приводят краткое описание технологического процесса изготовления пленочных элементов и этапов изготовления ГИМС.
В заключении провести моделирование в среде EWB и скорректировать элементы для получения исходных данных. Результаты привести в таблице 11.

В результате корректировки изменены следующие элементы:

R1= …, R2=…, R3=…, R4=…, C1=…, C2=…, C3=…, C4=…
Таблица 11 - Результаты расчетов и моделирования


Парам


Задано

EWB до

коректтировки

EWB после

коректтировки

КU










МН, дБ










МВ, дБ












Сделать выводы по результатам проектирования.
Приложение А

Варианты даны конкретно для каждой группы.
Приложение Б. Параметры и характеристики бескорпусных транзисторов
Таблица Б1- Биполярные транзисторы структуры n-p-n

Тип БТ

n-p-n

РК max,

мВт

UКЭ max,

В

h21Э

| Н21Э|

f,

МГц

Размер,

мм

КТ307А

15

10

20

5

50

0,7х0,7

КТ307Б

15

10

35

5

60

0,7х0,7

КТ307В

15

15

60

5

65

0,7х0,7

КТ307Г

15

15

80

5

70

0,7х0,7

КТ331А

30

15

35

5

65

1х1

КТ331Б

30

15

60

5

65

1х1

КТ331В

30

15

100

5

70

1х1

КТ359А

50

15

60

5

65

1,2х1,2

КТ359Б

50

15

100

5

70

1,2х1,2

КТ359В

50

15

160

5

70

1,2х1,2

КТ369А

100

45

90

5

70

1,5х1,5

КТ369Б

100

45

190

5

70

1,5х1,5

КТ384А

300

30

75

5

70

2х2



Таблица Б2 - Полевые транзисторы с управляющим p-n переходом и каналом n-типа

Тип ПТ


РСmax,

мВт

UСИ max,

В

UЗИ0,

В

S0,

мА/В

f S,

МГц

Размер,

мм

КП 202 D-1

60

12

-1,2

2

450

1,2х1,2

КП 202 Е-1

60

12

-2

2,1

400

''

КП 308 А

60

15

-0,8

2

500

1,2х1,2

КП 308 В

60

15

-1

2,5

350

''

КП 308V

60

20

-1,4

4

250

''

КП 308 G

60

20

-3

3,1

250

''

КП 308 D

60

20

-1,2

2

250

''



Приложение В. Определение h-параметров БТ и параметров ПТ

Собрать схему, изображенную на рисунке Б 1.



Рисунок В 1 -Принципиальная схема определения параметров биполярного транзистора на переменном токе
Величина коллекторного напряжения V1 устанавливается равной UКЭ=0,5·UП,

Источник постоянного тока I1 задаёт параметры рабочей точки IБ0, напряжение на базе UБЭ0 и ток коллектора IК0, которые определяются вольтметром pV1 и амперметром pA1 в режиме измерения по постоянному току DC. Подобрать IБ0 такой величины, чтобы ток коллектора равнялся IК0, вычисленный по формуле (2).

Источник переменного тока I2 задаёт IБ. Его величина выбирается в 5-10 раз меньше тока I1. Соответствующие напряжение на базе UБЭ и ток коллектора IК
определяются вольтметром pV1 и амперметром pA1 в режиме измерения по переменному току АC. Затем рассчитывают параметры

h11Э= UБЭ /IБ и h21Э=IК/IБ.
Для определения параметров ПТ собрать схему, изображенную на рисунке Б 2.



Рисунок В 2 -Принципиальная схема определения параметров полевого транзистора
Источник постоянного напряжения V1 задаёт напряжение рабочей точки UЗИ. Источник напряжения V2 устанавливаем равный расчетному по формуле (14). При напряжении UЗИ=0 определяем соответственно ток стока IС0, который измеряется амперметром pA1 в режиме измерения по постоянному току DC. Увеличивая напряжение UЗИ до значения тока стока IС = 10±2 мкА определяем напряжение отсечки UЗИ0. Затем рассчитывают параметры в рабочей точке UЗИ, IС, S (формулы 15-18).
Приложение Г. Параметры навесных пассивных элементов:

резисторы и конденсаторы

Р1–12 1 Ом ÷ 10 МОм L =1,6÷6 мм

Ряд Е24 В = 0,8÷ 5мм



К10 – 17 2,2 пФ ÷ 2,2 мкФ

L = 1,3 ÷ 8,6 мм В = 1,5 ÷ 1,2 мм



К53–16 1÷330 мкФ L = 7,5÷ 13 мм

U = 6,3÷ 3 В В = 3,6 ÷5,6 мм




К53 – 56 0,1÷ 100 мкФ

L = 3,2 ÷ 7,1 мм В = 1,6÷ 4,5 мм




К53 – 65 0,1÷ 470 мкФ

L = 3,2 ÷ 7,3 мм В = 1,6÷ 4,3 мм









Список рекомендуемой литературы



1. Игнатов А.Н. Основы электроники: учебное пособие / А.Н. Игнатов, В.Л. Савиных, Н.Е Фадеева. – Москва; Вологда: Инфа – Инженерия, 2022.

2 Игнатов, Н.Е. Фадеева, В.Л. Савиных. Классическая электроника и наноэлектроника, -М.: Флинта: Наука, 2009.

2. Цыкина А.В. Проектирование транзисторных усилителей. – М.: Связь,1976

3. Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. – М.: Радио и связь, 1980

4. Ефимов И.Е., Козырь И.Я. Основы микроэлектроники. – М.: Радио и связь,1983

5. Транзисторы для аппаратуры широкого применения. Под ред. Перельмана Б.Л. – М.: Радио и связь, 1981

7. Справочная книга радиолюбителя конструктора под ред. Чистякова Н.И. кн.2 – М.: Радио и связь, 1993

8. Технический каталог. Полевые транзисторы и интегральные микросхемы. – Электроника, 1975

9. Малышева И.А. Технология производства интегральных микросхем. – М.: Радио и связь, 1991

10. Ефимов И.Е., Козырь И.Я., Горбунов Ю.И. Микроэлектроника. – М.: Высшая школа, 1986

Приложение Д



Таблица П.8 – Перевода М (дб) в относительные значения

М (дб)

М

М (дб)

М

М (дБ)

М

0

1,0000

1,3

1,161

3,6

1,514

0,005

1,0006

1,4

1,175

3,7

1,531

0,01

1,0012

1,5

1,189

3,8

1,549

0,02

1,0023

1,6

1,202

3,9

1,567

0,03

1,0035

1,7

1,216

4,0

1,585

0,04

1,0046

1,8

1,230

4,1

1,603

0,05

1,0058

1,9

1,245

4,2

1,622

0,06

1,0069

2,0

1,259

4,3

1,641

0,07

1,0081

2,1

1,274

4,4

1,660

0,08

1,0093

2,2

1,288

4,5

1,679

0,09

1,0104

2,3

1,303

4,6

1,698

0,1

1,012

2,4

1,318

4,7

1,718

0,2

1,023

2,5

1,334

4,8

1,738

0,3

1,035

2,6

1,349

4,9

1,758

0,4

1,047

2,7

1,365

5,0

1,778

0,5

1,059

2,8

1,380

5,1

1,799

0,6

1,072

2,9

1,396

5,2

1,820

0,7

1,084

3,0

1,413

5,3

1,841

0,8

1,096

3,1

1,429

5,4

1,862

0,9

1,109

3,2

1,445

5,5

1,884

1,0

1,112

3,3

1,462

5,6

1,905

1,1

1,135

3,4

1,479

5,7

1,928

1,2

1,148

3,5

1,496

5,8

1,950













5,9

1,972