Файл: Электроника Ицкович Часть 1.pdf

Добавлен: 23.10.2018

Просмотров: 11020

Скачиваний: 27

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
background image

 

31

 

 

ϕ

       

ϕ

n

 

P

 

P

n

(ϕ

1    0,5 

 

Запрещенная 

зона 

Валентная зона 

Зона проводимости 

ϕ

F

n

(ϕ

T

P

p

(ϕ

 

Рис. 1.10 — Плотность уровней энергии, функция вероятности 

и концентрации носителей в примесном  полупроводнике n типа 

 

 

ϕ

       

ϕ

n

 

P

 

P

n

(ϕ

Запрещенная 

зона 

Валентная зона 

Зона 

проводимости 

1   0,5 

 

ϕ

F

p

(ϕ

T

P

p

(ϕ

P

p

(ϕ

 

 

Рис. 1.11 — Плотность уровней энергии, функция вероятности  

и концентрации носителей в примесном полупроводнике p типа 

 
В  общем,  виде  условие  нейтральности  для  единичного 

объема можно записать в виде 

(

)

*

*

0,

Д

а

p

N

n

N

+

+

=                           (1.19а) 

где 

*

Д

    и 

*

а

 — концентрации  ионизированных  доноров  и  ак-

цепторов.  Уравнение (1–19а)  говорит  о  том,  что  концентрация 
частиц, несущих положительный заряд (дырки и ионизированные 
доноры),  равна  концентрации  электронов  и  ионизированных  ак-
цепторов. 

Для электронных полупроводников, не содержащих акцепторов, 


background image

 

32

 

*

.

д

n

N

p

=

+                                   (1.19б) 

Для дырочных полупроводников, не содержащих доноров, 

*

.

a

p

N

n

=

+                                   (1.19в) 

Перейдем  непосредственно  к  оценке  концентраций  свобод-

ных  носителей  в  разных  типах  полупроводников.  Рассмотрим 
сначала электронные полупроводники. В типичном электронном 
полупроводнике выполняется неравенство  n > р. Кроме того, бу-
дем считать, что в рабочем диапазоне температур донорные ато-
мы практически полностью ионизированы, т.е. 

*

Д

Д

N

N

=

. Допус-

тим, что собственной концентрацией электронов в силу того, что 
их  концентрация  много  меньше  примесных,  можно  пренебречь. 
Тогда  из  соотношения (1.19б)  получаем  концентрацию  свобод-
ных электронов 

 

.

Д

n

N

=

                                    (1.20а) 

Как видим из 1.20а, концентрация электронов определяется 

концентрацией примеси и, следовательно, не зависит от темпера-
туры.  С  помощью (1.16) легко  получаем  концентрацию  свобод-
ных  дырок,  неосновных  носителей,  которая  зависит  от  темпера-
туры  в  силу  сильной  зависимости  от  температуры  собственной 
концентрации электронов (дырок). 

2

.

i

Д

n

p

N

=

                                     (1.20б) 

Наконец,  из (1.18а)  или (1.13а)  находим  уровень  Ферми  в 

типичном электронном полупроводнике: 

ln

ln

.

Д

Д

F

E

T

C

T

i

C

N

N

n

N

ϕ = ϕ + ϕ

= ϕ + ϕ

         (1.20в) 

Выражение (1.20в)  позволяет  сделать  вывод,  что  уровень 

Ферми лежит тем выше, чем больше концентрация доноров и чем 
ниже  температура.  Вывод  можно  считать  справедливым  до  тех 
пор,  пока  снижение  температуры  не  приводит  к  уменьшению 
числа ионизированных доноров, т.к. при 

0

0

T

K

=

 уровень Ферми 

равен 

F

E

ϕ = ϕ . Увеличение температуры приводит к росту собст-

венной концентрации носителей, которая становится сравнимой с 
концентрацией  примесей,  затем  и  превышает  её.  Проводимость 
становится  преимущественно  собственной.  С  изменением  типа 


background image

 

33

 

проводимости  значительно  изменяются  свойства  полупроводни-
ковых материалов и приборов, выполненных  на их основе. Тем-
пература, при которой проводимость становится преимуществен-
но собственной, определяет допустимую температуру работы по-
лупроводникового прибора. 

Необходимо  помнить,  что  выражение (1.20в)  получено  при 

допущении 

Д

i

N

n

>> . 

Зависимость от температуры обусловлена в основном 

T

ϕ , т.к. 

отношение  концентрации  доноров  к  эффективной  плотности  со-
стояний остается практически постоянное. Простые формулы (1.20) 
широко  используются  на  практике.  Однако  следует  иметь  в  виду, 
что они действительны в ограниченном температурном диапазоне: 
с понижением  температуры степень ионизации доноров уменьша-
ется и принятое равенство 

*

Д

Д

N

N

=

 становится менее строгим. 

Случай дырочного полупроводника, в котором р>n, нет не-

обходимости рассматривать столь же подробно. Главные особен-
ности акцепторной примеси видны из рис. 1.11. Если акцепторы 
полностью  ионизированы  и  температура  ниже  критической,  то 
вместо  формул (1.20) получаем  аналогичные  соотношения,  ха-
рактерные для ярко выраженного дырочного полупроводника: 

;

a

p

N

=

                                                               (1.21а) 

2

;

i

a

n

n

N

=

                                                          (1.21б) 

ln

ln

.

a

a

F

E

T

V

T

i

V

N

N

n

N

ϕ = ϕ − ϕ

= ϕ − ϕ

                (1.21в) 

Весь предыдущий анализ и зонные диаграммы соответство-

вали однородным полупроводникам, в которых примеси распре-
делены равномерно. Разумеется, однородный полупроводник яв-
ляется  некоторой  идеализацией.  Более  того,  часто  специально 
создают неоднородность внутри кристалла в виде градиента кон-
центрации примесей, что придает полупроводнику новые свойст-
ва, необходимые для работы ряда приборов. Посмотрим, каковы 
особенности  неоднородных  полупроводников.  Пусть,  например, 
в  полупроводнике  типа    концентрация  доноров  изменяется  от 

1

Д

N

 до 

2

1

Д

Д

N

N

<

.  


background image

 

34

 

Поскольку  в  равновесной  системе  уровень  Ферми  во 

всех  ее  частях  одинаков,  зонная  диаграмма  должна  иметь 
вид, как показано на рис. 1.12, а
. Учитывая, что концентрация 
доноров,  а  следовательно,  и  концентрация  электронов  слева  вы-
ше,  уровень  Ферми  у  левой  границе  полупроводника  должен 
быть  ближе  к  «дну»  зоны  проводимости.  Это  возможно  только 
при искривлении зон, как показано на рис. 1.12, а. Электростати-
ческий  потенциал 

Е

ϕ   вдоль  неоднородного  полупроводника  ме-

няется,  т.к.  по  определению  это  потенциал  середины  запрещен-
ной  зоны.  Следовательно,  в  неоднородных  полупроводниках 
имеются  внутренние  электрические  поля,  в  которых  возможен 
дрейф носителей. Однако в отсутствие внешнего поля дрейфовые 
потоки носителей равны противоположно направленным диффу-
зионным  потокам,  которые  обусловлены  градиентом  концентра-
ции  тех же носителей. Поэтому результирующий поток отсутст-
вует и соблюдается больцмановское равновесие.  

 

N

д2 

N

д1 

>

 

N

д 

N

д 

ϕ

F2 

ϕ

F1 

ϕ

E1 

ϕ

E2 

ϕ

ϕ

х 

х 

Е 

Е 

ϕ

E1 

ϕ

E2 

 

а 

б 

 

Рис 1.12 — Зонные диаграммы неоднородного полупроводника (а)  

и однородного полупроводника при наличии внешнего 

электрического поля (б

 
Для сравнения на рис. 1.12, б показана зонная диаграмма од-

нородного полупроводника при наличии внешнего электрического 

поля (напряженность 

E

d

E

dx

ϕ

=

та же, что и на рис. 1.12, а). Если 

в силу условия квазинейтральности принять концентрации носи-
телей неизменными вдоль оси х, то будут неизменными и хими-
ческие потенциалы, т.е. «расстояния» уровня 

F

ϕ  от краев разре-

шенных зон. Тогда согласно (1.18) имеет место градиент уровня 


background image

 

35

 

Ферми,  обусловленный  нарушением  равновесия  (внешнее  элек-
трическое  поле  вызывает  протекание  тока).  Наличие  градиента 
потенциала  Ферми  обусловливает  принципиальное  отличие  дан-
ного случая от предыдущего (рис. 1.12, а), и прежде всего во вто-
ром  результирующий  ток  не  равен  нулю,  несмотря  на  внешнее 
сходство «перекошенных» зонных диаграмм. Заметим, что нали-
чие внутреннего электрического поля в общем случае не означает 
нарушения условия квазинейтральности, так как постоянное или 
почти постоянное поле не связано с существенными объемными 
зарядами.  

Все сказанное действительно и для полупроводника типа р с 

учетом расположения уровня Ферми. 

 

1.8 

Подвижность

 

носителей

 

и

 

удельная

 

проводимость

 

 
Удельная  проводимость  любого  тела  зависит  не  только  от 

концентрации  носителей,  но  и  от  их  подвижности  в  электриче-
ском  поле.  Подвижность  носителей  по  определению  есть  их 
средняя  направленная  скорость  в  электрическом  поле  с  напря-
женностью 1 В/см.  Соответственно  дрейфовую  скорость  можно 
записать  в  виде 

ДР

v

Е

= μ .  Постоянство  дрейфовой  скорости  но-

сителей  в  однородном  поле  (Е=const)  специфично  для  твердого 
тела, где имеются различные «препятствия» движению. В вакуу-
ме,  где  таких  препятствий  нет,  движение  заряженных  частиц  в 
однородном  поле  равноускоренное,  т.е.  понятие  дрейфовой  ско-
рости отсутствует.  

Направленное движение носителей в твердом теле под дей-

ствием поля сочетается с их хаотическим (тепловым) движением.  

*

3

/

.

T

V

kT m

=

                                    (1.22) 

Из

 

формулы

 (1.22) 

видно

что

 

тепловая

 

скорость

 

зависит

 

от

 

температуры

При

 

слабых

 

электрических

 

полях

 

дрейфовая

 

скорость

 

на

-

много

 

меньше

 

тепловой

 

или

как

 

говорят

температура

 

носителей

 

определяется

 

температурой

 

кристаллической

 

решетки

В

 

этих

 

ус

-

ловиях

 

подвижность

 

можно

 

выразить

 

формулой