ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 30.07.2024

Просмотров: 373

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

СОДЕРЖАНИЕ

Федеральное агентство по образованию

Глава 1. Металлические материалы 7

Введение

Глава 1. Металлические материалы

1.1. Основные сведения о производстве металлов и сплавов

1.2. Основные свойства металлов и сплавов

1.3. Механические свойства металлов и сплавов

Глава 2. Физические основы Спектрального анализа

2.1. Общее представление о строении вещества

2.2. Строение атома и атомные спектры

2.3. Природа и свойства света

Глава 3. Источники света

3.1. Возбуждение вещества и интенсивность спектральных линий

3.2. Газовый разряд

3.3. Схемы питания газовых разрядов

Глава 4. Оптика спектральных аппаратов

4.1. Призма

4.2. Дифракционная решетка

4.3. Оптическая схема спектрального аппарата

4.4. Основные характеристики и параметры спектральных аппаратов

1. Рабочая область спектра

2. Линейная дисперсия

3. Увеличение спектрального аппарата

4. Спектральная ширина щели

5. Разрешающая способность

4.5. Типы приборов спектрального анализа

1. Стилоскоп слп-1.

2. Стилоскоп сл-13.

3. Стилоскоп слу.

Оптическая схема стилоскопа сл-13

Оптическая схема стилоскопа слу

Влияние третьего компонента.

Задачи спектрального анализа.

Глава 6. Проведение контроля

6.1. Подготовка изделий и стандартных электродов к анализу

6.2. Методика анализа

1. Качественный и полуколичественный спектральный анализ производится в соответствии с рисунками различных областей спектра.

Группы аналитических спектральных линий с условными обозначениями

2. При проведении анализа могут быть следующие соотношения интенсивности линий определяемого элемента и линий основы:

6.3. Определение элементов

1. Определение ванадия

Линия "v4" надежно выявляется при концентрации V свыше 0,1%

2. Определение хрома

Указания по анализу хрома

3. Определение молибдена

4. Определение никеля

5. Определение титана

6. Определение вольфрама

7. Определение марганца

8. Определение ниобия

9. Определение кобальта

10. Определение кремния

Рассортировка сталей

6.3. Меры безопасности при работе со стилоскопом

6.4. Организация и оформление работ по спектральному анализу

Сварной стык; задвижка;тройник;расходомерная шайба; 65-77 - сварные стыки

Задвижка 65-66

Для линий с близкими длинами волн угол  мал, и можно считать , тогда

(30)

Если фокальная поверхность наклонена к оптической оси камеры под углом , то расстояния между линиями увеличиваются

(31)

Разделив обе части равенства на разность длин волн  и переходя от конечных разностей к производной, получим окончательное выражение для линейной дисперсии:

(32)

Линейную дисперсию спектральных аппаратов принято характеризовать обратной величиной – фактором дисперсии (или обратной дисперсией), которая показывает число ангстремов или микрон, приходящийся на один миллиметр длины спектра в фокальной поверхности прибора. При применении объектива с большим фокусным расстоянием f2=1,5м обратная дисперсия возрастает в 5 раз до 13. Иногда спектрографы снабжают сменными камерами с разными объективами, что позволяет получать нужную линейную дисперсию. Зная линейную дисперсию прибора, легко определить расстояние между близкими линиями в спектре

(33)

3. Увеличение спектрального аппарата

Определяется отношением фокусных расстояний камерного f2 и коллиматорного f1 объективов.

(34)

Для автоколлимационных приборов g=1.


4. Спектральная ширина щели

Геометрическая ширина спектральной линии

(35)

где а – ширина щели.

Чем больше а, тем больше и SГ. Таким образом на спектре изображение щели занимает участок от 1 до 2. Здесь могли бы располагаться несколько линий, если а сделать очень малой. Разность называют спектральной шириной щели. Чем шире щель а, тем больше. Очевидно, что

(36)

5. Разрешающая способность

Это способность прибора разделять две рядом расположенные линии. На первый взгляд кажется, что разрешающую способность можно увеличить уменьшая а. В действительности ширина спектральной линии уменьшается только до некоторого предела. При дальнейшем уменьшении а начинают работать дифракция и свет за щелью начинает расходиться. Ширина спектральной линии увеличивается.

Определим дифракционную ширину щели. Объектом, изображение которого строится в спектральном аппарате, является щель. Если бы свет от щели нигде в приборе не ограничивался, то дифракция отсутствовала бы и дифракционная ширина линии равнялась нулю. Фактически свет ограничивается размерами оптических деталей – объективов и диспергирующей системы. Параллельный пучок, соответствующий одной спектральной линии, расходится от оси под небольшим углом

(37)

где d – действующее отверстие.

Можно считать, что дифракционная ширина щели в фокальной поверхности определяется по формуле:

, (38)

когда измеряют полуширину – расстояние между точками, в которых интенсивность равна половине интенсивности в максимуме

Минимальная толщина спектральной линии получается, когда геометрическая ширина щели равна ее дифракционной ширине. Такая щель называется нормальной. Она удовлетворяет условию

(39)

Т.к. , то


(40)

При ширине щели большей, чем нормальная, общая ширина линий определяется в основном шириной щели. При ширине щели меньшей нормальной основной вклад в ширину линии вносит дифракция. Таким образом, как бы мы ни уменьшали ширину щели, ширина лани в спектральном аппарате не будет меньше значения, определяемого по формуле (38).

4.5. Типы приборов спектрального анализа

В настоящее время промышленность выпускает всевозможные типы приборов - переносные и стационарные стилоскопы а также сложные комплексные системы анализаторов металлов и сплавов.

Стационарные стилоскопы используются для проведения спектрального анализа мелких деталей, переносные стилоскопы - для контроля крупногабаритных изделий и деталей на смонтированном оборудовании, доставка которых к стационарному стилоскопу невозможна.

Рассмотрим несколько типов приборов и их основные характеристики.

1. Стилоскоп слп-1.

Рис. 28. Переносной стилоскоп СЛП-1: 1 - налобник; 2 - окуляр; 3 - маховичок со шкалой; 4 - маховичок разворота поворотной призмы;

5 - постоянный электрод

Переносной стилоскоп СЛП-1 (рис. 28) служит для быстрого визуального качественного и полуколичественного анализа всех наиболее распространенных марок легированных сталей и цветных сплавов по их спектрам излучения, в основном по элементам Cr, Ni, W, V, Zn, Fe, Pb, Sn, Al, Cu, Mg, Mo, Mn, Si методом спектрального анализа. Указанное число элементов, определяемых с помощью стилоскопа, может быть расширено. Так, например, имеются таблицы аналитических признаков, составленные для определения Cr, W, Mn, V, Mo, Ni, Co, Ti, Al, Nb, Zr, Si, Cu - в сталях; Zn, Ni, Mn, Fe, Pb, Sn, Al, Be, Si - в медных сплавах; Mg, Cu, Mn, Fe, Si, Zn - в алюминиевых сплавах и для ряда других сплавов.

Стилоскоп рассчитан на анализ крупногабаритного металла, металлического лома, громоздких агрегатов, крупных поковок, деталей крупногабаритных агрегатов и машин без их разборки и т. д. непосредственно на месте, где расположены объекты анализа, а также для работы в условиях полевых ремонтно-восстановительных мастерских, когда анализируемый объект не может быть доставлен в лабораторию для анализа на стационарном стилоскопе.

Анализ с помощью стилоскопа не сопровождается повреждением анализируемого объекта, и деталь после анализа может быть использована по своему прямому назначению. В случае необходимости переносный стилоскоп может быть использован как стационарный стилоскоп, для чего необходимо его закрепить на какой-либо подставке, а исследуемый материал поместить на отдельном столике. Кроме того, переносный стилоскоп может быть использован как обычный спектроскоп для спектрально-аналитических работ.


Стилоскоп может применяться в производственных условиях, включая, работу на открытом воздухе, под навесом в сухую погоду. В настоящем описании приведены лишь общие указания по использованию стилоскопа.

Характеристики стилоскопа СЛП-1:

  • рабочий диапазон спектра 390-670 нм.

  • предел разрешения: Прибор допускает раздельное наблюдение спектральных линий, нм (519,146; 519,235)

  • увеличение зрительной трубы (расчетное) 11,2х

  • угол расхождения крайних лучей 10°56.

  • диоптрийное перемещение окуляра от установки окуляра на спектральную линию 459,537 нм +9...-3 мм.

  • размеры выходного зрачка 2,3 х 1,2.

  • фокусное расстояние, мм: объектива 322,2; окуляра 28,8.

  • габаритные размеры стилоскопа 190 х 180 х 695 мм.

  • масса, кг: стилоскопа, не более 6,5; стилоскопа в укладке, не более 16.

Генератор устойчиво работает от сети переменного тока напряжением 110 В или 220 В с частотой 50 Гц, при колебаниях напряжения в сети -10%...+5% и частоты -2%...+2% в дуговом и искровом режиме:

  • дуговой режим с силой тока 6,0 - 8,0 А.

  • режим низковольтной искры 3,0 - 4,0 А.

Габаритные размеры генератора 405 х 160 х 350 мм.

Масса, кг:

  • генератора, не более 25

  • генератора в укладке, не более 30.

По принципу действия стилоскоп аналогичен стилоскопам других конструкции. Между двумя электродами, одним из которых является анализируемый объект, а другим постоянный электрод стилоскопа (дисковый-медный или стержневой-стальной), зажигается дуга или искра, вследствие чего междуэлектродный промежуток заполняется светящимися парами материалов электродов. Лучи света от дуги направляются в спектральный аппарат через конденсор и узкую щель. Образующийся линейчатый спектр рассматривают при помощи окуляра и устанавливают присутствие в спектре характерных спектральных линий определяемых элементов. Наблюдаемый через окуляр спектр содержит линии основного элемента пробы и электрода стилоскопа и линии примесей, имеющихся в анализируемой пробе. Наличие линий того или иного элемента в спектре свидетельствует о присутствии этого элемента и анализируемом объекте; отсутствие линий является признаком того, что искомого элемента в анализируемом объекте в количествах, доступных для определения с помощью стилоскопа, нет. Для большинства перечисленных выше элементов эти линии не являются в спектре при концентрациях порядка нескольких десятых и сотых долей процента. Концентрация анализируемого элемента определяется с помощью спектральных таблиц по сравнительной интенсивности свечения его характерных линий и линии основного элемента.