Файл: Т. В. Стоянова, на. Тупицкая, Ю. И. Кузьмин курс физики том 4 квантовая механика. Физика твёрдого тела. Атомная и ядерная физика учебник санкт петербург 2014 удк 539. 1 530. 145(075. 8).pdf
ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 12.12.2023
Просмотров: 66
Скачиваний: 2
ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.
СОДЕРЖАНИЕ
7.10 Cолнечные генераторы электроэнергии на основе полупроводниковых структур Фотоэлемент является источником электропитания, который генерирует электрическое напряжение за счет поглощения света, испускаемого внешними источниками. В случае поглощения фотоэлементом видимого (солнечного) света его называют солнечной ячейкой. Принцип действия солнечной ячейки. Рассмотрим принцип действия кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом. Структура ячейки представлена на рис. 7.20. При освещении фотоэлемента из-за поглощения квантов света в p-n переходе ив областях полупроводника, прилегающих кр переходу, происходит поглощение квантов света и генерация электронно- дырочных пар – новых, неравновесных носителей заряда. Диффузионное электрическое поле, существующее в р переходе, производит разделение зарядов электроны уходят в область, а дырки – в р- область. В результате накопления электронов в области и дырок в p- области между этими областями возникает дополнительная разность потенциалов, так называемая фото-ЭДС.
Основные физические процессы в солнечной ячейке. Энергетическая диаграмма р перехода представлена на рис. 7.21. При попадании света на фотоэлемент возможны следующие виды фотоактивного поглощения
1. Электрон переходит из валентной зоны на уровень ионизированного акцептора А, при этом в валентной зоне появляется дырка. Она суть основной носитель в области иона не может преодолеть потенциальный барьер. Поэтому дырка останется в области и не создает обратного тока. Электрон на акцепторном уровне не может перемещаться и также не дает вклада в фототок. Электроны переходят из валентной зоны в зону проводимости, возникают два носителя – дырка в валентной зоне и электрон в зоне проводимости. Дырка в валентной зоне области является основным носителем и не участвует в образовании обратного тока из-за потенциального барьера. Электрон в зоне проводимости области является неосновным носителем, для него не существует барьера, поэтому он двигается к p-n переходу и скатывается с него, создавая обратный ток.
3. Если электронно-дырочная пара возникла в
p-n переходе, тополе объемного заряда растаскивает их в разные стороны – дырки в область, электроны в область. Таким образом, второй и третий процессы приводят к накоплению дырок в области и, аналогично, электронов в области, что создает дополнительную разность потенциалов. Накопление неравновесных носителей заряда в соответствующих областях не может продолжаться бесконечно, так как разделенные электроны и дырки продолжают притягиваться друг к другу обратный ток. Они создают электрическое поле, которое понижает высоту потенциального барьера между n- и областями на величину возникающей фото-ЭДС. Это понижение барьера уменьшает величину разделяющего поля в p-n переходе и аналогично прямому включению p-n перехода.
ħ
ω р Рис. 7.21 Энергетическая диаграмма p-n перехода,
E
F
- уровень Ферми, E
D
– энергетический уровень донора, E
A
– энергетический уровень акцептора
Полоска контакта область
р-область Е
Положительный
Отрицательный
Светочувствительный Рис. 7.20 Устройство кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом переход
n
Плотность тока через фотодиод. Вдали от p-n перехода электрическое поле очень слабое, поэтому основным механизмом движения носителей там является диффузия. Не все фотоэлектроны, возникающие при поглощении света, дойдут до p-n перехода, так как на этом пути возможна рекомбинация носителей заряда. Дойдут лишь те носители заряда, у которых время пути до перехода меньше времени жизни электрона в зоне проводимости (или расстояние до перехода больше длинны диффузионного пробега. Плотность тока через фотодиод складывается из тока электронов в р- области, дырок в области и электронно-дырочных пар, появившихся в p-n переходе где g – количество электронно-дырочных пар, родившихся в единицу времени с единицы площади p-n перехода. Основные характеристики фотоэлемента. Вольт-амперная характеристика. Основной характеристикой фотоэлемента является его вольт-амперная характеристика (ВАХ), при различных освещенностях или световых потоках (риса. При отсутствии освещения (J = 0) вольт-амперная характеристика имеет вид характерный для обычного р перехода. При увеличении освещенности
(J
1
и J
2
) появляется обратный ток неосновных носителей, и вся кривая смещается вниз. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью напряжений соответствуют значениям фото-ЭДС (или напряжению холостого хода U
хх
) при разных освещенностях (для кремниевого фотоэлемента фото-ЭДС имеет порядок 0,5–0,55 В. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью токов соответствуют значениям токов короткого замыкания I
кз
. У крема
I
кз1
I
кз2
U
хх1
U
хх2
P
max
б
J=0 Рис Общий вида) и рабочая область (б) вольт-амперной характеристики фотоэлемента
ниевых фотоэлементов плотность тока короткого замыкания при средней освещенности солнечным светом имеет порядок 20-25 мА/см
2
По вольт-амперной характеристике при различных освещенностях фотоэлемента можно выбрать оптимальный режим работы фотоэлемента, те. оптимальное сопротивление нагрузки, при котором в нагрузке будет выделяться наибольшая мощность. Оптимальному режиму работы фотоэлементов соответствует наибольшая площадь вписанного прямоугольника с вершиной на вольт- амперной характеристике при заданной освещенности (рис. 7.22 б. Для кремниевых фотоэлементов при оптимальной нагрузке напряжение нагрузки составляет 0,35-0,4 В, плотность тока 15-20 мА/см
2
Так как рабочей областью является область прямого смещения р перехода и обратного тока, то обычно вольт-амперная характеристика фотоэлемента переворачивают иона имеет вид, приведенный на рис. 7.23.
2. Световые характеристики фотоэлемента. Световые характеристики фотоэлемента- это зависимости фото-ЭДС и тока короткого замыкания фотоэлемента от освещенности фотоэлемента. а) При малой освещенности зависимость I
кз
J линейна, т.к. ток прямо пропорционален количеству родившихся электронно-дырочных пар
g
I
кз
, а количество появившихся электронно-дырочных пар, в свою очередь, прямо пропорционально количеству поглощенных квантов света
J
g
, где α – показатель поглощения, J – интенсивность света, η – внутренний квантовый выход. Для кремниевых фотодиодов η
100%. Квантовый выход можно определить по экспериментальной зависимости I
кз
(J). Пропорциональность I
кз
g обусловлена тем, что р-область конструктивно изготовлена так, чтобы ее толщина была значительно меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда. Поэтому практически все неосновные носители, возникшие в р-области в результате световой генерации, доходят до р перехода и принимают участие в образовании фототока. Рис. 7.23 Вольт-амперная характеристика фотоэлемента при разных интенсивностях света J и линия оптимальной нагрузки
I
U Рис. 7.24 Ток короткого замыкания I
s и напряжение холостого хода о как функция интенсивности света J
I
s
, мА U
0
, В
J, Вт/м
2
I
s
U
0
Во всяком случае, потери неосновных носителей на рекомбинацию в р- области и на поверхности практически не зависят от освещенности, т.к. исходный полупроводник содержит малое количество неконтролируемых примесей, которые могли бы выполнять роль рекомбинационных ловушек и ловушек захвата. Отклонение световых характеристик от линейной зависимости связано с уменьшением высоты потенциального барьера при накоплении избыточного заряда электронов в области и дырок в р-области. б) По мере увеличения освещенности возрастает накопление зарядов, и дополнительная разность потенциалов все сильнее понижает потенциальный барьер. За счет этого увеличивается вклад прямого тока, и зависимость становится сублинейной. Рассмотрим основные характеристики солнечной батареи на примере батареи, состоящей из четырех ячеек, соединенных последовательно, и имеющую максимальное напряжение холостого хода не более 2 В. При слабых освещенностях зависимость напряжения холостого хода (U
хх
) от освещенности такая же, как у тока короткого замыкания. При возрастании освещенности потенциальный барьер понижается так сильно, что прямая составляющая тока уравновешивает обратный фототок вне зависимости от степени освещенности.
3. Эффективность преобразования. Коэффициент полезного действия КПД) представляет собой отношение максимальной мощности, которую можно получить от фотоэлемента, к полной мощности светового потока, падающего на рабочую поверхность фотоэлемента К основным процессам, приводящим к уменьшению КПД фотоэлемента, относят отражение от поверхности полупроводника, фотоэлектрически неактивное поглощение квантов света (поглощение без образования пар носителей электрон-дырка), рекомбинацию неравновесных носителей ещё до их разделения электрическим полем p-n перехода, а также потери мощности при прохождении тока через объемное сопротивление базы фотоэлемента. В результате этих процессов КПД кремниевых фотоэлементов при преобразовании солнечного света в электрическую энергию не превышает 12%.
4. Спектральная характеристика фотоэлемента. Спектральная характеристика фотоэлемента это зависимость тока короткого замыкания от длины волны падающего света. Для кремниевого фотоэлемента максимум спектральной характеристики почти соответствует максимуму спектрального распределения энергии солнечного света (рис. 7.25). Именно поэтому кремниевые фотоэлементы широ-
Рис. 7.25 Спектр Солнца (Т ≈ 5800 К, спектр света лампы (Т ≈ 2000 K) испек- тральная чувствительность кремниевой солнечной ячейки ко используются для создания солнечных батарей. Спектр лампы и Солнца отличаются тем, что у Солнца больше коротковолнового излучения (с большей энергией, ау лампы больше длинноволновая составляющая. Таким образом, лампа сильнее нагревает фотоэлемент, поэтому ее свет дает меньший ток короткого замыкания и, соответственно, меньший КПД. Если энергия кванта света меньше ширины запрещенной зоны, то фотоэффекта не будет вовсе, поэтому существует минимальная энергия (или максимальная длина волны, при которой эффект ещё наблюдается. Для кремния Si ширина запрещенной зоны ΔE = 1,1 эВ, что соответствует длине волны λ
max
= 1,3 мкм и частоте ν = 2,5·10 14
Гц.
5. Зависимость I
к.з.
и U
хх
от температуры. С повышением температуры фотоэлемента происходит а) понижение потенциального барьера (уменьшатся ширина запрещенной зоны) и б) увеличивается количество основных носителей, имеющих большую энергию, те. происходит перераспределение носителей по уровням. Понижение барьера приводит к понижению напряжения холостого хода (а также тока короткого замыкания) – уменьшается площадь под ВАХ – уменьшается КПД фотоэлемента (рис. 7.26).
7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод Диод во внешнем электрическом поле. Слово диод, образовано от греческих корней «di» — два, и «odos» — путь. Полупроводниковый диод — это полупроводниковый прибор с одним р переходом и двумя выводами электродами. Полупроводниковые диоды используют свойство односторонней проводимости p-n перехода — контакта между полупроводниками с разным типом примесной проводимости. Принцип действия полупроводникового диода основывается на выпрямляющем свойстве p-n перехода. По назначению диоды бывают выпрямительные диоды - предназначенные для преобразования переменного тока в постоянный импульсные диоды - имеют малую длительность переходных процессов, предназначены для применения в импульсных режимах работы, ограничительные диоды - предназначенные для защиты радио и бытовой аппаратуры от повышения сетевого напряжения и другие.
Вольт-амперная характеристика диода – это зависимость силы тока от приложенного к диоду напряжения (рис. 7.27). Если созданное внешним источником электрическое поле в p-n переходе противоположно диффузионному полю, то ток через переход возрастает в соответствии с прямой ветвью Рис. 7.26 Вольт-амперная характеристика солнечной батареи a) с охлаждающим вентилятором, b) без охлаждающего вентилятора, c) при экранировке стеклянным колпаком, мА
100 50
c в
a
0 1 2 U, В вольт-амперной характеристики (ВАХ) диода. Прямая ветвь вольт-амперной характеристики имеет вид экспоненты. Факторы, влияющие на прямой ток диода
1. При увеличении температуры а) уменьшается высота потенциального барьера и б) изменяется распределение носителей заряда по энергиям – электроны занимают все более высокие уровни в зоне проводимости. Из-за этих двух причин прямой ток через диод увеличивается с ростом температуры при неизменном приложенном напряжении.
2. У диода с большей шириной запрещенной зоны больше высота потенциального барьера, поэтому прямой ток через диод из материала с большей шириной запрещенной зоны будет меньше притом же напряжении.
3. С увеличением концентрации примесей в прилегающих к p-n переходу областях будет увеличиваться высота потенциального барьера, а значит, будет меньше прямой ток при неизменном напряжении. Если созданное внешним источником электрическое поле в переходе совпадает по направлению с диффузионным, то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается. В этом случае зависимость тока от напряжения соответствует обратной ветви вольт-амперной характеристики диода, а приложенное внешнее напряжение называется обратным. Величина потока неосновных носителей заряда не зависит от величины обратного напряжения U
обр
. Она определяется только скоростью их тепловой генерации в объеме полупроводника и скоростью их диффузии к p-n переходу (к области объемного заряда, пересекая который они и дают вклад в электрический ток, текущий через p-n переход. Однако достичь перехода могут не все неосновные носители, а только те, которые родились достаточно близко от него (на расстоянии диффузионной длины. Остальные неосновные носители не доходят до перехода и не дают вклада в ток. Обратный ток, начиная с малых значений обратного напряжения, не изменяется. Такой ток называется током насыщения. На рисунке 7.27 ток насыщения обозначен Факторы, влияющие на ток насыщения
1. С увеличением температуры ток насыщения увеличивается, т.к. экспоненциально увеличивается собственная концентрация носителей заряда.
2. В диодах на основе материалов с большей шириной запрещенной зоны плотность тока насыщения будет больше, так как собственная концентрация экспоненциально уменьшается.
3. С увеличением концентрации примесей плотность тока насыщения уменьшается (меньше время жизни из-за усиления рекомбинации с основными носителями. Пробой диодов. При достижении обратным напряжением некоторого критического для данного диода значения происходит резкое увеличение об-
Рис. 7.27 Вольт-амперная характеристика выпрямляющего диода
0 проб
I
0
U
ратного тока через диод. Это явление называется пробоем диода. В зависимости от физических явлений, приводящих к пробою, различают лавинный, туннельный и тепловой пробои. Лавинный пробой Под действием сильного электрического поля, при котором носители заряда приобретают энергии, достаточные для образования новых электронно-дырочных пар в результате ударной ионизации атомов полупроводника, возникают лавины носителей заряда. Пробивное напряжение определяется концентрацией примеси в слаболегированной области, т.к. она определяет ширину p-n перехода. С повышением температуры уменьшается длина свободного пробега носителей заряда, а значит, уменьшается и энергия, которую носитель заряда может приобрести на длине свободного пробега в электрическом поле. Следовательно, повышение температуры приводит к увеличению пробивного напряжения при лавинном пробое (рис. 7.28). При возникновении лавинного пробоя возникают шумы. Вначале этот процесс неустойчив он возникает, срывается, возникает снова. С увеличением тока процесс ударной ионизации становится устойчивыми шумы исчезают. Это характерная особенность лавинного пробоя. Туннельный пробой Если ширина потенциального барьера δ становится достаточно малой, то возможно туннелирование электронов сквозь запрещенную зону полупроводника без изменения их энергии. Внешне туннельный эффект проявляется как пробой диода, при этом пробивное напряжение обратно пропорционально концентрации примесей. При одной и той же ширине запрещенной зоны (для одного итого же материала) ширина потенциального барьера определяется напряженностью электрического поля, те. наклоном энергетических уровней и зон. Значение критической напряженности электрического поля составляет примерно 8·10 5
В/м для Si и 3·10 5
В/м для Ge. С повышением температуры ширина запрещенной зоны большинства полупроводников убывает. Следовательно, при этом уменьшается и толщина барьера при той же напряженности поля, что приводит к увеличению вероятности туннелирования сквозь потенциальный барьер, поэтому пробивное напряжение при туннельном пробое уменьшается с увеличением температуры. Так как при туннельном пробое необходима малая толщина p-n перехода, он наблюдается в диодах, изготовленных из полупроводников с большой концентрацией примесей. Тепловой пробой Тепловой пробой в диодах происходит с образованием так называемого шнура или канала высокой проводимости, температура в котором превышает среднюю температуру остальной части p-n перехода. Образование шнура обычно вызвано дефектами в p-n переходе. Если плотность обратного тока в каком-нибудь месте p-n перехода оказалась больше плотности тока в остальной части перехода, то температура этого места будет еще выше из-за выделяющегося тепла Джоуля-Ленца. Локальное увеличение тем-
Рис. 7.28 Вольт-амперная характеристика при лавинном пробое
U
обр проб
I
обр
пературы приводит к дальнейшему росту плотности тока, что вызывает локальное повышение температуры и т.д. Тепловой пробой может возникнуть и при малых обратных токах и напряжениях. Светоизлучающий диод (LED – Light-emitting diode) – это полупроводниковый прибор, преобразующий электрическую энергию, в энергию оптического излучения. Излучение вызвано рекомбинацией (возвращением электронов из зоны проводимости в валентную зону) носителей заряда при прохождении тока в прямом направлении через выпрямляющий электрический переход. Область структуры светодиода, в которой происходит рекомбинация электронов и дырок называется активной. В основе светоизлучающего диода лежит многослойная гетероструктура. Гетероструктура представляет собой последовательность полупроводниковых слоев отличающихся химическим составом и шириной запрещенной зоны. Гетеропереходом называют переходный слой с существующим в нём диффузионным электрическим полем между двумя различными по химическому составу полупроводниками. Для формирования качественного гетероперехода необходимо совпадение типа, ориентации и периода кристаллических решёток контактирующих полупроводников. При образовании гетероперехода, из-за различия работ выхода электронов из разных полупроводников, происходит перераспределение носителей заряда в приконтактной области и выравнивание уровней Ферми. В результате установления термодинамического равновесия, остальные энергетические уровни изгибаются – возникают диффузионное электрическое поле икон- тактная разность потенциалов. Энергетические зоны различных полупроводников отличаются по ширине, поэтому на границе раздела двух полупроводников получается разрыв дна зоны проводимости и валентной зоны, что приводит к наличию разной высоты потенциального барьера для электронов и дырок. В связи с этим, прямой ток через гетеропереход связан в основном сдвижением носителей заряда только одного знака. Излучаемый свет лежит в узком диапазоне спектра электромагнитных волн. Длина волны излучения светодиода зависит от химического состава использованного в активной области полупроводника. Красные и желтые светодиоды изготавливаются из твердых растворов соединений элементов AlGaAs и AlGaInP, а зеленые и синие из более широкозонного материала InGaN. Для того чтобы кванты энергии (фотоны, Рис. 7.29 Зависимость длины волны желтого светодиода от температуры активной области Длина волны, нм
594 592 590 588 586
-40 10 60 t,
0
C
освободившиеся при рекомбинации, соответствовали квантам видимого света, ширина запрещенной зоны исходного полупроводника должна быть достаточно большой (Е > 1,7 эВ, при меньшей ширине запрещенной зоны исходного полупроводника кванты энергии, освобождающиеся при рекомбинации носителей заряда, соответствуют инфракрасной области излучения. Энергия фотона, образовавшегося при рекомбинации, определяется
h
Е
Так как частота связана с длиной волны сто энергию можно выразить
с
h
Е
. (7.61) Максимум в спектре излучения светодиода max
соответствует наиболее вероятному переходу – с нижнего энергетического уровня свободной зоны на верхний уровень валентной зоны. Тогда с, (7.62) где Е - ширина запрещенной зоны полупроводника. Активная область ограничена слоями полупроводника с большей шириной запрещенной зоны, которые обеспечивают локализацию носителей вуз- козонной области, что приводит к увеличению вероятности рекомбинации носителей заряда. Отношение излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей называется внутренним квантовым выходом Если бы рекомбинация неравновесных электронов и дырок, в активной области происходила только с излучением фотонов, то внутренний квантовый выход был бы равен 100%. Однако значительная часть актов рекомбинации не заканчивается выделением энергии в виде фотонов. Такие переходы электронов между энергетическими уровнями называют безызлучательными. Соотношение между излучательными и безызлучательными переходами зависит отряда причин, в частности от структуры энергетических зон полупроводника, наличия примесей, которые могут увеличить или уменьшить вероятность излучательных пере- ходов.
Увеличение длины волны с повышением температуры активной области светодиода вызвано уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника, при этом, из-за увеличения влияния колебаний кристаллической решетки уменьшается внутренний квантовый выход. Яркость светодиода с увеличением температуры падает рис. Падение яркости с повышением температуры неодинаково у светодиодов разных цветов У материалов с меньшей шириной запрещенной зоны температурная зависимость длины волны и яркости сильнее. Она больше у красных и желтых, и меньше у зеленых, синих и белых Поэтому для надежной и стабильной работы светодиодов важен хороший теплоотвод Даже при высоком внутреннем квантовом выходе (в GaAs и внутренний квантовый выход излучательной рекомбинации равен 100%) внешний квантовый выход значительно меньше. Образовавшиеся фотоны могут поглотиться полупроводником до выхода в окружающее пространство. Существенными являются потери при полном внутреннем отражении фотонов, падающих на границу раздела полупроводника и окружающей атмосферы под углом, превышающим критический угол полного внутреннего отражения
1 в, (7.63) где
2
n
- абсолютный показатель преломления среды, окружающей полупроводник- абсолютный показатель преломления полупроводника. Для многих полупроводников
0 в, поэтому если полупроводник имеет плоскую форму, то только незначительная часть фотонов (около 1,5%) покинет полупроводник. Наиболее простым решением является формирование на поверхности кристалла сферического покрытия из пластического материала с высоким показателем преломления для увеличения критического угла полного внутреннего отражения.
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
7.10 Cолнечные генераторы электроэнергии на основе полупроводниковых структур Фотоэлемент является источником электропитания, который генерирует электрическое напряжение за счет поглощения света, испускаемого внешними источниками. В случае поглощения фотоэлементом видимого (солнечного) света его называют солнечной ячейкой. Принцип действия солнечной ячейки. Рассмотрим принцип действия кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом. Структура ячейки представлена на рис. 7.20. При освещении фотоэлемента из-за поглощения квантов света в p-n переходе ив областях полупроводника, прилегающих кр переходу, происходит поглощение квантов света и генерация электронно- дырочных пар – новых, неравновесных носителей заряда. Диффузионное электрическое поле, существующее в р переходе, производит разделение зарядов электроны уходят в область, а дырки – в р- область. В результате накопления электронов в области и дырок в p- области между этими областями возникает дополнительная разность потенциалов, так называемая фото-ЭДС.
Основные физические процессы в солнечной ячейке. Энергетическая диаграмма р перехода представлена на рис. 7.21. При попадании света на фотоэлемент возможны следующие виды фотоактивного поглощения
1. Электрон переходит из валентной зоны на уровень ионизированного акцептора А, при этом в валентной зоне появляется дырка. Она суть основной носитель в области иона не может преодолеть потенциальный барьер. Поэтому дырка останется в области и не создает обратного тока. Электрон на акцепторном уровне не может перемещаться и также не дает вклада в фототок. Электроны переходят из валентной зоны в зону проводимости, возникают два носителя – дырка в валентной зоне и электрон в зоне проводимости. Дырка в валентной зоне области является основным носителем и не участвует в образовании обратного тока из-за потенциального барьера. Электрон в зоне проводимости области является неосновным носителем, для него не существует барьера, поэтому он двигается к p-n переходу и скатывается с него, создавая обратный ток.
3. Если электронно-дырочная пара возникла в
p-n переходе, тополе объемного заряда растаскивает их в разные стороны – дырки в область, электроны в область. Таким образом, второй и третий процессы приводят к накоплению дырок в области и, аналогично, электронов в области, что создает дополнительную разность потенциалов. Накопление неравновесных носителей заряда в соответствующих областях не может продолжаться бесконечно, так как разделенные электроны и дырки продолжают притягиваться друг к другу обратный ток. Они создают электрическое поле, которое понижает высоту потенциального барьера между n- и областями на величину возникающей фото-ЭДС. Это понижение барьера уменьшает величину разделяющего поля в p-n переходе и аналогично прямому включению p-n перехода.
ħ
ω р Рис. 7.21 Энергетическая диаграмма p-n перехода,
E
F
- уровень Ферми, E
D
– энергетический уровень донора, E
A
– энергетический уровень акцептора
Полоска контакта область
р-область Е
Положительный
Отрицательный
Светочувствительный Рис. 7.20 Устройство кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом переход
n
Плотность тока через фотодиод. Вдали от p-n перехода электрическое поле очень слабое, поэтому основным механизмом движения носителей там является диффузия. Не все фотоэлектроны, возникающие при поглощении света, дойдут до p-n перехода, так как на этом пути возможна рекомбинация носителей заряда. Дойдут лишь те носители заряда, у которых время пути до перехода меньше времени жизни электрона в зоне проводимости (или расстояние до перехода больше длинны диффузионного пробега. Плотность тока через фотодиод складывается из тока электронов в р- области, дырок в области и электронно-дырочных пар, появившихся в p-n переходе где g – количество электронно-дырочных пар, родившихся в единицу времени с единицы площади p-n перехода. Основные характеристики фотоэлемента. Вольт-амперная характеристика. Основной характеристикой фотоэлемента является его вольт-амперная характеристика (ВАХ), при различных освещенностях или световых потоках (риса. При отсутствии освещения (J = 0) вольт-амперная характеристика имеет вид характерный для обычного р перехода. При увеличении освещенности
(J
1
и J
2
) появляется обратный ток неосновных носителей, и вся кривая смещается вниз. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью напряжений соответствуют значениям фото-ЭДС (или напряжению холостого хода U
хх
) при разных освещенностях (для кремниевого фотоэлемента фото-ЭДС имеет порядок 0,5–0,55 В. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью токов соответствуют значениям токов короткого замыкания I
кз
. У крема
I
кз1
I
кз2
U
хх1
U
хх2
P
max
б
J=0 Рис Общий вида) и рабочая область (б) вольт-амперной характеристики фотоэлемента
ниевых фотоэлементов плотность тока короткого замыкания при средней освещенности солнечным светом имеет порядок 20-25 мА/см
2
По вольт-амперной характеристике при различных освещенностях фотоэлемента можно выбрать оптимальный режим работы фотоэлемента, те. оптимальное сопротивление нагрузки, при котором в нагрузке будет выделяться наибольшая мощность. Оптимальному режиму работы фотоэлементов соответствует наибольшая площадь вписанного прямоугольника с вершиной на вольт- амперной характеристике при заданной освещенности (рис. 7.22 б. Для кремниевых фотоэлементов при оптимальной нагрузке напряжение нагрузки составляет 0,35-0,4 В, плотность тока 15-20 мА/см
2
Так как рабочей областью является область прямого смещения р перехода и обратного тока, то обычно вольт-амперная характеристика фотоэлемента переворачивают иона имеет вид, приведенный на рис. 7.23.
2. Световые характеристики фотоэлемента. Световые характеристики фотоэлемента- это зависимости фото-ЭДС и тока короткого замыкания фотоэлемента от освещенности фотоэлемента. а) При малой освещенности зависимость I
кз
J линейна, т.к. ток прямо пропорционален количеству родившихся электронно-дырочных пар
g
I
кз
, а количество появившихся электронно-дырочных пар, в свою очередь, прямо пропорционально количеству поглощенных квантов света
J
g
, где α – показатель поглощения, J – интенсивность света, η – внутренний квантовый выход. Для кремниевых фотодиодов η
100%. Квантовый выход можно определить по экспериментальной зависимости I
кз
(J). Пропорциональность I
кз
g обусловлена тем, что р-область конструктивно изготовлена так, чтобы ее толщина была значительно меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда. Поэтому практически все неосновные носители, возникшие в р-области в результате световой генерации, доходят до р перехода и принимают участие в образовании фототока. Рис. 7.23 Вольт-амперная характеристика фотоэлемента при разных интенсивностях света J и линия оптимальной нагрузки
I
U Рис. 7.24 Ток короткого замыкания I
s и напряжение холостого хода о как функция интенсивности света J
I
s
, мА U
0
, В
J, Вт/м
2
I
s
U
0
Во всяком случае, потери неосновных носителей на рекомбинацию в р- области и на поверхности практически не зависят от освещенности, т.к. исходный полупроводник содержит малое количество неконтролируемых примесей, которые могли бы выполнять роль рекомбинационных ловушек и ловушек захвата. Отклонение световых характеристик от линейной зависимости связано с уменьшением высоты потенциального барьера при накоплении избыточного заряда электронов в области и дырок в р-области. б) По мере увеличения освещенности возрастает накопление зарядов, и дополнительная разность потенциалов все сильнее понижает потенциальный барьер. За счет этого увеличивается вклад прямого тока, и зависимость становится сублинейной. Рассмотрим основные характеристики солнечной батареи на примере батареи, состоящей из четырех ячеек, соединенных последовательно, и имеющую максимальное напряжение холостого хода не более 2 В. При слабых освещенностях зависимость напряжения холостого хода (U
хх
) от освещенности такая же, как у тока короткого замыкания. При возрастании освещенности потенциальный барьер понижается так сильно, что прямая составляющая тока уравновешивает обратный фототок вне зависимости от степени освещенности.
3. Эффективность преобразования. Коэффициент полезного действия КПД) представляет собой отношение максимальной мощности, которую можно получить от фотоэлемента, к полной мощности светового потока, падающего на рабочую поверхность фотоэлемента К основным процессам, приводящим к уменьшению КПД фотоэлемента, относят отражение от поверхности полупроводника, фотоэлектрически неактивное поглощение квантов света (поглощение без образования пар носителей электрон-дырка), рекомбинацию неравновесных носителей ещё до их разделения электрическим полем p-n перехода, а также потери мощности при прохождении тока через объемное сопротивление базы фотоэлемента. В результате этих процессов КПД кремниевых фотоэлементов при преобразовании солнечного света в электрическую энергию не превышает 12%.
4. Спектральная характеристика фотоэлемента. Спектральная характеристика фотоэлемента это зависимость тока короткого замыкания от длины волны падающего света. Для кремниевого фотоэлемента максимум спектральной характеристики почти соответствует максимуму спектрального распределения энергии солнечного света (рис. 7.25). Именно поэтому кремниевые фотоэлементы широ-
Рис. 7.25 Спектр Солнца (Т ≈ 5800 К, спектр света лампы (Т ≈ 2000 K) испек- тральная чувствительность кремниевой солнечной ячейки ко используются для создания солнечных батарей. Спектр лампы и Солнца отличаются тем, что у Солнца больше коротковолнового излучения (с большей энергией, ау лампы больше длинноволновая составляющая. Таким образом, лампа сильнее нагревает фотоэлемент, поэтому ее свет дает меньший ток короткого замыкания и, соответственно, меньший КПД. Если энергия кванта света меньше ширины запрещенной зоны, то фотоэффекта не будет вовсе, поэтому существует минимальная энергия (или максимальная длина волны, при которой эффект ещё наблюдается. Для кремния Si ширина запрещенной зоны ΔE = 1,1 эВ, что соответствует длине волны λ
max
= 1,3 мкм и частоте ν = 2,5·10 14
Гц.
5. Зависимость I
к.з.
и U
хх
от температуры. С повышением температуры фотоэлемента происходит а) понижение потенциального барьера (уменьшатся ширина запрещенной зоны) и б) увеличивается количество основных носителей, имеющих большую энергию, те. происходит перераспределение носителей по уровням. Понижение барьера приводит к понижению напряжения холостого хода (а также тока короткого замыкания) – уменьшается площадь под ВАХ – уменьшается КПД фотоэлемента (рис. 7.26).
7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод Диод во внешнем электрическом поле. Слово диод, образовано от греческих корней «di» — два, и «odos» — путь. Полупроводниковый диод — это полупроводниковый прибор с одним р переходом и двумя выводами электродами. Полупроводниковые диоды используют свойство односторонней проводимости p-n перехода — контакта между полупроводниками с разным типом примесной проводимости. Принцип действия полупроводникового диода основывается на выпрямляющем свойстве p-n перехода. По назначению диоды бывают выпрямительные диоды - предназначенные для преобразования переменного тока в постоянный импульсные диоды - имеют малую длительность переходных процессов, предназначены для применения в импульсных режимах работы, ограничительные диоды - предназначенные для защиты радио и бытовой аппаратуры от повышения сетевого напряжения и другие.
Вольт-амперная характеристика диода – это зависимость силы тока от приложенного к диоду напряжения (рис. 7.27). Если созданное внешним источником электрическое поле в p-n переходе противоположно диффузионному полю, то ток через переход возрастает в соответствии с прямой ветвью Рис. 7.26 Вольт-амперная характеристика солнечной батареи a) с охлаждающим вентилятором, b) без охлаждающего вентилятора, c) при экранировке стеклянным колпаком, мА
100 50
c в
a
0 1 2 U, В вольт-амперной характеристики (ВАХ) диода. Прямая ветвь вольт-амперной характеристики имеет вид экспоненты. Факторы, влияющие на прямой ток диода
1. При увеличении температуры а) уменьшается высота потенциального барьера и б) изменяется распределение носителей заряда по энергиям – электроны занимают все более высокие уровни в зоне проводимости. Из-за этих двух причин прямой ток через диод увеличивается с ростом температуры при неизменном приложенном напряжении.
2. У диода с большей шириной запрещенной зоны больше высота потенциального барьера, поэтому прямой ток через диод из материала с большей шириной запрещенной зоны будет меньше притом же напряжении.
3. С увеличением концентрации примесей в прилегающих к p-n переходу областях будет увеличиваться высота потенциального барьера, а значит, будет меньше прямой ток при неизменном напряжении. Если созданное внешним источником электрическое поле в переходе совпадает по направлению с диффузионным, то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается. В этом случае зависимость тока от напряжения соответствует обратной ветви вольт-амперной характеристики диода, а приложенное внешнее напряжение называется обратным. Величина потока неосновных носителей заряда не зависит от величины обратного напряжения U
обр
. Она определяется только скоростью их тепловой генерации в объеме полупроводника и скоростью их диффузии к p-n переходу (к области объемного заряда, пересекая который они и дают вклад в электрический ток, текущий через p-n переход. Однако достичь перехода могут не все неосновные носители, а только те, которые родились достаточно близко от него (на расстоянии диффузионной длины. Остальные неосновные носители не доходят до перехода и не дают вклада в ток. Обратный ток, начиная с малых значений обратного напряжения, не изменяется. Такой ток называется током насыщения. На рисунке 7.27 ток насыщения обозначен Факторы, влияющие на ток насыщения
1. С увеличением температуры ток насыщения увеличивается, т.к. экспоненциально увеличивается собственная концентрация носителей заряда.
2. В диодах на основе материалов с большей шириной запрещенной зоны плотность тока насыщения будет больше, так как собственная концентрация экспоненциально уменьшается.
3. С увеличением концентрации примесей плотность тока насыщения уменьшается (меньше время жизни из-за усиления рекомбинации с основными носителями. Пробой диодов. При достижении обратным напряжением некоторого критического для данного диода значения происходит резкое увеличение об-
Рис. 7.27 Вольт-амперная характеристика выпрямляющего диода
0 проб
I
0
U
ратного тока через диод. Это явление называется пробоем диода. В зависимости от физических явлений, приводящих к пробою, различают лавинный, туннельный и тепловой пробои. Лавинный пробой Под действием сильного электрического поля, при котором носители заряда приобретают энергии, достаточные для образования новых электронно-дырочных пар в результате ударной ионизации атомов полупроводника, возникают лавины носителей заряда. Пробивное напряжение определяется концентрацией примеси в слаболегированной области, т.к. она определяет ширину p-n перехода. С повышением температуры уменьшается длина свободного пробега носителей заряда, а значит, уменьшается и энергия, которую носитель заряда может приобрести на длине свободного пробега в электрическом поле. Следовательно, повышение температуры приводит к увеличению пробивного напряжения при лавинном пробое (рис. 7.28). При возникновении лавинного пробоя возникают шумы. Вначале этот процесс неустойчив он возникает, срывается, возникает снова. С увеличением тока процесс ударной ионизации становится устойчивыми шумы исчезают. Это характерная особенность лавинного пробоя. Туннельный пробой Если ширина потенциального барьера δ становится достаточно малой, то возможно туннелирование электронов сквозь запрещенную зону полупроводника без изменения их энергии. Внешне туннельный эффект проявляется как пробой диода, при этом пробивное напряжение обратно пропорционально концентрации примесей. При одной и той же ширине запрещенной зоны (для одного итого же материала) ширина потенциального барьера определяется напряженностью электрического поля, те. наклоном энергетических уровней и зон. Значение критической напряженности электрического поля составляет примерно 8·10 5
В/м для Si и 3·10 5
В/м для Ge. С повышением температуры ширина запрещенной зоны большинства полупроводников убывает. Следовательно, при этом уменьшается и толщина барьера при той же напряженности поля, что приводит к увеличению вероятности туннелирования сквозь потенциальный барьер, поэтому пробивное напряжение при туннельном пробое уменьшается с увеличением температуры. Так как при туннельном пробое необходима малая толщина p-n перехода, он наблюдается в диодах, изготовленных из полупроводников с большой концентрацией примесей. Тепловой пробой Тепловой пробой в диодах происходит с образованием так называемого шнура или канала высокой проводимости, температура в котором превышает среднюю температуру остальной части p-n перехода. Образование шнура обычно вызвано дефектами в p-n переходе. Если плотность обратного тока в каком-нибудь месте p-n перехода оказалась больше плотности тока в остальной части перехода, то температура этого места будет еще выше из-за выделяющегося тепла Джоуля-Ленца. Локальное увеличение тем-
Рис. 7.28 Вольт-амперная характеристика при лавинном пробое
U
обр проб
I
обр
пературы приводит к дальнейшему росту плотности тока, что вызывает локальное повышение температуры и т.д. Тепловой пробой может возникнуть и при малых обратных токах и напряжениях. Светоизлучающий диод (LED – Light-emitting diode) – это полупроводниковый прибор, преобразующий электрическую энергию, в энергию оптического излучения. Излучение вызвано рекомбинацией (возвращением электронов из зоны проводимости в валентную зону) носителей заряда при прохождении тока в прямом направлении через выпрямляющий электрический переход. Область структуры светодиода, в которой происходит рекомбинация электронов и дырок называется активной. В основе светоизлучающего диода лежит многослойная гетероструктура. Гетероструктура представляет собой последовательность полупроводниковых слоев отличающихся химическим составом и шириной запрещенной зоны. Гетеропереходом называют переходный слой с существующим в нём диффузионным электрическим полем между двумя различными по химическому составу полупроводниками. Для формирования качественного гетероперехода необходимо совпадение типа, ориентации и периода кристаллических решёток контактирующих полупроводников. При образовании гетероперехода, из-за различия работ выхода электронов из разных полупроводников, происходит перераспределение носителей заряда в приконтактной области и выравнивание уровней Ферми. В результате установления термодинамического равновесия, остальные энергетические уровни изгибаются – возникают диффузионное электрическое поле икон- тактная разность потенциалов. Энергетические зоны различных полупроводников отличаются по ширине, поэтому на границе раздела двух полупроводников получается разрыв дна зоны проводимости и валентной зоны, что приводит к наличию разной высоты потенциального барьера для электронов и дырок. В связи с этим, прямой ток через гетеропереход связан в основном сдвижением носителей заряда только одного знака. Излучаемый свет лежит в узком диапазоне спектра электромагнитных волн. Длина волны излучения светодиода зависит от химического состава использованного в активной области полупроводника. Красные и желтые светодиоды изготавливаются из твердых растворов соединений элементов AlGaAs и AlGaInP, а зеленые и синие из более широкозонного материала InGaN. Для того чтобы кванты энергии (фотоны, Рис. 7.29 Зависимость длины волны желтого светодиода от температуры активной области Длина волны, нм
594 592 590 588 586
-40 10 60 t,
0
C
освободившиеся при рекомбинации, соответствовали квантам видимого света, ширина запрещенной зоны исходного полупроводника должна быть достаточно большой (Е > 1,7 эВ, при меньшей ширине запрещенной зоны исходного полупроводника кванты энергии, освобождающиеся при рекомбинации носителей заряда, соответствуют инфракрасной области излучения. Энергия фотона, образовавшегося при рекомбинации, определяется
h
Е
Так как частота связана с длиной волны сто энергию можно выразить
с
h
Е
. (7.61) Максимум в спектре излучения светодиода max
соответствует наиболее вероятному переходу – с нижнего энергетического уровня свободной зоны на верхний уровень валентной зоны. Тогда с, (7.62) где Е - ширина запрещенной зоны полупроводника. Активная область ограничена слоями полупроводника с большей шириной запрещенной зоны, которые обеспечивают локализацию носителей вуз- козонной области, что приводит к увеличению вероятности рекомбинации носителей заряда. Отношение излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей называется внутренним квантовым выходом Если бы рекомбинация неравновесных электронов и дырок, в активной области происходила только с излучением фотонов, то внутренний квантовый выход был бы равен 100%. Однако значительная часть актов рекомбинации не заканчивается выделением энергии в виде фотонов. Такие переходы электронов между энергетическими уровнями называют безызлучательными. Соотношение между излучательными и безызлучательными переходами зависит отряда причин, в частности от структуры энергетических зон полупроводника, наличия примесей, которые могут увеличить или уменьшить вероятность излучательных пере- ходов.
Увеличение длины волны с повышением температуры активной области светодиода вызвано уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника, при этом, из-за увеличения влияния колебаний кристаллической решетки уменьшается внутренний квантовый выход. Яркость светодиода с увеличением температуры падает рис. Падение яркости с повышением температуры неодинаково у светодиодов разных цветов У материалов с меньшей шириной запрещенной зоны температурная зависимость длины волны и яркости сильнее. Она больше у красных и желтых, и меньше у зеленых, синих и белых Поэтому для надежной и стабильной работы светодиодов важен хороший теплоотвод Даже при высоком внутреннем квантовом выходе (в GaAs и внутренний квантовый выход излучательной рекомбинации равен 100%) внешний квантовый выход значительно меньше. Образовавшиеся фотоны могут поглотиться полупроводником до выхода в окружающее пространство. Существенными являются потери при полном внутреннем отражении фотонов, падающих на границу раздела полупроводника и окружающей атмосферы под углом, превышающим критический угол полного внутреннего отражения
1 в, (7.63) где
2
n
- абсолютный показатель преломления среды, окружающей полупроводник- абсолютный показатель преломления полупроводника. Для многих полупроводников
0 в, поэтому если полупроводник имеет плоскую форму, то только незначительная часть фотонов (около 1,5%) покинет полупроводник. Наиболее простым решением является формирование на поверхности кристалла сферического покрытия из пластического материала с высоким показателем преломления для увеличения критического угла полного внутреннего отражения.
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
7.10 Cолнечные генераторы электроэнергии на основе полупроводниковых структур Фотоэлемент является источником электропитания, который генерирует электрическое напряжение за счет поглощения света, испускаемого внешними источниками. В случае поглощения фотоэлементом видимого (солнечного) света его называют солнечной ячейкой. Принцип действия солнечной ячейки. Рассмотрим принцип действия кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом. Структура ячейки представлена на рис. 7.20. При освещении фотоэлемента из-за поглощения квантов света в p-n переходе ив областях полупроводника, прилегающих кр переходу, происходит поглощение квантов света и генерация электронно- дырочных пар – новых, неравновесных носителей заряда. Диффузионное электрическое поле, существующее в р переходе, производит разделение зарядов электроны уходят в область, а дырки – в р- область. В результате накопления электронов в области и дырок в p- области между этими областями возникает дополнительная разность потенциалов, так называемая фото-ЭДС.
Основные физические процессы в солнечной ячейке. Энергетическая диаграмма р перехода представлена на рис. 7.21. При попадании света на фотоэлемент возможны следующие виды фотоактивного поглощения
1. Электрон переходит из валентной зоны на уровень ионизированного акцептора А, при этом в валентной зоне появляется дырка. Она суть основной носитель в области иона не может преодолеть потенциальный барьер. Поэтому дырка останется в области и не создает обратного тока. Электрон на акцепторном уровне не может перемещаться и также не дает вклада в фототок. Электроны переходят из валентной зоны в зону проводимости, возникают два носителя – дырка в валентной зоне и электрон в зоне проводимости. Дырка в валентной зоне области является основным носителем и не участвует в образовании обратного тока из-за потенциального барьера. Электрон в зоне проводимости области является неосновным носителем, для него не существует барьера, поэтому он двигается к p-n переходу и скатывается с него, создавая обратный ток.
3. Если электронно-дырочная пара возникла в
p-n переходе, тополе объемного заряда растаскивает их в разные стороны – дырки в область, электроны в область. Таким образом, второй и третий процессы приводят к накоплению дырок в области и, аналогично, электронов в области, что создает дополнительную разность потенциалов. Накопление неравновесных носителей заряда в соответствующих областях не может продолжаться бесконечно, так как разделенные электроны и дырки продолжают притягиваться друг к другу обратный ток. Они создают электрическое поле, которое понижает высоту потенциального барьера между n- и областями на величину возникающей фото-ЭДС. Это понижение барьера уменьшает величину разделяющего поля в p-n переходе и аналогично прямому включению p-n перехода.
ħ
ω р Рис. 7.21 Энергетическая диаграмма p-n перехода,
E
F
- уровень Ферми, E
D
– энергетический уровень донора, E
A
– энергетический уровень акцептора
Полоска контакта область
р-область Е
Положительный
Отрицательный
Светочувствительный Рис. 7.20 Устройство кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом переход
n
Плотность тока через фотодиод. Вдали от p-n перехода электрическое поле очень слабое, поэтому основным механизмом движения носителей там является диффузия. Не все фотоэлектроны, возникающие при поглощении света, дойдут до p-n перехода, так как на этом пути возможна рекомбинация носителей заряда. Дойдут лишь те носители заряда, у которых время пути до перехода меньше времени жизни электрона в зоне проводимости (или расстояние до перехода больше длинны диффузионного пробега. Плотность тока через фотодиод складывается из тока электронов в р- области, дырок в области и электронно-дырочных пар, появившихся в p-n переходе где g – количество электронно-дырочных пар, родившихся в единицу времени с единицы площади p-n перехода. Основные характеристики фотоэлемента. Вольт-амперная характеристика. Основной характеристикой фотоэлемента является его вольт-амперная характеристика (ВАХ), при различных освещенностях или световых потоках (риса. При отсутствии освещения (J = 0) вольт-амперная характеристика имеет вид характерный для обычного р перехода. При увеличении освещенности
(J
1
и J
2
) появляется обратный ток неосновных носителей, и вся кривая смещается вниз. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью напряжений соответствуют значениям фото-ЭДС (или напряжению холостого хода U
хх
) при разных освещенностях (для кремниевого фотоэлемента фото-ЭДС имеет порядок 0,5–0,55 В. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью токов соответствуют значениям токов короткого замыкания I
кз
. У крема
I
кз1
I
кз2
U
хх1
U
хх2
P
max
б
J=0 Рис Общий вида) и рабочая область (б) вольт-амперной характеристики фотоэлемента
ниевых фотоэлементов плотность тока короткого замыкания при средней освещенности солнечным светом имеет порядок 20-25 мА/см
2
По вольт-амперной характеристике при различных освещенностях фотоэлемента можно выбрать оптимальный режим работы фотоэлемента, те. оптимальное сопротивление нагрузки, при котором в нагрузке будет выделяться наибольшая мощность. Оптимальному режиму работы фотоэлементов соответствует наибольшая площадь вписанного прямоугольника с вершиной на вольт- амперной характеристике при заданной освещенности (рис. 7.22 б. Для кремниевых фотоэлементов при оптимальной нагрузке напряжение нагрузки составляет 0,35-0,4 В, плотность тока 15-20 мА/см
2
Так как рабочей областью является область прямого смещения р перехода и обратного тока, то обычно вольт-амперная характеристика фотоэлемента переворачивают иона имеет вид, приведенный на рис. 7.23.
2. Световые характеристики фотоэлемента. Световые характеристики фотоэлемента- это зависимости фото-ЭДС и тока короткого замыкания фотоэлемента от освещенности фотоэлемента. а) При малой освещенности зависимость I
кз
J линейна, т.к. ток прямо пропорционален количеству родившихся электронно-дырочных пар
g
I
кз
, а количество появившихся электронно-дырочных пар, в свою очередь, прямо пропорционально количеству поглощенных квантов света
J
g
, где α – показатель поглощения, J – интенсивность света, η – внутренний квантовый выход. Для кремниевых фотодиодов η
100%. Квантовый выход можно определить по экспериментальной зависимости I
кз
(J). Пропорциональность I
кз
g обусловлена тем, что р-область конструктивно изготовлена так, чтобы ее толщина была значительно меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда. Поэтому практически все неосновные носители, возникшие в р-области в результате световой генерации, доходят до р перехода и принимают участие в образовании фототока. Рис. 7.23 Вольт-амперная характеристика фотоэлемента при разных интенсивностях света J и линия оптимальной нагрузки
I
U Рис. 7.24 Ток короткого замыкания I
s и напряжение холостого хода о как функция интенсивности света J
I
s
, мА U
0
, В
J, Вт/м
2
I
s
U
0
Во всяком случае, потери неосновных носителей на рекомбинацию в р- области и на поверхности практически не зависят от освещенности, т.к. исходный полупроводник содержит малое количество неконтролируемых примесей, которые могли бы выполнять роль рекомбинационных ловушек и ловушек захвата. Отклонение световых характеристик от линейной зависимости связано с уменьшением высоты потенциального барьера при накоплении избыточного заряда электронов в области и дырок в р-области. б) По мере увеличения освещенности возрастает накопление зарядов, и дополнительная разность потенциалов все сильнее понижает потенциальный барьер. За счет этого увеличивается вклад прямого тока, и зависимость становится сублинейной. Рассмотрим основные характеристики солнечной батареи на примере батареи, состоящей из четырех ячеек, соединенных последовательно, и имеющую максимальное напряжение холостого хода не более 2 В. При слабых освещенностях зависимость напряжения холостого хода (U
хх
) от освещенности такая же, как у тока короткого замыкания. При возрастании освещенности потенциальный барьер понижается так сильно, что прямая составляющая тока уравновешивает обратный фототок вне зависимости от степени освещенности.
3. Эффективность преобразования. Коэффициент полезного действия КПД) представляет собой отношение максимальной мощности, которую можно получить от фотоэлемента, к полной мощности светового потока, падающего на рабочую поверхность фотоэлемента К основным процессам, приводящим к уменьшению КПД фотоэлемента, относят отражение от поверхности полупроводника, фотоэлектрически неактивное поглощение квантов света (поглощение без образования пар носителей электрон-дырка), рекомбинацию неравновесных носителей ещё до их разделения электрическим полем p-n перехода, а также потери мощности при прохождении тока через объемное сопротивление базы фотоэлемента. В результате этих процессов КПД кремниевых фотоэлементов при преобразовании солнечного света в электрическую энергию не превышает 12%.
4. Спектральная характеристика фотоэлемента. Спектральная характеристика фотоэлемента это зависимость тока короткого замыкания от длины волны падающего света. Для кремниевого фотоэлемента максимум спектральной характеристики почти соответствует максимуму спектрального распределения энергии солнечного света (рис. 7.25). Именно поэтому кремниевые фотоэлементы широ-
Рис. 7.25 Спектр Солнца (Т ≈ 5800 К, спектр света лампы (Т ≈ 2000 K) испек- тральная чувствительность кремниевой солнечной ячейки ко используются для создания солнечных батарей. Спектр лампы и Солнца отличаются тем, что у Солнца больше коротковолнового излучения (с большей энергией, ау лампы больше длинноволновая составляющая. Таким образом, лампа сильнее нагревает фотоэлемент, поэтому ее свет дает меньший ток короткого замыкания и, соответственно, меньший КПД. Если энергия кванта света меньше ширины запрещенной зоны, то фотоэффекта не будет вовсе, поэтому существует минимальная энергия (или максимальная длина волны, при которой эффект ещё наблюдается. Для кремния Si ширина запрещенной зоны ΔE = 1,1 эВ, что соответствует длине волны λ
max
= 1,3 мкм и частоте ν = 2,5·10 14
Гц.
5. Зависимость I
к.з.
и U
хх
от температуры. С повышением температуры фотоэлемента происходит а) понижение потенциального барьера (уменьшатся ширина запрещенной зоны) и б) увеличивается количество основных носителей, имеющих большую энергию, те. происходит перераспределение носителей по уровням. Понижение барьера приводит к понижению напряжения холостого хода (а также тока короткого замыкания) – уменьшается площадь под ВАХ – уменьшается КПД фотоэлемента (рис. 7.26).
7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод Диод во внешнем электрическом поле. Слово диод, образовано от греческих корней «di» — два, и «odos» — путь. Полупроводниковый диод — это полупроводниковый прибор с одним р переходом и двумя выводами электродами. Полупроводниковые диоды используют свойство односторонней проводимости p-n перехода — контакта между полупроводниками с разным типом примесной проводимости. Принцип действия полупроводникового диода основывается на выпрямляющем свойстве p-n перехода. По назначению диоды бывают выпрямительные диоды - предназначенные для преобразования переменного тока в постоянный импульсные диоды - имеют малую длительность переходных процессов, предназначены для применения в импульсных режимах работы, ограничительные диоды - предназначенные для защиты радио и бытовой аппаратуры от повышения сетевого напряжения и другие.
Вольт-амперная характеристика диода – это зависимость силы тока от приложенного к диоду напряжения (рис. 7.27). Если созданное внешним источником электрическое поле в p-n переходе противоположно диффузионному полю, то ток через переход возрастает в соответствии с прямой ветвью Рис. 7.26 Вольт-амперная характеристика солнечной батареи a) с охлаждающим вентилятором, b) без охлаждающего вентилятора, c) при экранировке стеклянным колпаком, мА
100 50
c в
a
0 1 2 U, В вольт-амперной характеристики (ВАХ) диода. Прямая ветвь вольт-амперной характеристики имеет вид экспоненты. Факторы, влияющие на прямой ток диода
1. При увеличении температуры а) уменьшается высота потенциального барьера и б) изменяется распределение носителей заряда по энергиям – электроны занимают все более высокие уровни в зоне проводимости. Из-за этих двух причин прямой ток через диод увеличивается с ростом температуры при неизменном приложенном напряжении.
2. У диода с большей шириной запрещенной зоны больше высота потенциального барьера, поэтому прямой ток через диод из материала с большей шириной запрещенной зоны будет меньше притом же напряжении.
3. С увеличением концентрации примесей в прилегающих к p-n переходу областях будет увеличиваться высота потенциального барьера, а значит, будет меньше прямой ток при неизменном напряжении. Если созданное внешним источником электрическое поле в переходе совпадает по направлению с диффузионным, то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается. В этом случае зависимость тока от напряжения соответствует обратной ветви вольт-амперной характеристики диода, а приложенное внешнее напряжение называется обратным. Величина потока неосновных носителей заряда не зависит от величины обратного напряжения U
обр
. Она определяется только скоростью их тепловой генерации в объеме полупроводника и скоростью их диффузии к p-n переходу (к области объемного заряда, пересекая который они и дают вклад в электрический ток, текущий через p-n переход. Однако достичь перехода могут не все неосновные носители, а только те, которые родились достаточно близко от него (на расстоянии диффузионной длины. Остальные неосновные носители не доходят до перехода и не дают вклада в ток. Обратный ток, начиная с малых значений обратного напряжения, не изменяется. Такой ток называется током насыщения. На рисунке 7.27 ток насыщения обозначен Факторы, влияющие на ток насыщения
1. С увеличением температуры ток насыщения увеличивается, т.к. экспоненциально увеличивается собственная концентрация носителей заряда.
2. В диодах на основе материалов с большей шириной запрещенной зоны плотность тока насыщения будет больше, так как собственная концентрация экспоненциально уменьшается.
3. С увеличением концентрации примесей плотность тока насыщения уменьшается (меньше время жизни из-за усиления рекомбинации с основными носителями. Пробой диодов. При достижении обратным напряжением некоторого критического для данного диода значения происходит резкое увеличение об-
Рис. 7.27 Вольт-амперная характеристика выпрямляющего диода
0 проб
I
0
U
ратного тока через диод. Это явление называется пробоем диода. В зависимости от физических явлений, приводящих к пробою, различают лавинный, туннельный и тепловой пробои. Лавинный пробой Под действием сильного электрического поля, при котором носители заряда приобретают энергии, достаточные для образования новых электронно-дырочных пар в результате ударной ионизации атомов полупроводника, возникают лавины носителей заряда. Пробивное напряжение определяется концентрацией примеси в слаболегированной области, т.к. она определяет ширину p-n перехода. С повышением температуры уменьшается длина свободного пробега носителей заряда, а значит, уменьшается и энергия, которую носитель заряда может приобрести на длине свободного пробега в электрическом поле. Следовательно, повышение температуры приводит к увеличению пробивного напряжения при лавинном пробое (рис. 7.28). При возникновении лавинного пробоя возникают шумы. Вначале этот процесс неустойчив он возникает, срывается, возникает снова. С увеличением тока процесс ударной ионизации становится устойчивыми шумы исчезают. Это характерная особенность лавинного пробоя. Туннельный пробой Если ширина потенциального барьера δ становится достаточно малой, то возможно туннелирование электронов сквозь запрещенную зону полупроводника без изменения их энергии. Внешне туннельный эффект проявляется как пробой диода, при этом пробивное напряжение обратно пропорционально концентрации примесей. При одной и той же ширине запрещенной зоны (для одного итого же материала) ширина потенциального барьера определяется напряженностью электрического поля, те. наклоном энергетических уровней и зон. Значение критической напряженности электрического поля составляет примерно 8·10 5
В/м для Si и 3·10 5
В/м для Ge. С повышением температуры ширина запрещенной зоны большинства полупроводников убывает. Следовательно, при этом уменьшается и толщина барьера при той же напряженности поля, что приводит к увеличению вероятности туннелирования сквозь потенциальный барьер, поэтому пробивное напряжение при туннельном пробое уменьшается с увеличением температуры. Так как при туннельном пробое необходима малая толщина p-n перехода, он наблюдается в диодах, изготовленных из полупроводников с большой концентрацией примесей. Тепловой пробой Тепловой пробой в диодах происходит с образованием так называемого шнура или канала высокой проводимости, температура в котором превышает среднюю температуру остальной части p-n перехода. Образование шнура обычно вызвано дефектами в p-n переходе. Если плотность обратного тока в каком-нибудь месте p-n перехода оказалась больше плотности тока в остальной части перехода, то температура этого места будет еще выше из-за выделяющегося тепла Джоуля-Ленца. Локальное увеличение тем-
Рис. 7.28 Вольт-амперная характеристика при лавинном пробое
U
обр проб
I
обр
пературы приводит к дальнейшему росту плотности тока, что вызывает локальное повышение температуры и т.д. Тепловой пробой может возникнуть и при малых обратных токах и напряжениях. Светоизлучающий диод (LED – Light-emitting diode) – это полупроводниковый прибор, преобразующий электрическую энергию, в энергию оптического излучения. Излучение вызвано рекомбинацией (возвращением электронов из зоны проводимости в валентную зону) носителей заряда при прохождении тока в прямом направлении через выпрямляющий электрический переход. Область структуры светодиода, в которой происходит рекомбинация электронов и дырок называется активной. В основе светоизлучающего диода лежит многослойная гетероструктура. Гетероструктура представляет собой последовательность полупроводниковых слоев отличающихся химическим составом и шириной запрещенной зоны. Гетеропереходом называют переходный слой с существующим в нём диффузионным электрическим полем между двумя различными по химическому составу полупроводниками. Для формирования качественного гетероперехода необходимо совпадение типа, ориентации и периода кристаллических решёток контактирующих полупроводников. При образовании гетероперехода, из-за различия работ выхода электронов из разных полупроводников, происходит перераспределение носителей заряда в приконтактной области и выравнивание уровней Ферми. В результате установления термодинамического равновесия, остальные энергетические уровни изгибаются – возникают диффузионное электрическое поле икон- тактная разность потенциалов. Энергетические зоны различных полупроводников отличаются по ширине, поэтому на границе раздела двух полупроводников получается разрыв дна зоны проводимости и валентной зоны, что приводит к наличию разной высоты потенциального барьера для электронов и дырок. В связи с этим, прямой ток через гетеропереход связан в основном сдвижением носителей заряда только одного знака. Излучаемый свет лежит в узком диапазоне спектра электромагнитных волн. Длина волны излучения светодиода зависит от химического состава использованного в активной области полупроводника. Красные и желтые светодиоды изготавливаются из твердых растворов соединений элементов AlGaAs и AlGaInP, а зеленые и синие из более широкозонного материала InGaN. Для того чтобы кванты энергии (фотоны, Рис. 7.29 Зависимость длины волны желтого светодиода от температуры активной области Длина волны, нм
594 592 590 588 586
-40 10 60 t,
0
C
освободившиеся при рекомбинации, соответствовали квантам видимого света, ширина запрещенной зоны исходного полупроводника должна быть достаточно большой (Е > 1,7 эВ, при меньшей ширине запрещенной зоны исходного полупроводника кванты энергии, освобождающиеся при рекомбинации носителей заряда, соответствуют инфракрасной области излучения. Энергия фотона, образовавшегося при рекомбинации, определяется
h
Е
Так как частота связана с длиной волны сто энергию можно выразить
с
h
Е
. (7.61) Максимум в спектре излучения светодиода max
соответствует наиболее вероятному переходу – с нижнего энергетического уровня свободной зоны на верхний уровень валентной зоны. Тогда с, (7.62) где Е - ширина запрещенной зоны полупроводника. Активная область ограничена слоями полупроводника с большей шириной запрещенной зоны, которые обеспечивают локализацию носителей вуз- козонной области, что приводит к увеличению вероятности рекомбинации носителей заряда. Отношение излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей называется внутренним квантовым выходом Если бы рекомбинация неравновесных электронов и дырок, в активной области происходила только с излучением фотонов, то внутренний квантовый выход был бы равен 100%. Однако значительная часть актов рекомбинации не заканчивается выделением энергии в виде фотонов. Такие переходы электронов между энергетическими уровнями называют безызлучательными. Соотношение между излучательными и безызлучательными переходами зависит отряда причин, в частности от структуры энергетических зон полупроводника, наличия примесей, которые могут увеличить или уменьшить вероятность излучательных пере- ходов.
Увеличение длины волны с повышением температуры активной области светодиода вызвано уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника, при этом, из-за увеличения влияния колебаний кристаллической решетки уменьшается внутренний квантовый выход. Яркость светодиода с увеличением температуры падает рис. Падение яркости с повышением температуры неодинаково у светодиодов разных цветов У материалов с меньшей шириной запрещенной зоны температурная зависимость длины волны и яркости сильнее. Она больше у красных и желтых, и меньше у зеленых, синих и белых Поэтому для надежной и стабильной работы светодиодов важен хороший теплоотвод Даже при высоком внутреннем квантовом выходе (в GaAs и внутренний квантовый выход излучательной рекомбинации равен 100%) внешний квантовый выход значительно меньше. Образовавшиеся фотоны могут поглотиться полупроводником до выхода в окружающее пространство. Существенными являются потери при полном внутреннем отражении фотонов, падающих на границу раздела полупроводника и окружающей атмосферы под углом, превышающим критический угол полного внутреннего отражения
1 в, (7.63) где
2
n
- абсолютный показатель преломления среды, окружающей полупроводник- абсолютный показатель преломления полупроводника. Для многих полупроводников
0 в, поэтому если полупроводник имеет плоскую форму, то только незначительная часть фотонов (около 1,5%) покинет полупроводник. Наиболее простым решением является формирование на поверхности кристалла сферического покрытия из пластического материала с высоким показателем преломления для увеличения критического угла полного внутреннего отражения.
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
7.10 Cолнечные генераторы электроэнергии на основе полупроводниковых структур Фотоэлемент является источником электропитания, который генерирует электрическое напряжение за счет поглощения света, испускаемого внешними источниками. В случае поглощения фотоэлементом видимого (солнечного) света его называют солнечной ячейкой. Принцип действия солнечной ячейки. Рассмотрим принцип действия кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом. Структура ячейки представлена на рис. 7.20. При освещении фотоэлемента из-за поглощения квантов света в p-n переходе ив областях полупроводника, прилегающих кр переходу, происходит поглощение квантов света и генерация электронно- дырочных пар – новых, неравновесных носителей заряда. Диффузионное электрическое поле, существующее в р переходе, производит разделение зарядов электроны уходят в область, а дырки – в р- область. В результате накопления электронов в области и дырок в p- области между этими областями возникает дополнительная разность потенциалов, так называемая фото-ЭДС.
Основные физические процессы в солнечной ячейке. Энергетическая диаграмма р перехода представлена на рис. 7.21. При попадании света на фотоэлемент возможны следующие виды фотоактивного поглощения
1. Электрон переходит из валентной зоны на уровень ионизированного акцептора А, при этом в валентной зоне появляется дырка. Она суть основной носитель в области иона не может преодолеть потенциальный барьер. Поэтому дырка останется в области и не создает обратного тока. Электрон на акцепторном уровне не может перемещаться и также не дает вклада в фототок. Электроны переходят из валентной зоны в зону проводимости, возникают два носителя – дырка в валентной зоне и электрон в зоне проводимости. Дырка в валентной зоне области является основным носителем и не участвует в образовании обратного тока из-за потенциального барьера. Электрон в зоне проводимости области является неосновным носителем, для него не существует барьера, поэтому он двигается к p-n переходу и скатывается с него, создавая обратный ток.
3. Если электронно-дырочная пара возникла в
p-n переходе, тополе объемного заряда растаскивает их в разные стороны – дырки в область, электроны в область. Таким образом, второй и третий процессы приводят к накоплению дырок в области и, аналогично, электронов в области, что создает дополнительную разность потенциалов. Накопление неравновесных носителей заряда в соответствующих областях не может продолжаться бесконечно, так как разделенные электроны и дырки продолжают притягиваться друг к другу обратный ток. Они создают электрическое поле, которое понижает высоту потенциального барьера между n- и областями на величину возникающей фото-ЭДС. Это понижение барьера уменьшает величину разделяющего поля в p-n переходе и аналогично прямому включению p-n перехода.
ħ
ω р Рис. 7.21 Энергетическая диаграмма p-n перехода,
E
F
- уровень Ферми, E
D
– энергетический уровень донора, E
A
– энергетический уровень акцептора
Полоска контакта область
р-область Е
Положительный
Отрицательный
Светочувствительный Рис. 7.20 Устройство кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом переход
n
Плотность тока через фотодиод. Вдали от p-n перехода электрическое поле очень слабое, поэтому основным механизмом движения носителей там является диффузия. Не все фотоэлектроны, возникающие при поглощении света, дойдут до p-n перехода, так как на этом пути возможна рекомбинация носителей заряда. Дойдут лишь те носители заряда, у которых время пути до перехода меньше времени жизни электрона в зоне проводимости (или расстояние до перехода больше длинны диффузионного пробега. Плотность тока через фотодиод складывается из тока электронов в р- области, дырок в области и электронно-дырочных пар, появившихся в p-n переходе где g – количество электронно-дырочных пар, родившихся в единицу времени с единицы площади p-n перехода. Основные характеристики фотоэлемента. Вольт-амперная характеристика. Основной характеристикой фотоэлемента является его вольт-амперная характеристика (ВАХ), при различных освещенностях или световых потоках (риса. При отсутствии освещения (J = 0) вольт-амперная характеристика имеет вид характерный для обычного р перехода. При увеличении освещенности
(J
1
и J
2
) появляется обратный ток неосновных носителей, и вся кривая смещается вниз. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью напряжений соответствуют значениям фото-ЭДС (или напряжению холостого хода U
хх
) при разных освещенностях (для кремниевого фотоэлемента фото-ЭДС имеет порядок 0,5–0,55 В. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью токов соответствуют значениям токов короткого замыкания I
кз
. У крема
I
кз1
I
кз2
U
хх1
U
хх2
P
max
б
J=0 Рис Общий вида) и рабочая область (б) вольт-амперной характеристики фотоэлемента
ниевых фотоэлементов плотность тока короткого замыкания при средней освещенности солнечным светом имеет порядок 20-25 мА/см
2
По вольт-амперной характеристике при различных освещенностях фотоэлемента можно выбрать оптимальный режим работы фотоэлемента, те. оптимальное сопротивление нагрузки, при котором в нагрузке будет выделяться наибольшая мощность. Оптимальному режиму работы фотоэлементов соответствует наибольшая площадь вписанного прямоугольника с вершиной на вольт- амперной характеристике при заданной освещенности (рис. 7.22 б. Для кремниевых фотоэлементов при оптимальной нагрузке напряжение нагрузки составляет 0,35-0,4 В, плотность тока 15-20 мА/см
2
Так как рабочей областью является область прямого смещения р перехода и обратного тока, то обычно вольт-амперная характеристика фотоэлемента переворачивают иона имеет вид, приведенный на рис. 7.23.
2. Световые характеристики фотоэлемента. Световые характеристики фотоэлемента- это зависимости фото-ЭДС и тока короткого замыкания фотоэлемента от освещенности фотоэлемента. а) При малой освещенности зависимость I
кз
J линейна, т.к. ток прямо пропорционален количеству родившихся электронно-дырочных пар
g
I
кз
, а количество появившихся электронно-дырочных пар, в свою очередь, прямо пропорционально количеству поглощенных квантов света
J
g
, где α – показатель поглощения, J – интенсивность света, η – внутренний квантовый выход. Для кремниевых фотодиодов η
100%. Квантовый выход можно определить по экспериментальной зависимости I
кз
(J). Пропорциональность I
кз
g обусловлена тем, что р-область конструктивно изготовлена так, чтобы ее толщина была значительно меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда. Поэтому практически все неосновные носители, возникшие в р-области в результате световой генерации, доходят до р перехода и принимают участие в образовании фототока. Рис. 7.23 Вольт-амперная характеристика фотоэлемента при разных интенсивностях света J и линия оптимальной нагрузки
I
U Рис. 7.24 Ток короткого замыкания I
s и напряжение холостого хода о как функция интенсивности света J
I
s
, мА U
0
, В
J, Вт/м
2
I
s
U
0
Во всяком случае, потери неосновных носителей на рекомбинацию в р- области и на поверхности практически не зависят от освещенности, т.к. исходный полупроводник содержит малое количество неконтролируемых примесей, которые могли бы выполнять роль рекомбинационных ловушек и ловушек захвата. Отклонение световых характеристик от линейной зависимости связано с уменьшением высоты потенциального барьера при накоплении избыточного заряда электронов в области и дырок в р-области. б) По мере увеличения освещенности возрастает накопление зарядов, и дополнительная разность потенциалов все сильнее понижает потенциальный барьер. За счет этого увеличивается вклад прямого тока, и зависимость становится сублинейной. Рассмотрим основные характеристики солнечной батареи на примере батареи, состоящей из четырех ячеек, соединенных последовательно, и имеющую максимальное напряжение холостого хода не более 2 В. При слабых освещенностях зависимость напряжения холостого хода (U
хх
) от освещенности такая же, как у тока короткого замыкания. При возрастании освещенности потенциальный барьер понижается так сильно, что прямая составляющая тока уравновешивает обратный фототок вне зависимости от степени освещенности.
3. Эффективность преобразования. Коэффициент полезного действия КПД) представляет собой отношение максимальной мощности, которую можно получить от фотоэлемента, к полной мощности светового потока, падающего на рабочую поверхность фотоэлемента К основным процессам, приводящим к уменьшению КПД фотоэлемента, относят отражение от поверхности полупроводника, фотоэлектрически неактивное поглощение квантов света (поглощение без образования пар носителей электрон-дырка), рекомбинацию неравновесных носителей ещё до их разделения электрическим полем p-n перехода, а также потери мощности при прохождении тока через объемное сопротивление базы фотоэлемента. В результате этих процессов КПД кремниевых фотоэлементов при преобразовании солнечного света в электрическую энергию не превышает 12%.
4. Спектральная характеристика фотоэлемента. Спектральная характеристика фотоэлемента это зависимость тока короткого замыкания от длины волны падающего света. Для кремниевого фотоэлемента максимум спектральной характеристики почти соответствует максимуму спектрального распределения энергии солнечного света (рис. 7.25). Именно поэтому кремниевые фотоэлементы широ-
Рис. 7.25 Спектр Солнца (Т ≈ 5800 К, спектр света лампы (Т ≈ 2000 K) испек- тральная чувствительность кремниевой солнечной ячейки ко используются для создания солнечных батарей. Спектр лампы и Солнца отличаются тем, что у Солнца больше коротковолнового излучения (с большей энергией, ау лампы больше длинноволновая составляющая. Таким образом, лампа сильнее нагревает фотоэлемент, поэтому ее свет дает меньший ток короткого замыкания и, соответственно, меньший КПД. Если энергия кванта света меньше ширины запрещенной зоны, то фотоэффекта не будет вовсе, поэтому существует минимальная энергия (или максимальная длина волны, при которой эффект ещё наблюдается. Для кремния Si ширина запрещенной зоны ΔE = 1,1 эВ, что соответствует длине волны λ
max
= 1,3 мкм и частоте ν = 2,5·10 14
Гц.
5. Зависимость I
к.з.
и U
хх
от температуры. С повышением температуры фотоэлемента происходит а) понижение потенциального барьера (уменьшатся ширина запрещенной зоны) и б) увеличивается количество основных носителей, имеющих большую энергию, те. происходит перераспределение носителей по уровням. Понижение барьера приводит к понижению напряжения холостого хода (а также тока короткого замыкания) – уменьшается площадь под ВАХ – уменьшается КПД фотоэлемента (рис. 7.26).
7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод Диод во внешнем электрическом поле. Слово диод, образовано от греческих корней «di» — два, и «odos» — путь. Полупроводниковый диод — это полупроводниковый прибор с одним р переходом и двумя выводами электродами. Полупроводниковые диоды используют свойство односторонней проводимости p-n перехода — контакта между полупроводниками с разным типом примесной проводимости. Принцип действия полупроводникового диода основывается на выпрямляющем свойстве p-n перехода. По назначению диоды бывают выпрямительные диоды - предназначенные для преобразования переменного тока в постоянный импульсные диоды - имеют малую длительность переходных процессов, предназначены для применения в импульсных режимах работы, ограничительные диоды - предназначенные для защиты радио и бытовой аппаратуры от повышения сетевого напряжения и другие.
Вольт-амперная характеристика диода – это зависимость силы тока от приложенного к диоду напряжения (рис. 7.27). Если созданное внешним источником электрическое поле в p-n переходе противоположно диффузионному полю, то ток через переход возрастает в соответствии с прямой ветвью Рис. 7.26 Вольт-амперная характеристика солнечной батареи a) с охлаждающим вентилятором, b) без охлаждающего вентилятора, c) при экранировке стеклянным колпаком, мА
100 50
c в
a
0 1 2 U, В вольт-амперной характеристики (ВАХ) диода. Прямая ветвь вольт-амперной характеристики имеет вид экспоненты. Факторы, влияющие на прямой ток диода
1. При увеличении температуры а) уменьшается высота потенциального барьера и б) изменяется распределение носителей заряда по энергиям – электроны занимают все более высокие уровни в зоне проводимости. Из-за этих двух причин прямой ток через диод увеличивается с ростом температуры при неизменном приложенном напряжении.
2. У диода с большей шириной запрещенной зоны больше высота потенциального барьера, поэтому прямой ток через диод из материала с большей шириной запрещенной зоны будет меньше притом же напряжении.
3. С увеличением концентрации примесей в прилегающих к p-n переходу областях будет увеличиваться высота потенциального барьера, а значит, будет меньше прямой ток при неизменном напряжении. Если созданное внешним источником электрическое поле в переходе совпадает по направлению с диффузионным, то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается. В этом случае зависимость тока от напряжения соответствует обратной ветви вольт-амперной характеристики диода, а приложенное внешнее напряжение называется обратным. Величина потока неосновных носителей заряда не зависит от величины обратного напряжения U
обр
. Она определяется только скоростью их тепловой генерации в объеме полупроводника и скоростью их диффузии к p-n переходу (к области объемного заряда, пересекая который они и дают вклад в электрический ток, текущий через p-n переход. Однако достичь перехода могут не все неосновные носители, а только те, которые родились достаточно близко от него (на расстоянии диффузионной длины. Остальные неосновные носители не доходят до перехода и не дают вклада в ток. Обратный ток, начиная с малых значений обратного напряжения, не изменяется. Такой ток называется током насыщения. На рисунке 7.27 ток насыщения обозначен Факторы, влияющие на ток насыщения
1. С увеличением температуры ток насыщения увеличивается, т.к. экспоненциально увеличивается собственная концентрация носителей заряда.
2. В диодах на основе материалов с большей шириной запрещенной зоны плотность тока насыщения будет больше, так как собственная концентрация экспоненциально уменьшается.
3. С увеличением концентрации примесей плотность тока насыщения уменьшается (меньше время жизни из-за усиления рекомбинации с основными носителями. Пробой диодов. При достижении обратным напряжением некоторого критического для данного диода значения происходит резкое увеличение об-
Рис. 7.27 Вольт-амперная характеристика выпрямляющего диода
0 проб
I
0
U
ратного тока через диод. Это явление называется пробоем диода. В зависимости от физических явлений, приводящих к пробою, различают лавинный, туннельный и тепловой пробои. Лавинный пробой Под действием сильного электрического поля, при котором носители заряда приобретают энергии, достаточные для образования новых электронно-дырочных пар в результате ударной ионизации атомов полупроводника, возникают лавины носителей заряда. Пробивное напряжение определяется концентрацией примеси в слаболегированной области, т.к. она определяет ширину p-n перехода. С повышением температуры уменьшается длина свободного пробега носителей заряда, а значит, уменьшается и энергия, которую носитель заряда может приобрести на длине свободного пробега в электрическом поле. Следовательно, повышение температуры приводит к увеличению пробивного напряжения при лавинном пробое (рис. 7.28). При возникновении лавинного пробоя возникают шумы. Вначале этот процесс неустойчив он возникает, срывается, возникает снова. С увеличением тока процесс ударной ионизации становится устойчивыми шумы исчезают. Это характерная особенность лавинного пробоя. Туннельный пробой Если ширина потенциального барьера δ становится достаточно малой, то возможно туннелирование электронов сквозь запрещенную зону полупроводника без изменения их энергии. Внешне туннельный эффект проявляется как пробой диода, при этом пробивное напряжение обратно пропорционально концентрации примесей. При одной и той же ширине запрещенной зоны (для одного итого же материала) ширина потенциального барьера определяется напряженностью электрического поля, те. наклоном энергетических уровней и зон. Значение критической напряженности электрического поля составляет примерно 8·10 5
В/м для Si и 3·10 5
В/м для Ge. С повышением температуры ширина запрещенной зоны большинства полупроводников убывает. Следовательно, при этом уменьшается и толщина барьера при той же напряженности поля, что приводит к увеличению вероятности туннелирования сквозь потенциальный барьер, поэтому пробивное напряжение при туннельном пробое уменьшается с увеличением температуры. Так как при туннельном пробое необходима малая толщина p-n перехода, он наблюдается в диодах, изготовленных из полупроводников с большой концентрацией примесей. Тепловой пробой Тепловой пробой в диодах происходит с образованием так называемого шнура или канала высокой проводимости, температура в котором превышает среднюю температуру остальной части p-n перехода. Образование шнура обычно вызвано дефектами в p-n переходе. Если плотность обратного тока в каком-нибудь месте p-n перехода оказалась больше плотности тока в остальной части перехода, то температура этого места будет еще выше из-за выделяющегося тепла Джоуля-Ленца. Локальное увеличение тем-
Рис. 7.28 Вольт-амперная характеристика при лавинном пробое
U
обр проб
I
обр
пературы приводит к дальнейшему росту плотности тока, что вызывает локальное повышение температуры и т.д. Тепловой пробой может возникнуть и при малых обратных токах и напряжениях. Светоизлучающий диод (LED – Light-emitting diode) – это полупроводниковый прибор, преобразующий электрическую энергию, в энергию оптического излучения. Излучение вызвано рекомбинацией (возвращением электронов из зоны проводимости в валентную зону) носителей заряда при прохождении тока в прямом направлении через выпрямляющий электрический переход. Область структуры светодиода, в которой происходит рекомбинация электронов и дырок называется активной. В основе светоизлучающего диода лежит многослойная гетероструктура. Гетероструктура представляет собой последовательность полупроводниковых слоев отличающихся химическим составом и шириной запрещенной зоны. Гетеропереходом называют переходный слой с существующим в нём диффузионным электрическим полем между двумя различными по химическому составу полупроводниками. Для формирования качественного гетероперехода необходимо совпадение типа, ориентации и периода кристаллических решёток контактирующих полупроводников. При образовании гетероперехода, из-за различия работ выхода электронов из разных полупроводников, происходит перераспределение носителей заряда в приконтактной области и выравнивание уровней Ферми. В результате установления термодинамического равновесия, остальные энергетические уровни изгибаются – возникают диффузионное электрическое поле икон- тактная разность потенциалов. Энергетические зоны различных полупроводников отличаются по ширине, поэтому на границе раздела двух полупроводников получается разрыв дна зоны проводимости и валентной зоны, что приводит к наличию разной высоты потенциального барьера для электронов и дырок. В связи с этим, прямой ток через гетеропереход связан в основном сдвижением носителей заряда только одного знака. Излучаемый свет лежит в узком диапазоне спектра электромагнитных волн. Длина волны излучения светодиода зависит от химического состава использованного в активной области полупроводника. Красные и желтые светодиоды изготавливаются из твердых растворов соединений элементов AlGaAs и AlGaInP, а зеленые и синие из более широкозонного материала InGaN. Для того чтобы кванты энергии (фотоны, Рис. 7.29 Зависимость длины волны желтого светодиода от температуры активной области Длина волны, нм
594 592 590 588 586
-40 10 60 t,
0
C
освободившиеся при рекомбинации, соответствовали квантам видимого света, ширина запрещенной зоны исходного полупроводника должна быть достаточно большой (Е > 1,7 эВ, при меньшей ширине запрещенной зоны исходного полупроводника кванты энергии, освобождающиеся при рекомбинации носителей заряда, соответствуют инфракрасной области излучения. Энергия фотона, образовавшегося при рекомбинации, определяется
h
Е
Так как частота связана с длиной волны сто энергию можно выразить
с
h
Е
. (7.61) Максимум в спектре излучения светодиода max
соответствует наиболее вероятному переходу – с нижнего энергетического уровня свободной зоны на верхний уровень валентной зоны. Тогда с, (7.62) где Е - ширина запрещенной зоны полупроводника. Активная область ограничена слоями полупроводника с большей шириной запрещенной зоны, которые обеспечивают локализацию носителей вуз- козонной области, что приводит к увеличению вероятности рекомбинации носителей заряда. Отношение излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей называется внутренним квантовым выходом Если бы рекомбинация неравновесных электронов и дырок, в активной области происходила только с излучением фотонов, то внутренний квантовый выход был бы равен 100%. Однако значительная часть актов рекомбинации не заканчивается выделением энергии в виде фотонов. Такие переходы электронов между энергетическими уровнями называют безызлучательными. Соотношение между излучательными и безызлучательными переходами зависит отряда причин, в частности от структуры энергетических зон полупроводника, наличия примесей, которые могут увеличить или уменьшить вероятность излучательных пере- ходов.
Увеличение длины волны с повышением температуры активной области светодиода вызвано уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника, при этом, из-за увеличения влияния колебаний кристаллической решетки уменьшается внутренний квантовый выход. Яркость светодиода с увеличением температуры падает рис. Падение яркости с повышением температуры неодинаково у светодиодов разных цветов У материалов с меньшей шириной запрещенной зоны температурная зависимость длины волны и яркости сильнее. Она больше у красных и желтых, и меньше у зеленых, синих и белых Поэтому для надежной и стабильной работы светодиодов важен хороший теплоотвод Даже при высоком внутреннем квантовом выходе (в GaAs и внутренний квантовый выход излучательной рекомбинации равен 100%) внешний квантовый выход значительно меньше. Образовавшиеся фотоны могут поглотиться полупроводником до выхода в окружающее пространство. Существенными являются потери при полном внутреннем отражении фотонов, падающих на границу раздела полупроводника и окружающей атмосферы под углом, превышающим критический угол полного внутреннего отражения
1 в, (7.63) где
2
n
- абсолютный показатель преломления среды, окружающей полупроводник- абсолютный показатель преломления полупроводника. Для многих полупроводников
0 в, поэтому если полупроводник имеет плоскую форму, то только незначительная часть фотонов (около 1,5%) покинет полупроводник. Наиболее простым решением является формирование на поверхности кристалла сферического покрытия из пластического материала с высоким показателем преломления для увеличения критического угла полного внутреннего отражения.
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
1. Электрон переходит из валентной зоны на уровень ионизированного акцептора А, при этом в валентной зоне появляется дырка. Она суть основной носитель в области иона не может преодолеть потенциальный барьер. Поэтому дырка останется в области и не создает обратного тока. Электрон на акцепторном уровне не может перемещаться и также не дает вклада в фототок. Электроны переходят из валентной зоны в зону проводимости, возникают два носителя – дырка в валентной зоне и электрон в зоне проводимости. Дырка в валентной зоне области является основным носителем и не участвует в образовании обратного тока из-за потенциального барьера. Электрон в зоне проводимости области является неосновным носителем, для него не существует барьера, поэтому он двигается к p-n переходу и скатывается с него, создавая обратный ток.
3. Если электронно-дырочная пара возникла в
p-n переходе, тополе объемного заряда растаскивает их в разные стороны – дырки в область, электроны в область. Таким образом, второй и третий процессы приводят к накоплению дырок в области и, аналогично, электронов в области, что создает дополнительную разность потенциалов. Накопление неравновесных носителей заряда в соответствующих областях не может продолжаться бесконечно, так как разделенные электроны и дырки продолжают притягиваться друг к другу обратный ток. Они создают электрическое поле, которое понижает высоту потенциального барьера между n- и областями на величину возникающей фото-ЭДС. Это понижение барьера уменьшает величину разделяющего поля в p-n переходе и аналогично прямому включению p-n перехода.
ħ
ω р Рис. 7.21 Энергетическая диаграмма p-n перехода,
E
F
- уровень Ферми, E
D
– энергетический уровень донора, E
A
– энергетический уровень акцептора
Полоска контакта область
р-область Е
Положительный
Отрицательный
Светочувствительный Рис. 7.20 Устройство кремниевой солнечной ячейки с p-n переходом переход
n
(J
1
и J
2
) появляется обратный ток неосновных носителей, и вся кривая смещается вниз. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью напряжений соответствуют значениям фото-ЭДС (или напряжению холостого хода U
хх
) при разных освещенностях (для кремниевого фотоэлемента фото-ЭДС имеет порядок 0,5–0,55 В. Точки пересечения вольт-амперной характеристики с осью токов соответствуют значениям токов короткого замыкания I
кз
. У крема
I
кз1
I
кз2
U
хх1
U
хх2
P
max
б
J=0 Рис Общий вида) и рабочая область (б) вольт-амперной характеристики фотоэлемента
2
По вольт-амперной характеристике при различных освещенностях фотоэлемента можно выбрать оптимальный режим работы фотоэлемента, те. оптимальное сопротивление нагрузки, при котором в нагрузке будет выделяться наибольшая мощность. Оптимальному режиму работы фотоэлементов соответствует наибольшая площадь вписанного прямоугольника с вершиной на вольт- амперной характеристике при заданной освещенности (рис. 7.22 б. Для кремниевых фотоэлементов при оптимальной нагрузке напряжение нагрузки составляет 0,35-0,4 В, плотность тока 15-20 мА/см
2
Так как рабочей областью является область прямого смещения р перехода и обратного тока, то обычно вольт-амперная характеристика фотоэлемента переворачивают иона имеет вид, приведенный на рис. 7.23.
2. Световые характеристики фотоэлемента. Световые характеристики фотоэлемента- это зависимости фото-ЭДС и тока короткого замыкания фотоэлемента от освещенности фотоэлемента. а) При малой освещенности зависимость I
кз
J линейна, т.к. ток прямо пропорционален количеству родившихся электронно-дырочных пар
g
I
кз
, а количество появившихся электронно-дырочных пар, в свою очередь, прямо пропорционально количеству поглощенных квантов света
J
g
, где α – показатель поглощения, J – интенсивность света, η – внутренний квантовый выход. Для кремниевых фотодиодов η
100%. Квантовый выход можно определить по экспериментальной зависимости I
кз
(J). Пропорциональность I
кз
g обусловлена тем, что р-область конструктивно изготовлена так, чтобы ее толщина была значительно меньше диффузионной длины неосновных носителей заряда. Поэтому практически все неосновные носители, возникшие в р-области в результате световой генерации, доходят до р перехода и принимают участие в образовании фототока. Рис. 7.23 Вольт-амперная характеристика фотоэлемента при разных интенсивностях света J и линия оптимальной нагрузки
I
U Рис. 7.24 Ток короткого замыкания I
s и напряжение холостого хода о как функция интенсивности света J
I
s
, мА U
0
, В
J, Вт/м
2
I
s
U
0
хх
) от освещенности такая же, как у тока короткого замыкания. При возрастании освещенности потенциальный барьер понижается так сильно, что прямая составляющая тока уравновешивает обратный фототок вне зависимости от степени освещенности.
3. Эффективность преобразования. Коэффициент полезного действия КПД) представляет собой отношение максимальной мощности, которую можно получить от фотоэлемента, к полной мощности светового потока, падающего на рабочую поверхность фотоэлемента К основным процессам, приводящим к уменьшению КПД фотоэлемента, относят отражение от поверхности полупроводника, фотоэлектрически неактивное поглощение квантов света (поглощение без образования пар носителей электрон-дырка), рекомбинацию неравновесных носителей ещё до их разделения электрическим полем p-n перехода, а также потери мощности при прохождении тока через объемное сопротивление базы фотоэлемента. В результате этих процессов КПД кремниевых фотоэлементов при преобразовании солнечного света в электрическую энергию не превышает 12%.
4. Спектральная характеристика фотоэлемента. Спектральная характеристика фотоэлемента это зависимость тока короткого замыкания от длины волны падающего света. Для кремниевого фотоэлемента максимум спектральной характеристики почти соответствует максимуму спектрального распределения энергии солнечного света (рис. 7.25). Именно поэтому кремниевые фотоэлементы широ-
Рис. 7.25 Спектр Солнца (Т ≈ 5800 К, спектр света лампы (Т ≈ 2000 K) испек- тральная чувствительность кремниевой солнечной ячейки
ко используются для создания солнечных батарей. Спектр лампы и Солнца отличаются тем, что у Солнца больше коротковолнового излучения (с большей энергией, ау лампы больше длинноволновая составляющая. Таким образом, лампа сильнее нагревает фотоэлемент, поэтому ее свет дает меньший ток короткого замыкания и, соответственно, меньший КПД. Если энергия кванта света меньше ширины запрещенной зоны, то фотоэффекта не будет вовсе, поэтому существует минимальная энергия (или максимальная длина волны, при которой эффект ещё наблюдается. Для кремния Si ширина запрещенной зоны ΔE = 1,1 эВ, что соответствует длине волны λ
max
= 1,3 мкм и частоте ν = 2,5·10 14
Гц.
5. Зависимость I
к.з.
и U
хх
от температуры. С повышением температуры фотоэлемента происходит а) понижение потенциального барьера (уменьшатся ширина запрещенной зоны) и б) увеличивается количество основных носителей, имеющих большую энергию, те. происходит перераспределение носителей по уровням. Понижение барьера приводит к понижению напряжения холостого хода (а также тока короткого замыкания) – уменьшается площадь под ВАХ – уменьшается КПД фотоэлемента (рис. 7.26).
7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод Диод во внешнем электрическом поле. Слово диод, образовано от греческих корней «di» — два, и «odos» — путь. Полупроводниковый диод — это полупроводниковый прибор с одним р переходом и двумя выводами электродами. Полупроводниковые диоды используют свойство односторонней проводимости p-n перехода — контакта между полупроводниками с разным типом примесной проводимости. Принцип действия полупроводникового диода основывается на выпрямляющем свойстве p-n перехода. По назначению диоды бывают выпрямительные диоды - предназначенные для преобразования переменного тока в постоянный импульсные диоды - имеют малую длительность переходных процессов, предназначены для применения в импульсных режимах работы, ограничительные диоды - предназначенные для защиты радио и бытовой аппаратуры от повышения сетевого напряжения и другие.
Вольт-амперная характеристика диода – это зависимость силы тока от приложенного к диоду напряжения (рис. 7.27). Если созданное внешним источником электрическое поле в p-n переходе противоположно диффузионному полю, то ток через переход возрастает в соответствии с прямой ветвью Рис. 7.26 Вольт-амперная характеристика солнечной батареи a) с охлаждающим вентилятором, b) без охлаждающего вентилятора, c) при экранировке стеклянным колпаком, мА
100 50
c в
a
0 1 2 U, В
max
= 1,3 мкм и частоте ν = 2,5·10 14
Гц.
5. Зависимость I
к.з.
и U
хх
от температуры. С повышением температуры фотоэлемента происходит а) понижение потенциального барьера (уменьшатся ширина запрещенной зоны) и б) увеличивается количество основных носителей, имеющих большую энергию, те. происходит перераспределение носителей по уровням. Понижение барьера приводит к понижению напряжения холостого хода (а также тока короткого замыкания) – уменьшается площадь под ВАХ – уменьшается КПД фотоэлемента (рис. 7.26).
7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод Диод во внешнем электрическом поле. Слово диод, образовано от греческих корней «di» — два, и «odos» — путь. Полупроводниковый диод — это полупроводниковый прибор с одним р переходом и двумя выводами электродами. Полупроводниковые диоды используют свойство односторонней проводимости p-n перехода — контакта между полупроводниками с разным типом примесной проводимости. Принцип действия полупроводникового диода основывается на выпрямляющем свойстве p-n перехода. По назначению диоды бывают выпрямительные диоды - предназначенные для преобразования переменного тока в постоянный импульсные диоды - имеют малую длительность переходных процессов, предназначены для применения в импульсных режимах работы, ограничительные диоды - предназначенные для защиты радио и бытовой аппаратуры от повышения сетевого напряжения и другие.
Вольт-амперная характеристика диода – это зависимость силы тока от приложенного к диоду напряжения (рис. 7.27). Если созданное внешним источником электрическое поле в p-n переходе противоположно диффузионному полю, то ток через переход возрастает в соответствии с прямой ветвью Рис. 7.26 Вольт-амперная характеристика солнечной батареи a) с охлаждающим вентилятором, b) без охлаждающего вентилятора, c) при экранировке стеклянным колпаком, мА
100 50
c в
a
0 1 2 U, В
вольт-амперной характеристики (ВАХ) диода. Прямая ветвь вольт-амперной характеристики имеет вид экспоненты. Факторы, влияющие на прямой ток диода
1. При увеличении температуры а) уменьшается высота потенциального барьера и б) изменяется распределение носителей заряда по энергиям – электроны занимают все более высокие уровни в зоне проводимости. Из-за этих двух причин прямой ток через диод увеличивается с ростом температуры при неизменном приложенном напряжении.
2. У диода с большей шириной запрещенной зоны больше высота потенциального барьера, поэтому прямой ток через диод из материала с большей шириной запрещенной зоны будет меньше притом же напряжении.
3. С увеличением концентрации примесей в прилегающих к p-n переходу областях будет увеличиваться высота потенциального барьера, а значит, будет меньше прямой ток при неизменном напряжении. Если созданное внешним источником электрическое поле в переходе совпадает по направлению с диффузионным, то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается. В этом случае зависимость тока от напряжения соответствует обратной ветви вольт-амперной характеристики диода, а приложенное внешнее напряжение называется обратным. Величина потока неосновных носителей заряда не зависит от величины обратного напряжения U
обр
. Она определяется только скоростью их тепловой генерации в объеме полупроводника и скоростью их диффузии к p-n переходу (к области объемного заряда, пересекая который они и дают вклад в электрический ток, текущий через p-n переход. Однако достичь перехода могут не все неосновные носители, а только те, которые родились достаточно близко от него (на расстоянии диффузионной длины. Остальные неосновные носители не доходят до перехода и не дают вклада в ток. Обратный ток, начиная с малых значений обратного напряжения, не изменяется. Такой ток называется током насыщения. На рисунке 7.27 ток насыщения обозначен Факторы, влияющие на ток насыщения
1. С увеличением температуры ток насыщения увеличивается, т.к. экспоненциально увеличивается собственная концентрация носителей заряда.
2. В диодах на основе материалов с большей шириной запрещенной зоны плотность тока насыщения будет больше, так как собственная концентрация экспоненциально уменьшается.
3. С увеличением концентрации примесей плотность тока насыщения уменьшается (меньше время жизни из-за усиления рекомбинации с основными носителями. Пробой диодов. При достижении обратным напряжением некоторого критического для данного диода значения происходит резкое увеличение об-
Рис. 7.27 Вольт-амперная характеристика выпрямляющего диода
0 проб
I
0
U
1. При увеличении температуры а) уменьшается высота потенциального барьера и б) изменяется распределение носителей заряда по энергиям – электроны занимают все более высокие уровни в зоне проводимости. Из-за этих двух причин прямой ток через диод увеличивается с ростом температуры при неизменном приложенном напряжении.
2. У диода с большей шириной запрещенной зоны больше высота потенциального барьера, поэтому прямой ток через диод из материала с большей шириной запрещенной зоны будет меньше притом же напряжении.
3. С увеличением концентрации примесей в прилегающих к p-n переходу областях будет увеличиваться высота потенциального барьера, а значит, будет меньше прямой ток при неизменном напряжении. Если созданное внешним источником электрическое поле в переходе совпадает по направлению с диффузионным, то высота потенциального барьера для основных носителей увеличивается. В этом случае зависимость тока от напряжения соответствует обратной ветви вольт-амперной характеристики диода, а приложенное внешнее напряжение называется обратным. Величина потока неосновных носителей заряда не зависит от величины обратного напряжения U
обр
. Она определяется только скоростью их тепловой генерации в объеме полупроводника и скоростью их диффузии к p-n переходу (к области объемного заряда, пересекая который они и дают вклад в электрический ток, текущий через p-n переход. Однако достичь перехода могут не все неосновные носители, а только те, которые родились достаточно близко от него (на расстоянии диффузионной длины. Остальные неосновные носители не доходят до перехода и не дают вклада в ток. Обратный ток, начиная с малых значений обратного напряжения, не изменяется. Такой ток называется током насыщения. На рисунке 7.27 ток насыщения обозначен Факторы, влияющие на ток насыщения
1. С увеличением температуры ток насыщения увеличивается, т.к. экспоненциально увеличивается собственная концентрация носителей заряда.
2. В диодах на основе материалов с большей шириной запрещенной зоны плотность тока насыщения будет больше, так как собственная концентрация экспоненциально уменьшается.
3. С увеличением концентрации примесей плотность тока насыщения уменьшается (меньше время жизни из-за усиления рекомбинации с основными носителями. Пробой диодов. При достижении обратным напряжением некоторого критического для данного диода значения происходит резкое увеличение об-
Рис. 7.27 Вольт-амперная характеристика выпрямляющего диода
0 проб
I
0
U
ратного тока через диод. Это явление называется пробоем диода. В зависимости от физических явлений, приводящих к пробою, различают лавинный, туннельный и тепловой пробои. Лавинный пробой Под действием сильного электрического поля, при котором носители заряда приобретают энергии, достаточные для образования новых электронно-дырочных пар в результате ударной ионизации атомов полупроводника, возникают лавины носителей заряда. Пробивное напряжение определяется концентрацией примеси в слаболегированной области, т.к. она определяет ширину p-n перехода. С повышением температуры уменьшается длина свободного пробега носителей заряда, а значит, уменьшается и энергия, которую носитель заряда может приобрести на длине свободного пробега в электрическом поле. Следовательно, повышение температуры приводит к увеличению пробивного напряжения при лавинном пробое (рис. 7.28). При возникновении лавинного пробоя возникают шумы. Вначале этот процесс неустойчив он возникает, срывается, возникает снова. С увеличением тока процесс ударной ионизации становится устойчивыми шумы исчезают. Это характерная особенность лавинного пробоя. Туннельный пробой Если ширина потенциального барьера δ становится достаточно малой, то возможно туннелирование электронов сквозь запрещенную зону полупроводника без изменения их энергии. Внешне туннельный эффект проявляется как пробой диода, при этом пробивное напряжение обратно пропорционально концентрации примесей. При одной и той же ширине запрещенной зоны (для одного итого же материала) ширина потенциального барьера определяется напряженностью электрического поля, те. наклоном энергетических уровней и зон. Значение критической напряженности электрического поля составляет примерно 8·10 5
В/м для Si и 3·10 5
В/м для Ge. С повышением температуры ширина запрещенной зоны большинства полупроводников убывает. Следовательно, при этом уменьшается и толщина барьера при той же напряженности поля, что приводит к увеличению вероятности туннелирования сквозь потенциальный барьер, поэтому пробивное напряжение при туннельном пробое уменьшается с увеличением температуры. Так как при туннельном пробое необходима малая толщина p-n перехода, он наблюдается в диодах, изготовленных из полупроводников с большой концентрацией примесей. Тепловой пробой Тепловой пробой в диодах происходит с образованием так называемого шнура или канала высокой проводимости, температура в котором превышает среднюю температуру остальной части p-n перехода. Образование шнура обычно вызвано дефектами в p-n переходе. Если плотность обратного тока в каком-нибудь месте p-n перехода оказалась больше плотности тока в остальной части перехода, то температура этого места будет еще выше из-за выделяющегося тепла Джоуля-Ленца. Локальное увеличение тем-
Рис. 7.28 Вольт-амперная характеристика при лавинном пробое
U
обр проб
I
обр
В/м для Si и 3·10 5
В/м для Ge. С повышением температуры ширина запрещенной зоны большинства полупроводников убывает. Следовательно, при этом уменьшается и толщина барьера при той же напряженности поля, что приводит к увеличению вероятности туннелирования сквозь потенциальный барьер, поэтому пробивное напряжение при туннельном пробое уменьшается с увеличением температуры. Так как при туннельном пробое необходима малая толщина p-n перехода, он наблюдается в диодах, изготовленных из полупроводников с большой концентрацией примесей. Тепловой пробой Тепловой пробой в диодах происходит с образованием так называемого шнура или канала высокой проводимости, температура в котором превышает среднюю температуру остальной части p-n перехода. Образование шнура обычно вызвано дефектами в p-n переходе. Если плотность обратного тока в каком-нибудь месте p-n перехода оказалась больше плотности тока в остальной части перехода, то температура этого места будет еще выше из-за выделяющегося тепла Джоуля-Ленца. Локальное увеличение тем-
Рис. 7.28 Вольт-амперная характеристика при лавинном пробое
U
обр проб
I
обр
пературы приводит к дальнейшему росту плотности тока, что вызывает локальное повышение температуры и т.д. Тепловой пробой может возникнуть и при малых обратных токах и напряжениях. Светоизлучающий диод (LED – Light-emitting diode) – это полупроводниковый прибор, преобразующий электрическую энергию, в энергию оптического излучения. Излучение вызвано рекомбинацией (возвращением электронов из зоны проводимости в валентную зону) носителей заряда при прохождении тока в прямом направлении через выпрямляющий электрический переход. Область структуры светодиода, в которой происходит рекомбинация электронов и дырок называется активной. В основе светоизлучающего диода лежит многослойная гетероструктура. Гетероструктура представляет собой последовательность полупроводниковых слоев отличающихся химическим составом и шириной запрещенной зоны. Гетеропереходом называют переходный слой с существующим в нём диффузионным электрическим полем между двумя различными по химическому составу полупроводниками. Для формирования качественного гетероперехода необходимо совпадение типа, ориентации и периода кристаллических решёток контактирующих полупроводников. При образовании гетероперехода, из-за различия работ выхода электронов из разных полупроводников, происходит перераспределение носителей заряда в приконтактной области и выравнивание уровней Ферми. В результате установления термодинамического равновесия, остальные энергетические уровни изгибаются – возникают диффузионное электрическое поле икон- тактная разность потенциалов. Энергетические зоны различных полупроводников отличаются по ширине, поэтому на границе раздела двух полупроводников получается разрыв дна зоны проводимости и валентной зоны, что приводит к наличию разной высоты потенциального барьера для электронов и дырок. В связи с этим, прямой ток через гетеропереход связан в основном сдвижением носителей заряда только одного знака. Излучаемый свет лежит в узком диапазоне спектра электромагнитных волн. Длина волны излучения светодиода зависит от химического состава использованного в активной области полупроводника. Красные и желтые светодиоды изготавливаются из твердых растворов соединений элементов AlGaAs и AlGaInP, а зеленые и синие из более широкозонного материала InGaN. Для того чтобы кванты энергии (фотоны, Рис. 7.29 Зависимость длины волны желтого светодиода от температуры активной области Длина волны, нм
594 592 590 588 586
-40 10 60 t,
0
C
594 592 590 588 586
-40 10 60 t,
0
C
освободившиеся при рекомбинации, соответствовали квантам видимого света, ширина запрещенной зоны исходного полупроводника должна быть достаточно большой (Е > 1,7 эВ, при меньшей ширине запрещенной зоны исходного полупроводника кванты энергии, освобождающиеся при рекомбинации носителей заряда, соответствуют инфракрасной области излучения. Энергия фотона, образовавшегося при рекомбинации, определяется
h
Е
Так как частота связана с длиной волны сто энергию можно выразить
с
h
Е
. (7.61) Максимум в спектре излучения светодиода max
соответствует наиболее вероятному переходу – с нижнего энергетического уровня свободной зоны на верхний уровень валентной зоны. Тогда с, (7.62) где Е - ширина запрещенной зоны полупроводника. Активная область ограничена слоями полупроводника с большей шириной запрещенной зоны, которые обеспечивают локализацию носителей вуз- козонной области, что приводит к увеличению вероятности рекомбинации носителей заряда. Отношение излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей называется внутренним квантовым выходом Если бы рекомбинация неравновесных электронов и дырок, в активной области происходила только с излучением фотонов, то внутренний квантовый выход был бы равен 100%. Однако значительная часть актов рекомбинации не заканчивается выделением энергии в виде фотонов. Такие переходы электронов между энергетическими уровнями называют безызлучательными. Соотношение между излучательными и безызлучательными переходами зависит отряда причин, в частности от структуры энергетических зон полупроводника, наличия примесей, которые могут увеличить или уменьшить вероятность излучательных пере- ходов.
Увеличение длины волны с повышением температуры активной области светодиода вызвано уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника, при этом, из-за увеличения влияния колебаний кристаллической решетки уменьшается внутренний квантовый выход. Яркость светодиода с увеличением температуры падает рис. Падение яркости с повышением температуры неодинаково у светодиодов разных цветов У материалов с меньшей шириной запрещенной зоны температурная зависимость длины волны и яркости сильнее. Она больше у красных и желтых, и меньше у зеленых, синих и белых Поэтому для надежной и стабильной работы светодиодов важен хороший теплоотвод
h
Е
Так как частота связана с длиной волны сто энергию можно выразить
с
h
Е
. (7.61) Максимум в спектре излучения светодиода max
соответствует наиболее вероятному переходу – с нижнего энергетического уровня свободной зоны на верхний уровень валентной зоны. Тогда с, (7.62) где Е - ширина запрещенной зоны полупроводника. Активная область ограничена слоями полупроводника с большей шириной запрещенной зоны, которые обеспечивают локализацию носителей вуз- козонной области, что приводит к увеличению вероятности рекомбинации носителей заряда. Отношение излученных фотонов к числу рекомбинировавших пар носителей называется внутренним квантовым выходом Если бы рекомбинация неравновесных электронов и дырок, в активной области происходила только с излучением фотонов, то внутренний квантовый выход был бы равен 100%. Однако значительная часть актов рекомбинации не заканчивается выделением энергии в виде фотонов. Такие переходы электронов между энергетическими уровнями называют безызлучательными. Соотношение между излучательными и безызлучательными переходами зависит отряда причин, в частности от структуры энергетических зон полупроводника, наличия примесей, которые могут увеличить или уменьшить вероятность излучательных пере- ходов.
Увеличение длины волны с повышением температуры активной области светодиода вызвано уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника, при этом, из-за увеличения влияния колебаний кристаллической решетки уменьшается внутренний квантовый выход. Яркость светодиода с увеличением температуры падает рис. Падение яркости с повышением температуры неодинаково у светодиодов разных цветов У материалов с меньшей шириной запрещенной зоны температурная зависимость длины волны и яркости сильнее. Она больше у красных и желтых, и меньше у зеленых, синих и белых Поэтому для надежной и стабильной работы светодиодов важен хороший теплоотвод
Даже при высоком внутреннем квантовом выходе (в GaAs и внутренний квантовый выход излучательной рекомбинации равен 100%) внешний квантовый выход значительно меньше. Образовавшиеся фотоны могут поглотиться полупроводником до выхода в окружающее пространство. Существенными являются потери при полном внутреннем отражении фотонов, падающих на границу раздела полупроводника и окружающей атмосферы под углом, превышающим критический угол полного внутреннего отражения
1 в, (7.63) где
2
n
- абсолютный показатель преломления среды, окружающей полупроводник- абсолютный показатель преломления полупроводника. Для многих полупроводников
0 в, поэтому если полупроводник имеет плоскую форму, то только незначительная часть фотонов (около 1,5%) покинет полупроводник. Наиболее простым решением является формирование на поверхности кристалла сферического покрытия из пластического материала с высоким показателем преломления для увеличения критического угла полного внутреннего отражения.
1 в, (7.63) где
2
n
- абсолютный показатель преломления среды, окружающей полупроводник- абсолютный показатель преломления полупроводника. Для многих полупроводников
0 в, поэтому если полупроводник имеет плоскую форму, то только незначительная часть фотонов (около 1,5%) покинет полупроводник. Наиболее простым решением является формирование на поверхности кристалла сферического покрытия из пластического материала с высоким показателем преломления для увеличения критического угла полного внутреннего отражения.
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
7.12 Гамма излучение ядер
Гамма-излучением называются электромагнитное излучение, испускае- моеядрами атомов при переходах ядер из возбужденного состояние в основное (или в менее возбужденное, а также в процессе ядерных превращений. Различают жесткое излучение, испускаемое ядрами при переходе из возбужденного состояния в основное, и мягкое излучение, которое испускается при перестройке электронных оболочек атома в результате так называемого электронного захвата (К-захвата). Фотоны жесткого
- излучения имеют энергию от сотен тысяч электрон-вольт до нескольких мегаэлектрон-вольт. В каждом акте перехода ядро излучает один
- квант В связи с дискретностью энергетических уровней ядра излучение имеет линейчатый спектр. Частоты
- квантов связаны с разностью энергий условием частот Бора. Поясним происхождение мягкого- излучения. Процесс превращения одного из внутриядерных протонов в нейтрон происходит либо с возникновением позитрона, либо без возникновения позитрона с захватом ядром одного из ближайших к нему атомных электронов. Так кaк ближайшими к ядру являются электроны К-слоя, то последний вид излучения называют К-
захватом. После К-захвата электронная оболочка атома оказывается в возбу-
Рис. 7.30 Зависимость яркости желтого светодиода от температуры активной области
0,1 1
10
-40 10 яркость, от не д.
температура, о
С
жденном состоянии. Возврат в нормальное состояние осуществляется в результате перехода одного из электронов внешних слоев на вакантное место в
К-слое, вследствие чего возникает характеристическое излучение К-серии. Возможно излучение
- квантов и твердыми телами, что подтверждается эффектом э. Этот эффект заключается в упругом испускании или поглощении
- квантоватомными ядрами, связанными в твердом теле. В
1958 году Мессбауэр предложил метод резкого уменьшения энергии отдачи ядру Т
Я
при испускании и при поглощении
- лучей. Явление резонансного излучения (поглощения)
- излучения без отдачи называется эффектом Мес-
сбауэра. Резонансным поглощением
- излучения ядрами называется поглощение ядром
- фотонов такой частоты
, что энергия h
фотона равна разности энергий одного из возбуждённых и основного энергетических состояний ядра. Такая же частота будет у линии
- фотона, излученного при переходе ядра из возбуждённого состояния ядра в нормальное. Идеей метода является использование излучающих и поглощающих ядер в связанном виде, те. в составе кристаллических решеток. Известно, что при достаточно низких температурах становятся возможными ядерные переходы без изменения энергетического состояния кристалла, тес передачей энергии упругим образом всему кристаллу в целом. Так как масса кристалла много больше массы ядра, то согласно закону сохранения импульса, потери на отдачу становятся чрезвычайно малыми. Поэтому процессы испускания и поглощения могут происходить практически без отдачи. Энергетическим состояниям атомных ядер приписывают вполне определенную энергию. Это не совсем правильно. Так, например, ядро изотопа иридия находится в возбужденном состоянии с энергией Е = 129 КэВ, из которого оно может перейти в основное состояние за счет испускания
- кванта с периодом полураспада, равным
10
-10 с. Тогда согласно соотношению неопределенности энергия возбужденного состояния будет известна с точностью до
6 19 10 34 10 6
,
6 10 6
,
1 10 28
,
6 10 62
,
6 2
h
Е
эВ. Чем меньше время жизни возбужденного состояния ядра, участвующего в
- переходе, тем больше неопределенность в значении энергии возбужденного состояния. Последняя приводит к тому, что
- излучение, испускаемое при переходе ядра из возбужденного состояния в основное, будет немоно- хроматическим, те. будет содержать не одну частоту излучения, а спектр. Эту не монохроматичность принято называть естественной шириной (Г) линии испускания- лучей. В рассматриваемом примере эта величина равна ГэВ. Это очень малая величина по сравнению с энергией
- перехода Е = 129 КэВ. Относительная ширина линий Мессбауэра, равная в нашем примере 5
Е
Г
, позволяет использовать этот эффект для измерения малых сдвигов энергии (частоты)
- квантов, вызванных теми или иными воздействиями на излучающее или поглощающее ядро. В ядерной спектроскопии эффект Мёссбауэра используется для точных измерений энергетических уровней атомных ядер. Одним из впечатляющих применений метода стал эксперимент Паунда и
Ребки, которые в 1960 г. измерили в лабораторных условиях гравитационное смещение гамма-квантов, предсказываемое общей теории относительности. При движении фотона в гравитационном поле его энергия изменяется на
∆W = −W(
2 1
2
/
) c
= -h∆
(
2 1
2
/
) c
, где
1
и
2
- потенциалы гравитационного поля в точках 1 и 2. Знак минус указывает на то, что увеличение энергии фотона в гравитационном поле происходит в результате уменьшения его энергии W = hv:
2
/ Относительное изменение частоты при прохождении фотоном гравитационной разности потенциалов
:
2
/
/
c
v
v
, здесь
0
, так что потенциал поля тяготения Солнца увеличивается по мере удаления от него. На поверхности Земли он больше, чем на поверхности Солнца. Следовательно,
0
/
v
v
и все частоты линий Солнца изв зд, регистрируемые на Земле, сдвинуты к красному участку спектра. Этот эффект называется гравитационным красным смещением. Метод ядерного гамма-резонанса используется в физическом материаловедении, химии, минералогии и биологии (например, при анализе свойств Fe- содержащих групп в белках. Эффект поглощения излучения усиливают пут м обогащения образцам ссбауэровскими изотопами, повышая, например, содержание
57
Fe в пище подопытных животных. В минералогии эффект Мёссбаура применяется главным образом для определения структурного положения ионов Fe и определения степени окисления железа. На основе эффекта Мёссбауэра разработаны современные анализаторы для экологического мониторинга промышленных печей, позволяющие контролировать выброс тяжёлых металлов при сжигании топлива.
7.13 Механизм поглощения
- лучей. Позитрон Поглощение
- лучей в среде в основном обусловлено тремя процессами фотоэффектом, комптоновским рассеянием и явлением образования элек- тронно-позитронных пар. Когда энергия
- фотонов достигает примерно 0,1 МэВ, поглощение лучей в веществе происходит вследствие фотоэффекта - здесь электрон выбрасывается из глубинных слоев атома Кили, после чего происходит заполнение вакантного места с испусканием характеристического излучения. В поглощении
- лучей с энергиями фотона порядка 0,5-2,0 МэВ существенную роль играет эффект Комптона. При исследовании установлено, что
- фотоны с энергией в несколько мегаэлектрон-вольт мoгут поглощаться ядрами, переводя их в возбужденное состояние, причем обратный переход в основное состояние может сопровождаться выбросом внутриядерной частицы - нейтрона или протона. В 1934 г.
Чадвик установил, что при облучении тяжелого водорода
- лучами тория поглощение фотона (с энергией h
= 2,2 МэВ) переводит ядро дейтрона в неустойчивое возбужденное состояние, которое завершается распадом на протон и нейтрон. Для фоторасщепления более тяжелых ядер требуются
-фoтоны с энергией порядка 10 - 15 МэВ. Поглощение
- фотонов с энергией порядка
100 МэВ приводит к освобождению из ядер нескольких частиц. Поглощение- лучей при прохождении их через вещество можно описать экспоненциальным законом
x
e
I
I
0
, где
- коэффициент поглощения x - толщина слоя вещество. Вместо линейного коэффициента поглощения
берут массовые коэффициенты
/
, где
– плотность вещества, а также коэффициенты, рассчитанные на 1 атом и на 1 электрон
N
A
a
, которые могут быть истолкованы как эффективные сечения для того или иного процесса. Позитрон. Под действием жестких
- лучей, имеющих энергию кванта больше 1 МэВ, происходит рождение электронно-позитронных пар. Позитроны были открыты в 1932 году Андерсеном при исследовании им космических лучей. Впоследствии существование позитронов было подтверждено опытами, несвязанными с исследованием космических лучей. В 1933 г. Чэд- вик, Блеккет и Оккиалини обнаружили, что позитроны вылетают из свинцовой пластинки, облучаемой
- лучами. При исследовании было установлено, что масса позитрона равна массе электрона, заряд позитрона вен заряду электрона по величине, но противоположен по знаку. Равны также их механические и (численно) магнитные спиновые моменты поз
= I
эл
, поз
=
эл
. Тот факт, что позитрон наблюдается только в исключительных условиях, объясняется весьма малой продолжительностью его жизни (порядка 10
-6
св атмосферном воздухе. За этот промежуток времени позитрон встречается с электроном вещества, и если энергия каждого из них не меньше 0,5 МэВ, они превращаются в два- кванта.
7.14 Нейтроны и их прохождение через вещество Искусственное превращение ядер, вызванное бомбардировкой частиц, привело к открытию нового вида элементарной частицы - нейтрона. В 1930 году Боте и Беккер обратили внимание на то, что при бомбардировке
- частицами бериллия (
Ве
9 4
) возникает излучение весьма большой проникающей способности, в несколько раз превышающей проникающую способность очень жестких
- лучей. Вначале это излучение назвали бериллиевыми лучами. В 1932 г. Чэдвик доказал, что бериллиевые лучи представляют собой поток частиц, лишенных заряда и имеющих масс, близкую к массе протона эти частицы были названы нейтронами. Ядерная реакция в этом случае протекает в такой форме
Ве
9 Не С С 6
+
n
1 На рис. 7.31 изображено устройство прибора для обнаружения нейтронов. Источником
- частиц служит диск Д покрытый полонием. Нейтроны, испускаемые бериллием под влиянием бомбардировки
- частицами, проходили через стенку камеры и проникали в ионизационную камеру, в которой они не вызывали ионизации, так как не имели своего заряда. Если перед окном камеры, поместить пластинку из парафина, то ионизация в камере возрастает, так как нейтроны, сталкиваясь с ядрами атомов водорода, содержащимися в парафине, передают им некоторое количество движения и сообщают скорость, достаточную для ионизации газа в ионизационной камере. Таким образом, ионизация в камере вызывается не нейтронами, а протонами, которые получили кинетическую энергию при упругих столкновениях с нейтронами. Опыт показывает, что при прохождении нейтронов через вещество возможно упругое рассеяние, неупругое рассеяние, захват. Упругим называется рассеяние без потери частицей (нейтроном) кинетической энергии. В некоторых веществах, для которых роль упругого рассеяния относительно высока, быстрый нейтрон теряет свою энергию в серии последовательных актов упругого соударения с ядрами вещества (замедление нейтронов. Процесс замедления продолжается до тех пор, пока кинетическая энергия нейтрона не сравняется с энергией теплового движения атомов замедляющего вещества. Такие нейтроны называются тепловыми. Дальнейшие столкновения тепловых нейтронов с атомами замедлителя не изменяют энергии нейтронов, а приводят к диффузии тепловых нейтронов в веществе до тех пор, пока они не поглотятся каким-либо ядром или не вылетят за пределы замедлителя. Упругое рассеяние используется при замедлении быстрых нейтронов в реакторах. Неупругим рассеянием нейтронов называется процесс, когда нейтрон, попадая в ядро, может перевести его в возбужденное состояние и снова выле-
Рис. 7.31
теть из ядра, но уже с меньшей энергией. При исследовании установлено, что для строго параллельного пучка число нейтронов
N , прошедших слой х убывает с увеличением толщины слоя по экспоненциальному закону
x
e
N
N
0
. (7.64) Здесь
0
N - число нейтронов, регистрируемых детектором в первичном пучке
- средняя длина свободного пути нейтрона в рассеивающем веществе. В настоящее время рассеяние и поглощение характеризуются не средней длиной, а эффективным сечением рассеяния
, связанным с
соотношением где
- число ядер, рассеивающих нейтроны в единице объема. Подставляя это соотношение в (получим
x
e
N
N
0 1
(7.65) Произведение
x имеет размерность ми представляет собой число ядер, приходящихся нам вещества. Обозначая
∙x = n, перепишем формулу) в таком виде
n
e
N
N
0 1
, (7.66) Константа
, имеющая размерность [
] = м, называется эффективным сечением рассеяния. Число ядер, прореагировавших за 1 с, характеризуют эффективным сечением ядра. Если центр налетающей частицы пройдет внутрь сечения
, то столкновение частицы будет эффективным для ядерной реакции. Площадь
нужно приписать ядру для того, чтобы можно было считать, что попадание частицы в диск этой площади вызовет ядерную реакцию. Вероятность р того, что налетающая частица вызовет превращение ядра, можно определить по формуле
x
p
, где х - толщина мишени. Эффективное сечение ядра легко вычислить из последней формулы по числу налетающих частиц, вызывающих в среднем одно ядерное превращение в достаточно тонкой мишени. Одному ядру приходится приписывать разные эффективные сечения при различных значениях энергии налетающей частицы. Для реакций, вызываемых поглощением нейтронов с тепловыми скоростями, эффективное сечение ядра нередко в сотни тысяч раз превышает геометрическое сечение. Так например, поперечное сечение ядра кадмия для захвата медленных нейтронов при резонансном значении энергии нейтрона равном 0,176 эВ достигает величины
= 7800
10
-28
м (это эффективное сечение враз превышает геометрическое сечение ядра атома кадмия, но при увеличении энергии нейтронов всего на 0,2 эВ эффективное сечение кадмия уменьшается почтив раз.
7.15 Термоядерные реакции Термоядерными называют реакции синтеза легких атомных ядер, протекающие при очень высоких температурах - от нескольких миллионов градусов до нескольких сотен миллионов градусов. Почему необходима такая высокая температура для протекания реакции слияния ядер атома Известно, что между ядерными частицами существуют и силы отталкивания и силы притяжения, причем силы отталкивания действуют и на далеких расстояниях между протонами, тогда как силы притяжения проявляются только при тесном сближении протонов и, превышая силы отталкивания, дают протонам возможность соединяться в ядро. Значит, для того чтобы протоны могли перепрыгнуть через барьер, которым "отгородилось" ядро, они должны иметь достаточно высокую энергию. Только в этом случае они смогут сблизиться на такие расстояния, при которых между ними уже действуют ядерные силы притяжения. Так, например, для слияния дейтронов необходимо их сближение до расстояния 3
10
-15
м.
На этом расстоянии потенциальная энергия взаимодействия дейтронов равна 0,5 МэВ. Температура, необходимая для протекания данной реакции, должна быть порядка T
2
10 9
К. Гораздо легче осуществима реакция слияния ядер дейтерия и трития. Расчеты показывают, что общее количество дейтерия в океанах составляет
5
10 13
т. Содержание трития в обычной воде совершенно ничтожно, но ученые нашли эффективный способ получать его искусственно из довольно распространенного элемента - лития. Температура, необходимая для протекания термоядерной реакции трития и дейтерия, должна быть порядка ста миллионов градусов. Искусственная термоядерная реакция была впервые осуществлена в Советском Союзе в виде взрыва мощной водородной бомбы. Реакция синтеза изотопов водорода протекает следующим образом Н 1
+ Н Не 2
+
1 0
n +17,6 МэВ. Высокая температура, необходимая для быстрого и эффективного протекания реакции, практически достигается взрывом атомной бомбы, содержащейся в водородной бомбе в качестве взрывателя. При образовании альфа- частицы и нейтрона из дейтерия и трития высвобождается энергия 17,6 МэВ. Энергия, выделяющаяся при взрыве одной водородной бомбы, эквивалентна энергии взрыва десятков миллионов обычных взрывчатых веществ. Значительно большая энергия освобождается при реакции синтеза легкого водорода с тритием с образованием ядра гелия и излучения Н Н Не 2
+
+ МэВ. Для выработки сверхтяжелого изотопа водорода
Н
3 1
, применяемого в водородной бомбе, используют ядерные реакторы, c помощью которых получают интенсивные потоки медленных нейтронов, необходимые для осуществления реакции
Li
6 3
+
1 0
n
Li
7 Не 2
+ Н 1
Полученный таким образом тритий радиоактивен ииспытывает
- превращение (Н Не 2
+
0 1
e
). Если полученный изотоп гелия облучать тепловыми нейтронами, то снова образуется тритий Не 2
+
1 Н 1
+
1 1
p Следует заметить, что производство изотопов водорода сопряжено с большими затратами средств. Haпpимер, расходы на строительство завод по производству трития в США на берегу реки Саванны превысили стоимость всех заводов и предприятий такой крупной корпорации, как "Дженерал мо- торс. Особый интерес представляет возможность получения для народного хозяйства энергии за счет управляемой термоядерной реакции. В последние годы большое число исследований направлено на изыскание способов, которые позволяли бы стабилизировать термоядерные реакции и управлять ими. Для осуществления управляемых термоядерных реакций необходимо решить следующие задачи во-первых, предстоит получить (конечно, не в условиях взрыва) температуру в 350 миллионов градусов - это минимальная температура, начиная с которой реакция синтеза изотопов водopoдa становится энергетически выгодной во-вторых, надо обеспечить теплоизоляцию гopячeй плазмы от стенок прибора. Это необходимо не только для уменьшения потерь тепла, но и потому, что даже самые огнеупорные материалы не останутся твердыми при температуре термоядерной реакции. Метод преодоления этой трудности заключается в изолировании горячей плазмы от стенок прибора с помощью магнитного поля. С целью разогрева плазмы до сверхвысокой температуры через нее пропускается электрическая искра от мощных электрических разрядов. Для решения этой задачи нет нужды строить сверхмощные электростанции, достаточно иметь аппараты, позволяющие получать высокие напряжения и одновременно сильные токи в течение малого времени. Такие приборы с мощными трансформаторами и конденсаторными батареями позволяют получить плазму стоком в миллионы ампер. Это настоящая искусственно созданная молния с тонким, ослепительно сверкающим шнуром (в плазме ток идет по одному каналу, а не "рыскает" в поисках легкого пути, как в молнии. Чтобы понять, почему разряд имеет форму шнура, следует обратиться копыту взаимодействия параллельных проводников стоками одинакового направления. В этом опыте проводники немедленно притягивались друг к другу. Тоже происходит ив плазме под действием поля разряда ее частицы начинают двигаться параллельно друг другу, и вызванные этим движением магнитные поля сближают частицы. Благодаря гигантским токам в разряде сближение плазменных частиц происходит почти молниеносно частицы плазмы за миллионные доли секунды собираются по оси разряда в центре цилиндра, образуя тоненькую нить — так называемый плазменный шнур. Магнитное поле вокруг канала, по которому течет ток, разо-
9
Плазма — это состояние вещества с высокой степенью ионизации, при котором необязательно, чтобы все электроны были свободными, а ядра — "оголенными. Степень "оголенности" ядер в атомах может быть самой различной.
гревающий плазму, имеет такое же строение, как магнитное поле обычного линейного тока (рис. 7.32). Заряженные частицы, из которых состоит плазма, двигаясь в сторону от канала разряда, отклоняются этим магнитным полем и вoзвpaщaютcя обратно. Таким образом, стенки прибора защищаются от соприкосновения с частицами раскаленной плазмы, а частицы оберегаются от потерь тепла. Получается, что плазма, разогретая электрическим разрядом, сама себя изолирует от стенок прибора. Но это длится только мгновение. Температура частиц, несущихся коси прибора, уже через несколько миллионных долей секунды повышается примерно до миллиона градусов. Колоссальное сжатие плазмы в шнуре при такой температуре вызывает в плазме ответные силы, разбрасывающие частицы плазмы и разрушающие самый шнур. Для устранения возникающих деформаций канала и для "укрощения" частиц плазмы создается внешнее продольное магнитное поле. Внешнее магнитное поле, введенное в плазму, позволяет повысить устойчивость плазменного шнура и тем самым удлинить его жизнь. Повышая напряжение, прилагаемое к электродами создавая сильное внешнее поле, удалось значительно повысить температуру плазмы в шнуре. Однако дальнейшее повышение температуры сказалось невозможным из-за наличия у камеры холодных электродов, которые служат для осуществления разряда, введения" тока в камеру и препятствуют нагреву плазмы. Стремясь к дальнейшей стабилизации и повышению температуры плазмы, устранили холодные электроды и свернули плазму в тор (баранку) (рис. 7.33). Позднее стали заключать плазму в камеру c металлическими стенками, отталкивающими ее частицы внутрь камеры здесь был использован принцип возбуждения вихревого магнитного поля в металлических стенках при перемещении плазменного шнура к стенке тора. Тороидальные камеры, позволяющие заключить плазму в магнитную ловушку, следует считать второй стадией работ по получению энергии при помощи термоядерной реакции. Вариантами таких установок являются советская камера "Альфа, американская установка "Стелларатор" и английская камера "3ета". В настоящее время в ряде стран ведутся интенсивные работы по управлению термоядерными реакциями. Выводы Седьмая глава содержит дополнительный материал практически ко всем главам учебника, который предназначен для студентов изучающих физику Рис. 7.33 Рис. 7.32
четыре семестра, а также самостоятельно интересующихся применением фундаментальных физических законов и явлений в современных научных исследованиях и промышленности. В этой главе показано, как опираясь на полученные знания в области квантовой механики и атомной физики методом парамагнитного резонанса можно исследовать строение вещества, предсказывая его реакционную способность, определяя количество неспаренных электронов в молекуле данного вещества. Продемонстрировано, как используя знания основ квантовой статистики можно проанализировать электрические свойства различных материалов, что может оказаться важным для высокотехнологичных промышленных производств. Объяснён механизм сверхпроводимости. Задача внедрения сверхпроводящих материалов в промышленность является крайне актуальной сточки зрения развития энергосберегающих технологий. Сделан акцент на практическое применение законов, изложенных в основном курсе физики. Так эффекты Зеебека и Пельтье рассмотрены сточки зрения их применения в датчиких температуры, термохолодильниках и других устройствах. Даны основные представления о работе солнечных генераторов, полупроводниковых диодов и приборов, в основе которых лежит гетеропереход. В этой главе, студенты знакомятся с основами термоядерного синтеза и перспективами термоядерной энергетики. Описанный здесь метод ядерного гамма-резонанса уже нашёл широкое применение в физическом материаловедении, химии, минералогии, биологии и экологии, при этом перспективы его применения далеко не исчерпаны. СВЯЗЬ ФУНДАМЕНТАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ С СОВРЕМЕННЫМИ МЕТОДАМИ ИССЛЕДОВАНИЯ Любое качественное образование должно иметь прочную основу. В технической области ведущая роль в формировании фундаментальной основы знаний принадлежит физике. Физика объясняет объективные законы, существующие в природе. Физические законы устанавливаются на основе анализа гипотез и обобщения опытных фактов. Развитие техники способствует развитию фундаментальных основ физики, развитие физики приводит к новым техническим решениям. Фундаментальные физические законы, открытые в последние столетия, легли в основу новых направлений развития промышленности, таких как, ядерная энергетика, электроника, нанотехнологии. По мере развития физики, возникают новые методы исследований. На кафедре физики разработана методическая база к лабораторным работам, позволяющая студентам получить основные навыки работы с приборами ставшими традиционными и современными, научиться основам постановки, проведения, обработки результатов и анализа эксперимента. Лабораторная база служит также для более глубокого понимания фундаментальных законов, осознания возможности их применения на практике и освоения современных методов исследования. Представленные в лаборатории работы поддерживают практически все изучаемые в рамках, установленных для различных направлений программ разделы физики квантовая механика, элементы квантовой статистики, основы атомной физики, элементы физики твёрдого тела. Для более глубокого понимания физических процессов при подготовке к лабораторным работам в учебнике даны дополнительные темы, где более детально освещены вопросы, изучаемые в рамках лабораторных работ, что должно существенно облегчить самостоятельную работу студентов по теоретической подготовке к лабораторному эксперименту. Работы Исследование теплоемкости металлов, Исследование тепло и электропроводности металлов, Исследование электропроводности твёрдых материалов от температуры позволяют рассмотреть известные со школьного курса большинству студентов физические величины теплоёмкость и электропроводность не только сточки зрения классической теории, но и квантовой, понять границы применения классических представлений, приобрести навыки самостоятельной работы с современными приборами. Физика твёрдого тела стоит на переднем рубеже развития промышленности. Современную технику сложно представить без электроники, позволяющей облегчить работу с установками, приборами и машинами. Электронные приборы нас окружают ив повседневной жизни. В основе электроники лежат фундаментальные законы физики твёрдого тела, атомной и квантовой физики. Работы Исследование
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
К-слое, вследствие чего возникает характеристическое излучение К-серии. Возможно излучение
- квантов и твердыми телами, что подтверждается эффектом э. Этот эффект заключается в упругом испускании или поглощении
- квантоватомными ядрами, связанными в твердом теле. В
1958 году Мессбауэр предложил метод резкого уменьшения энергии отдачи ядру Т
Я
при испускании и при поглощении
- лучей. Явление резонансного излучения (поглощения)
- излучения без отдачи называется эффектом Мес-
сбауэра. Резонансным поглощением
- излучения ядрами называется поглощение ядром
- фотонов такой частоты
, что энергия h
фотона равна разности энергий одного из возбуждённых и основного энергетических состояний ядра. Такая же частота будет у линии
- фотона, излученного при переходе ядра из возбуждённого состояния ядра в нормальное. Идеей метода является использование излучающих и поглощающих ядер в связанном виде, те. в составе кристаллических решеток. Известно, что при достаточно низких температурах становятся возможными ядерные переходы без изменения энергетического состояния кристалла, тес передачей энергии упругим образом всему кристаллу в целом. Так как масса кристалла много больше массы ядра, то согласно закону сохранения импульса, потери на отдачу становятся чрезвычайно малыми. Поэтому процессы испускания и поглощения могут происходить практически без отдачи. Энергетическим состояниям атомных ядер приписывают вполне определенную энергию. Это не совсем правильно. Так, например, ядро изотопа иридия находится в возбужденном состоянии с энергией Е = 129 КэВ, из которого оно может перейти в основное состояние за счет испускания
- кванта с периодом полураспада, равным
10
-10 с. Тогда согласно соотношению неопределенности энергия возбужденного состояния будет известна с точностью до
6 19 10 34 10 6
,
6 10 6
,
1 10 28
,
6 10 62
,
6 2
h
Е
эВ. Чем меньше время жизни возбужденного состояния ядра, участвующего в
- переходе, тем больше неопределенность в значении энергии возбужденного состояния. Последняя приводит к тому, что
- излучение, испускаемое при переходе ядра из возбужденного состояния в основное, будет немоно- хроматическим, те. будет содержать не одну частоту излучения, а спектр. Эту не монохроматичность принято называть естественной шириной (Г) линии испускания- лучей. В рассматриваемом примере эта величина равна ГэВ. Это очень малая величина по сравнению с энергией
- перехода Е = 129 КэВ. Относительная ширина линий Мессбауэра, равная в нашем примере 5
Е
Г
, позволяет использовать этот эффект для измерения малых сдвигов энергии (частоты)
- квантов, вызванных теми или иными воздействиями на излучающее или поглощающее ядро. В ядерной спектроскопии эффект Мёссбауэра используется для точных измерений энергетических уровней атомных ядер. Одним из впечатляющих применений метода стал эксперимент Паунда и
Ребки, которые в 1960 г. измерили в лабораторных условиях гравитационное смещение гамма-квантов, предсказываемое общей теории относительности. При движении фотона в гравитационном поле его энергия изменяется на
∆W = −W(
2 1
2
/
) c
= -h∆
(
2 1
2
/
) c
, где
1
и
2
- потенциалы гравитационного поля в точках 1 и 2. Знак минус указывает на то, что увеличение энергии фотона в гравитационном поле происходит в результате уменьшения его энергии W = hv:
2
/ Относительное изменение частоты при прохождении фотоном гравитационной разности потенциалов
:
2
/
/
c
v
v
, здесь
0
, так что потенциал поля тяготения Солнца увеличивается по мере удаления от него. На поверхности Земли он больше, чем на поверхности Солнца. Следовательно,
0
/
v
v
и все частоты линий Солнца изв зд, регистрируемые на Земле, сдвинуты к красному участку спектра. Этот эффект называется гравитационным красным смещением. Метод ядерного гамма-резонанса используется в физическом материаловедении, химии, минералогии и биологии (например, при анализе свойств Fe- содержащих групп в белках. Эффект поглощения излучения усиливают пут м обогащения образцам ссбауэровскими изотопами, повышая, например, содержание
57
Fe в пище подопытных животных. В минералогии эффект Мёссбаура применяется главным образом для определения структурного положения ионов Fe и определения степени окисления железа. На основе эффекта Мёссбауэра разработаны современные анализаторы для экологического мониторинга промышленных печей, позволяющие контролировать выброс тяжёлых металлов при сжигании топлива.
7.13 Механизм поглощения
- лучей. Позитрон Поглощение
- лучей в среде в основном обусловлено тремя процессами фотоэффектом, комптоновским рассеянием и явлением образования элек- тронно-позитронных пар. Когда энергия
- фотонов достигает примерно 0,1 МэВ, поглощение лучей в веществе происходит вследствие фотоэффекта - здесь электрон выбрасывается из глубинных слоев атома Кили, после чего происходит заполнение вакантного места с испусканием характеристического излучения. В поглощении
- лучей с энергиями фотона порядка 0,5-2,0 МэВ существенную роль играет эффект Комптона. При исследовании установлено, что
- фотоны с энергией в несколько мегаэлектрон-вольт мoгут поглощаться ядрами, переводя их в возбужденное состояние, причем обратный переход в основное состояние может сопровождаться выбросом внутриядерной частицы - нейтрона или протона. В 1934 г.
Чадвик установил, что при облучении тяжелого водорода
- лучами тория поглощение фотона (с энергией h
= 2,2 МэВ) переводит ядро дейтрона в неустойчивое возбужденное состояние, которое завершается распадом на протон и нейтрон. Для фоторасщепления более тяжелых ядер требуются
-фoтоны с энергией порядка 10 - 15 МэВ. Поглощение
- фотонов с энергией порядка
100 МэВ приводит к освобождению из ядер нескольких частиц. Поглощение- лучей при прохождении их через вещество можно описать экспоненциальным законом
x
e
I
I
0
, где
- коэффициент поглощения x - толщина слоя вещество. Вместо линейного коэффициента поглощения
берут массовые коэффициенты
/
, где
– плотность вещества, а также коэффициенты, рассчитанные на 1 атом и на 1 электрон
N
A
a
, которые могут быть истолкованы как эффективные сечения для того или иного процесса. Позитрон. Под действием жестких
- лучей, имеющих энергию кванта больше 1 МэВ, происходит рождение электронно-позитронных пар. Позитроны были открыты в 1932 году Андерсеном при исследовании им космических лучей. Впоследствии существование позитронов было подтверждено опытами, несвязанными с исследованием космических лучей. В 1933 г. Чэд- вик, Блеккет и Оккиалини обнаружили, что позитроны вылетают из свинцовой пластинки, облучаемой
- лучами. При исследовании было установлено, что масса позитрона равна массе электрона, заряд позитрона вен заряду электрона по величине, но противоположен по знаку. Равны также их механические и (численно) магнитные спиновые моменты поз
= I
эл
, поз
=
эл
. Тот факт, что позитрон наблюдается только в исключительных условиях, объясняется весьма малой продолжительностью его жизни (порядка 10
-6
св атмосферном воздухе. За этот промежуток времени позитрон встречается с электроном вещества, и если энергия каждого из них не меньше 0,5 МэВ, они превращаются в два- кванта.
7.14 Нейтроны и их прохождение через вещество Искусственное превращение ядер, вызванное бомбардировкой частиц, привело к открытию нового вида элементарной частицы - нейтрона. В 1930 году Боте и Беккер обратили внимание на то, что при бомбардировке
- частицами бериллия (
Ве
9 4
) возникает излучение весьма большой проникающей способности, в несколько раз превышающей проникающую способность очень жестких
- лучей. Вначале это излучение назвали бериллиевыми лучами. В 1932 г. Чэдвик доказал, что бериллиевые лучи представляют собой поток частиц, лишенных заряда и имеющих масс, близкую к массе протона эти частицы были названы нейтронами. Ядерная реакция в этом случае протекает в такой форме
Ве
9 Не С С 6
+
n
1 На рис. 7.31 изображено устройство прибора для обнаружения нейтронов. Источником
- частиц служит диск Д покрытый полонием. Нейтроны, испускаемые бериллием под влиянием бомбардировки
- частицами, проходили через стенку камеры и проникали в ионизационную камеру, в которой они не вызывали ионизации, так как не имели своего заряда. Если перед окном камеры, поместить пластинку из парафина, то ионизация в камере возрастает, так как нейтроны, сталкиваясь с ядрами атомов водорода, содержащимися в парафине, передают им некоторое количество движения и сообщают скорость, достаточную для ионизации газа в ионизационной камере. Таким образом, ионизация в камере вызывается не нейтронами, а протонами, которые получили кинетическую энергию при упругих столкновениях с нейтронами. Опыт показывает, что при прохождении нейтронов через вещество возможно упругое рассеяние, неупругое рассеяние, захват. Упругим называется рассеяние без потери частицей (нейтроном) кинетической энергии. В некоторых веществах, для которых роль упругого рассеяния относительно высока, быстрый нейтрон теряет свою энергию в серии последовательных актов упругого соударения с ядрами вещества (замедление нейтронов. Процесс замедления продолжается до тех пор, пока кинетическая энергия нейтрона не сравняется с энергией теплового движения атомов замедляющего вещества. Такие нейтроны называются тепловыми. Дальнейшие столкновения тепловых нейтронов с атомами замедлителя не изменяют энергии нейтронов, а приводят к диффузии тепловых нейтронов в веществе до тех пор, пока они не поглотятся каким-либо ядром или не вылетят за пределы замедлителя. Упругое рассеяние используется при замедлении быстрых нейтронов в реакторах. Неупругим рассеянием нейтронов называется процесс, когда нейтрон, попадая в ядро, может перевести его в возбужденное состояние и снова выле-
Рис. 7.31
N , прошедших слой х убывает с увеличением толщины слоя по экспоненциальному закону
x
e
N
N
0
. (7.64) Здесь
0
N - число нейтронов, регистрируемых детектором в первичном пучке
- средняя длина свободного пути нейтрона в рассеивающем веществе. В настоящее время рассеяние и поглощение характеризуются не средней длиной, а эффективным сечением рассеяния
, связанным с
соотношением где
- число ядер, рассеивающих нейтроны в единице объема. Подставляя это соотношение в (получим
x
e
N
N
0 1
(7.65) Произведение
x имеет размерность ми представляет собой число ядер, приходящихся нам вещества. Обозначая
∙x = n, перепишем формулу) в таком виде
n
e
N
N
0 1
, (7.66) Константа
, имеющая размерность [
] = м, называется эффективным сечением рассеяния. Число ядер, прореагировавших за 1 с, характеризуют эффективным сечением ядра. Если центр налетающей частицы пройдет внутрь сечения
, то столкновение частицы будет эффективным для ядерной реакции. Площадь
нужно приписать ядру для того, чтобы можно было считать, что попадание частицы в диск этой площади вызовет ядерную реакцию. Вероятность р того, что налетающая частица вызовет превращение ядра, можно определить по формуле
x
p
, где х - толщина мишени. Эффективное сечение ядра легко вычислить из последней формулы по числу налетающих частиц, вызывающих в среднем одно ядерное превращение в достаточно тонкой мишени. Одному ядру приходится приписывать разные эффективные сечения при различных значениях энергии налетающей частицы. Для реакций, вызываемых поглощением нейтронов с тепловыми скоростями, эффективное сечение ядра нередко в сотни тысяч раз превышает геометрическое сечение. Так например, поперечное сечение ядра кадмия для захвата медленных нейтронов при резонансном значении энергии нейтрона равном 0,176 эВ достигает величины
= 7800
10
-28
м (это эффективное сечение враз превышает геометрическое сечение ядра атома кадмия, но при увеличении энергии нейтронов всего на 0,2 эВ эффективное сечение кадмия уменьшается почтив раз.
7.15 Термоядерные реакции Термоядерными называют реакции синтеза легких атомных ядер, протекающие при очень высоких температурах - от нескольких миллионов градусов до нескольких сотен миллионов градусов. Почему необходима такая высокая температура для протекания реакции слияния ядер атома Известно, что между ядерными частицами существуют и силы отталкивания и силы притяжения, причем силы отталкивания действуют и на далеких расстояниях между протонами, тогда как силы притяжения проявляются только при тесном сближении протонов и, превышая силы отталкивания, дают протонам возможность соединяться в ядро. Значит, для того чтобы протоны могли перепрыгнуть через барьер, которым "отгородилось" ядро, они должны иметь достаточно высокую энергию. Только в этом случае они смогут сблизиться на такие расстояния, при которых между ними уже действуют ядерные силы притяжения. Так, например, для слияния дейтронов необходимо их сближение до расстояния 3
10
-15
м.
На этом расстоянии потенциальная энергия взаимодействия дейтронов равна 0,5 МэВ. Температура, необходимая для протекания данной реакции, должна быть порядка T
2
10 9
К. Гораздо легче осуществима реакция слияния ядер дейтерия и трития. Расчеты показывают, что общее количество дейтерия в океанах составляет
5
10 13
т. Содержание трития в обычной воде совершенно ничтожно, но ученые нашли эффективный способ получать его искусственно из довольно распространенного элемента - лития. Температура, необходимая для протекания термоядерной реакции трития и дейтерия, должна быть порядка ста миллионов градусов. Искусственная термоядерная реакция была впервые осуществлена в Советском Союзе в виде взрыва мощной водородной бомбы. Реакция синтеза изотопов водорода протекает следующим образом Н 1
+ Н Не 2
+
1 0
n +17,6 МэВ. Высокая температура, необходимая для быстрого и эффективного протекания реакции, практически достигается взрывом атомной бомбы, содержащейся в водородной бомбе в качестве взрывателя. При образовании альфа- частицы и нейтрона из дейтерия и трития высвобождается энергия 17,6 МэВ. Энергия, выделяющаяся при взрыве одной водородной бомбы, эквивалентна энергии взрыва десятков миллионов обычных взрывчатых веществ. Значительно большая энергия освобождается при реакции синтеза легкого водорода с тритием с образованием ядра гелия и излучения Н Н Не 2
+
+ МэВ. Для выработки сверхтяжелого изотопа водорода
Н
3 1
, применяемого в водородной бомбе, используют ядерные реакторы, c помощью которых получают интенсивные потоки медленных нейтронов, необходимые для осуществления реакции
Li
6 3
+
1 0
n
Li
7 Не 2
+ Н 1
- превращение (Н Не 2
+
0 1
e
). Если полученный изотоп гелия облучать тепловыми нейтронами, то снова образуется тритий Не 2
+
1 Н 1
+
1 1
p Следует заметить, что производство изотопов водорода сопряжено с большими затратами средств. Haпpимер, расходы на строительство завод по производству трития в США на берегу реки Саванны превысили стоимость всех заводов и предприятий такой крупной корпорации, как "Дженерал мо- торс. Особый интерес представляет возможность получения для народного хозяйства энергии за счет управляемой термоядерной реакции. В последние годы большое число исследований направлено на изыскание способов, которые позволяли бы стабилизировать термоядерные реакции и управлять ими. Для осуществления управляемых термоядерных реакций необходимо решить следующие задачи во-первых, предстоит получить (конечно, не в условиях взрыва) температуру в 350 миллионов градусов - это минимальная температура, начиная с которой реакция синтеза изотопов водopoдa становится энергетически выгодной во-вторых, надо обеспечить теплоизоляцию гopячeй плазмы от стенок прибора. Это необходимо не только для уменьшения потерь тепла, но и потому, что даже самые огнеупорные материалы не останутся твердыми при температуре термоядерной реакции. Метод преодоления этой трудности заключается в изолировании горячей плазмы от стенок прибора с помощью магнитного поля. С целью разогрева плазмы до сверхвысокой температуры через нее пропускается электрическая искра от мощных электрических разрядов. Для решения этой задачи нет нужды строить сверхмощные электростанции, достаточно иметь аппараты, позволяющие получать высокие напряжения и одновременно сильные токи в течение малого времени. Такие приборы с мощными трансформаторами и конденсаторными батареями позволяют получить плазму стоком в миллионы ампер. Это настоящая искусственно созданная молния с тонким, ослепительно сверкающим шнуром (в плазме ток идет по одному каналу, а не "рыскает" в поисках легкого пути, как в молнии. Чтобы понять, почему разряд имеет форму шнура, следует обратиться копыту взаимодействия параллельных проводников стоками одинакового направления. В этом опыте проводники немедленно притягивались друг к другу. Тоже происходит ив плазме под действием поля разряда ее частицы начинают двигаться параллельно друг другу, и вызванные этим движением магнитные поля сближают частицы. Благодаря гигантским токам в разряде сближение плазменных частиц происходит почти молниеносно частицы плазмы за миллионные доли секунды собираются по оси разряда в центре цилиндра, образуя тоненькую нить — так называемый плазменный шнур. Магнитное поле вокруг канала, по которому течет ток, разо-
9
Плазма — это состояние вещества с высокой степенью ионизации, при котором необязательно, чтобы все электроны были свободными, а ядра — "оголенными. Степень "оголенности" ядер в атомах может быть самой различной.
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18
p-n перехода, Исследование температурных характеристик диодов, Гальваномагнитные явления в твёрдых телах, Исследование солнечных генераторов электроэнергии, Исследование светодиодов, Исследование термопары позволяют более глубоко понять суть физических процессов протекающих в полупроводниковых приборах, понять, что влияет на их работу, какие физические ограничения и возможности существуют для дальнейшего их совершенствования. Сточки зрения изучения строения вещества и освоения современных методов исследования особый интерес вызывает работа Анализ магнитных примесей методом ЭПР, которая позволяет самостоятельно, опираясь на полученные знания в области квантовой механики и атомной физики, в процессе проведения эксперимента определить не только какое количество неспаренных электронов есть в молекуле данного вещества, но и найти место в молекуле в котором такой электрон находится. ЗАКЛЮЧЕНИЕ Надеемся, что в результате изучения разделов физики, изложенных в данном учебнике, вами получены первоосновы знаний по квантовой механике, квантовой статистике, элементам физики твердого тела, атомной и ядерной физики. С единых позиций даны объяснения многим важным явлениям, наблюдаемым в макромире сверхпроводимости, принципам работы полупроводниковых приборов, ядерных реакторов, путей создания управляемой ядерной реакции и т.д. Дальнейшее развитие полученных знаний ждет вас при изучении спецдисциплин. В свою очередь, углубленное изучение квантовой физики приведет вас к пониманию теории великого объединения слабых и электромагнитных взаимодействий, больших достижений в теориях сильного и гравитационного взаимодействий. Ближайшие годы, несомненно, ознаменуются новыми достижениями на самом переднем крае физики - физики элементарных частиц. Объем учебника не претендует на исчерпывающее изложение предмета. Для углубленного изучения квантовой физики студенту рекомендуется литература, список которой приведен в конце
ПРЕДМЕТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ А Акцептор 94–95, 104, 190–191, 216, 239
Альфа-частица 35–36, 129, 141, 235 Аннигиляция 154 Античастица 154, 156, 159 Б Барионы 151,153
Бета-частица 150 Бозоны 54, 64, 68–69, 74, 77–78, 81, 154, 200 В Внутренняя энергия 42 Водородоподобные атомы 46 Волновая функция 7, 9–11, 13, 15, 18, 20, 23–24, 28, 30-34, 47–49, 54, 64, 156,
184 Время жизни частиц 33, 37, 93, 115 Время жизни ядра 146 Вырожденный газ 124, 138, 231–232 Г
Гамма-излучение 124, 138, 231–232 Главное квантовое число n 41, 49, 59, 61, 63–64 Д Дефект массы 111, 113, 141, 145 Диффузия 95 Доза излучения 138, 139, 190, 191 Донор 93, 95, 104 Дрейф 87, 88, 104, 191 Дырки 86, 87, 92-94, 189, 190, 211, 215-217 З Закон
− всемирного тяготения 155, 163
− Дюлонга и Пти 75, 78
− Дебая 76
− Мозли 45, 46
− радиоактивного распада 120, 121, 127, 142
− сохранения энергии 27,58, 62, 128, 157, 164 Зонная теория 82 Зона проводимости 102
− валентная 102, 189
− запрещенная 85 И Изотопы 110, 134, 141 Изобары 141 Ионизирующее излучение 136-138 К
Кватовая механика 5, 48, 214
− теория 9, 58, 156, 210
− статистика 65. 69
− электроника 4
− яма 21, 23–24, 34, 66, 102, 138, 174 Квант света (фотон) 5, 6, 33, 41, 43, 53, 59, 60-64, 73, 74, 77, 78 Квантовые числа 49, 53, 59, 153, 181
Альфа-частица 35–36, 129, 141, 235 Аннигиляция 154 Античастица 154, 156, 159 Б Барионы 151,153
Бета-частица 150 Бозоны 54, 64, 68–69, 74, 77–78, 81, 154, 200 В Внутренняя энергия 42 Водородоподобные атомы 46 Волновая функция 7, 9–11, 13, 15, 18, 20, 23–24, 28, 30-34, 47–49, 54, 64, 156,
184 Время жизни частиц 33, 37, 93, 115 Время жизни ядра 146 Вырожденный газ 124, 138, 231–232 Г
Гамма-излучение 124, 138, 231–232 Главное квантовое число n 41, 49, 59, 61, 63–64 Д Дефект массы 111, 113, 141, 145 Диффузия 95 Доза излучения 138, 139, 190, 191 Донор 93, 95, 104 Дрейф 87, 88, 104, 191 Дырки 86, 87, 92-94, 189, 190, 211, 215-217 З Закон
− всемирного тяготения 155, 163
− Дюлонга и Пти 75, 78
− Дебая 76
− Мозли 45, 46
− радиоактивного распада 120, 121, 127, 142
− сохранения энергии 27,58, 62, 128, 157, 164 Зонная теория 82 Зона проводимости 102
− валентная 102, 189
− запрещенная 85 И Изотопы 110, 134, 141 Изобары 141 Ионизирующее излучение 136-138 К
Кватовая механика 5, 48, 214
− теория 9, 58, 156, 210
− статистика 65. 69
− электроника 4
− яма 21, 23–24, 34, 66, 102, 138, 174 Квант света (фотон) 5, 6, 33, 41, 43, 53, 59, 60-64, 73, 74, 77, 78 Квантовые числа 49, 53, 59, 153, 181
− состояния 70, 81, 178
− эффекты 69, 156, 161 Кварки 152-154 Контакт металл–полупроводник 99, 100 Концентрация носителей заряда (тока) 70, 73, 79, 89, 91, 93, 97, 198, 191 -
195 Коэффициент размножения нейтронов 135
− Пельтье 213
− поглощения излучения 144
− прозрачности барьера 28-31
− упаковки 112 Л Линейчатые спектры 3, 37 М Магнетон Бора 50, 57, 59, 109, 110, 180 Момент импульса электрона орбитальный 41, 49–51, 57 Момент магнитный атома 50, 52, 109, 179, 180 Н Нейтрино 109, 123, 124, 148, 151, 157, 158 Носители заряда 87, 97, 98, 189, 217, 224 Нуклон 108, 111–116, 123, 125, 128, 130, 147, 162 О Опыты
− Дэвиссона и Джермера 8
− Резерфорда 35–36
− Франка и Генца 45 Основное состояние 63, 231, 233 П Период полураспада 131, 142, 146
p-n переход 96, 98, 100, 215–217, 221-226, 249 Поглощение света 101 Подвижность 88, 92, 104, 107, 189, 193-195 Позитрон 109, 124, 148, 157, 159, 161, 164, 230, 233-235 Полупроводники 12, 71, 83–87, 89-96, 98-108, 189-192, 194, 211-215, 220-222
− примесные 89, 93
− собственные 89, 161 Постоянная Планка 5, 61, 195, 201, 207
− Ридберга 39, 59, 61, 79
− гравитационная 155, 164
− Больцмана 71, 75, 80, 86, 106, 208, 209
− распада 121, 123, 142 Потенциальный барьер 97, 98, 123, 173, 176, 216, 220, 225 Потенциальная яма 30, 168 Протон 31–32, 35, 57, 80, 106 – 115, 117, 120, 123–128, 141, 147–150, 152,
157–159, 165, 183, 230, 233–236, 238 Р Работа выхода 99, 205 Радиоактивность 125 Рекомбинация 91, 103, 189, 226, 228
− излучательная 86 С Сильное взаимодействие 115, 161, 162 Слабое взаимодействие 154, 157, 158 Соотношение неопределенностей 11, 30, 184 Спектр излучения 37-39, 60, 62, 228, 232
− поглощения 37-39, 64
Спин 54, 57, 59, 64, 66-68, 70, 73 Средняя длина свободного пробега 195, 236 Статистика Бозе–Эйнштейна 69
− Максвелла–Больцмана 68, 69, 81
− Ферми–Дирака 54, 65, 66, 69, 73, 78, 81, 178 Т Температура Дебая 75, 78, 80, 81 Температура Ферми 71 Термоядерные реакции 238 Тритий 239 У Уравнение Шредингера 16–20, 26, 30, 34, 46-49, 53, 64, 170, 172-174 Уровень Ферми 71, 78, 90, 95, 96, 105, 108, 190–192, 205, 209, 210
− вырожденный 19, 30
− основной 25 Ф Фазовая скорость 11 Фазовое пространство 65 Фононы 69, 74-78, 80, 82, 91, 193, 195, 200, 210 Фотоны 5, 6, 33, 41, 43, 53, 59, 60-64, 73, 74, 77, 78 Х Химический потенциал 68, 77, 81 Ц Цепная реакция 133, 135 Э Электронный газ 71, 87, 192
− вырожденный 78
− невырожденный 71, 78 Электропроводность 87, 88, 89, 92, 96, 107, 189, 194, 196 Элементарные частицы 109, 148 Энергетический уровень 24, 30, 78, 83, 91, 96, 179, 180, 183 Энергия связи 41, 113-115, 130, 150, 162 Энергия Ферми 70, 72, 73, 76, 78–80, 82, 92, 107, 192, 193 Эффект Джозефсона 201-203
− Зеемана 53, 64, 180
− Зеебека 98, 103, 207
− Меснера 108
− Мессбауэра 141, 230-233
− Пельтье 103-105
− туннельный 29, 123, 225 Эффективная масса 86, 87, 90, 101, 104, 105, 108, 184, 186, 187, 190, 207 Я Ядерная (планетарная) модель 34, 35, 37, 58 Ядерные реакции 127, 128, 235, 238 Ядерные силы 111, 114, 115, 238 Ядерный реактор 134-136, 146, 162, 236, 239 Ядро 37, 42, 47, 63, 111–114, 117, 118, 122–124, 126, 132, 141, 147, 150, 157,
158, 162, 165, 230–233, 236,238
− Максвелла–Больцмана 68, 69, 81
− Ферми–Дирака 54, 65, 66, 69, 73, 78, 81, 178 Т Температура Дебая 75, 78, 80, 81 Температура Ферми 71 Термоядерные реакции 238 Тритий 239 У Уравнение Шредингера 16–20, 26, 30, 34, 46-49, 53, 64, 170, 172-174 Уровень Ферми 71, 78, 90, 95, 96, 105, 108, 190–192, 205, 209, 210
− вырожденный 19, 30
− основной 25 Ф Фазовая скорость 11 Фазовое пространство 65 Фононы 69, 74-78, 80, 82, 91, 193, 195, 200, 210 Фотоны 5, 6, 33, 41, 43, 53, 59, 60-64, 73, 74, 77, 78 Х Химический потенциал 68, 77, 81 Ц Цепная реакция 133, 135 Э Электронный газ 71, 87, 192
− вырожденный 78
− невырожденный 71, 78 Электропроводность 87, 88, 89, 92, 96, 107, 189, 194, 196 Элементарные частицы 109, 148 Энергетический уровень 24, 30, 78, 83, 91, 96, 179, 180, 183 Энергия связи 41, 113-115, 130, 150, 162 Энергия Ферми 70, 72, 73, 76, 78–80, 82, 92, 107, 192, 193 Эффект Джозефсона 201-203
− Зеемана 53, 64, 180
− Зеебека 98, 103, 207
− Меснера 108
− Мессбауэра 141, 230-233
− Пельтье 103-105
− туннельный 29, 123, 225 Эффективная масса 86, 87, 90, 101, 104, 105, 108, 184, 186, 187, 190, 207 Я Ядерная (планетарная) модель 34, 35, 37, 58 Ядерные реакции 127, 128, 235, 238 Ядерные силы 111, 114, 115, 238 Ядерный реактор 134-136, 146, 162, 236, 239 Ядро 37, 42, 47, 63, 111–114, 117, 118, 122–124, 126, 132, 141, 147, 150, 157,
158, 162, 165, 230–233, 236,238
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
1. Алфёров Ж.Т., Физика и жизнь / Ж.И. Алфёров. – М.-СПб.: Наука, 2001.
2. Детлаф А.А., Курс физики. /Детлаф А.А, Яворский Б.М. М Высшая школа, 2009.
3. Климчицкая ГЛ. Элементы квантовой механики и атомной физики текст лекций ГЛ. Климчицкая, В.Я. Шабаев Ленинград. – СЗПИ, 1992.
4. Парфенова И.И. Квантовая механика, физика твёрдого тела и элементы атомной физики Парфенова И.И., Егоров СВ, Мустафаев АС. и др. Сборник задач для студентов технических специальностей, СПб.: СПГГИ (ТУ, 2010. 112 с.
5. Пасынков В.В., Сорокин В.С. Материалы электронной техники Учеб. для студ. вузов по спец. электронной техники. е изд. – СПб.: Издательство Лань, 2001 – 368 с.
6. Савельев ИВ. Курс физики. Т, М Лань, 2008.
7. Томаев В.В., Общая физика. Физика твердого тела. Зонная теория твердых тел. Контактные и магнитные явления в твердых телах. Метод. указания к лабораторным работам /
Томаев В.В., Стоянова Т.В., Левин КЛ. СПб.: 2012 8. Трофимова Т.И. Курс физики учеб. пособие / Т.И. Трофимова. - М Высш. шк, 2001 и др. г. изд.
9. Федорцов А.Б. Радиационная безопасность учеб. пособие /А.Б. Федорцов – СПб.:1996 10. Цаплев В.М.Курс физики. Элементы квантовой и атомной физики учеб. пособие /
В.М. Цаплев, И.Г. Орехова, Е.А. Лиходаева. – СПб.: Изд-во СЗТУ, 2006. – 141 с.
11. Чуркин Ю.В. Физика твердого тела учеб. пособие Ю.В. Чуркин, СВ. Субботин. –
СПб.: Изд-во СЗТУ, 2008.
12. Шерстюк АИ. Физика твердого тела письм. лекции АИ. Шерстюк. – СПб.: Изд-во
СЗТУ, 2003
1. Алфёров Ж.Т., Физика и жизнь / Ж.И. Алфёров. – М.-СПб.: Наука, 2001.
2. Детлаф А.А., Курс физики. /Детлаф А.А, Яворский Б.М. М Высшая школа, 2009.
3. Климчицкая ГЛ. Элементы квантовой механики и атомной физики текст лекций ГЛ. Климчицкая, В.Я. Шабаев Ленинград. – СЗПИ, 1992.
4. Парфенова И.И. Квантовая механика, физика твёрдого тела и элементы атомной физики Парфенова И.И., Егоров СВ, Мустафаев АС. и др. Сборник задач для студентов технических специальностей, СПб.: СПГГИ (ТУ, 2010. 112 с.
5. Пасынков В.В., Сорокин В.С. Материалы электронной техники Учеб. для студ. вузов по спец. электронной техники. е изд. – СПб.: Издательство Лань, 2001 – 368 с.
6. Савельев ИВ. Курс физики. Т, М Лань, 2008.
7. Томаев В.В., Общая физика. Физика твердого тела. Зонная теория твердых тел. Контактные и магнитные явления в твердых телах. Метод. указания к лабораторным работам /
Томаев В.В., Стоянова Т.В., Левин КЛ. СПб.: 2012 8. Трофимова Т.И. Курс физики учеб. пособие / Т.И. Трофимова. - М Высш. шк, 2001 и др. г. изд.
9. Федорцов А.Б. Радиационная безопасность учеб. пособие /А.Б. Федорцов – СПб.:1996 10. Цаплев В.М.Курс физики. Элементы квантовой и атомной физики учеб. пособие /
В.М. Цаплев, И.Г. Орехова, Е.А. Лиходаева. – СПб.: Изд-во СЗТУ, 2006. – 141 с.
11. Чуркин Ю.В. Физика твердого тела учеб. пособие Ю.В. Чуркин, СВ. Субботин. –
СПб.: Изд-во СЗТУ, 2008.
12. Шерстюк АИ. Физика твердого тела письм. лекции АИ. Шерстюк. – СПб.: Изд-во
СЗТУ, 2003
СОДЕРЖАНИЕ ПРЕДИСЛОВИЕ ................................................................................................... 3 ВВЕДЕНИЕ ........................................................................................................... 3 1 КВАНТОВАЯ МЕХАНИКА .......................................................................... 4 1.1 Волны де Бройля. Волновые свойства микрочастиц ............................. 4 1.2 Принцип неопределенности Гейзенберга ............................................... 8 1.3 Основное уравнение квантовой механики - уравнение Шредингера ... 9 1.3.1 Свойства волновой функции ............................................................ 9 1.3.2 Принцип суперпозиции в квантовой механике. 10 1.3.3 Уравнение Шредингера. Квантование энергии ............................ 11 1.4 Простейшие кванто-механические задачи ............................................ 13 1.4.1 Электрон в потенциальной яме ...................................................... 13 1.4.2 Прохождение микрочастицы сквозь потенциальный барьер ...... 17 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ................. 20 Примеры решения задач ................................................................................ 21 Задачи для самостоятельного решения ........................................................ 22 Выводы ............................................................................................................ 23 2 АТОМНАЯ ФИЗИКА ................................................................................... 24 2.1 Ядерная модель строения атома ............................................................ 24 2.1.1 Методы исследования атомов ........................................................ 24 2.1.2 Опыты Резерфорда по рассеянию альфа-частиц и ядерная модель атома. 24 2.1.3 Спектры испускания и поглощения атомов .................................. 26 2.1.4 Теория Бора для водорода и водородоподобных атомов ............. 28 2.2 Атом как квантовомеханическая система ......................................... 32 2.2.1 Уравнение Шредингера для электрона в кулоновском поле ядра 2.2.2 Квантовые числа .............................................................................. 33 2.2 Вырожденные состояния ........................................................................ 36 2.3 Многоэлектронные атомы ...................................................................... 37 2.3.1 Неразличимость частиц в квантовой механике ............................ 37 2.3.2 Принцип Паули ................................................................................. 37 2.3.3 Взаимодействие электронов в атоме .............................................. 38 2.3.4 Связь квантовой теории с периодической системой .................... 39 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ................. 40 Примеры решения задач ................................................................................ 41 Задачи для самостоятельного решения ........................................................ 43 Выводы ............................................................................................................ 44 3 КВАНТОВАЯ СТАТИСТИКА ..................................................................... 45 3.1 Квантово-статистические распределения Бозе-Эйнштейна и Ферми-
Дирака ............................................................................................................. 45 3.2 Понятие об электронном, фононном и фотонном газе ........................ 47 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ................. 53 Примеры решения задач ................................................................................ 54
Дирака ............................................................................................................. 45 3.2 Понятие об электронном, фононном и фотонном газе ........................ 47 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ................. 53 Примеры решения задач ................................................................................ 54
Задачи для самостоятельного решения ........................................................ 55 Выводы ............................................................................................................ 56 4 ФИЗИКА ТВЁРДОГО ТЕЛА ........................................................................ 57 4.1 Элементы зонной теории твёрдых тел .................................................. 57 4.2 Электропроводность полупроводников ................................................ 60 4.2.1 Движение электронов во внешнем электрическом поле .............. 60 4.2.2 Собственная проводимость полупроводников ............................. 61 4.2.3 Примесная проводимость полупроводников ................................ 63 4.3 Контактные явления в полупроводниках и металлах .......................... 65 4.3.1 Электронно-дырочный переход ..................................................... 65 4.3.2 Контактная разность потенциалов металла и полупроводника .. 68 4.3.3 Гетеропереход .................................................................................. 69 4.3.4 Эффекты Зеебека и Пельтье ........................................................... 71 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ................. 71 Примеры решения задач ................................................................................ 72 Задачи для самостоятельного решения ........................................................ 73 Выводы ............................................................................................................ 74 5 ЯДЕРНАЯ ФИЗИКА ..................................................................................... 75 5.1 Строение ядра .......................................................................................... 75 5.1.1 Характеристики нуклонов и свойства ядра ................................... 75 5.1.2 Дефект массы. Энергия связи ядра ................................................ 77 5.1.3 Ядерные силы ................................................................................... 79 5.2 Явления естественной радиоактивности ............................................... 80 5.2.1 Основные характеристики радиоактивного излучения ................ 80 5.2.2 Закон радиоактивного распада ....................................................... 83 5.2.3 Методы регистрации заряженных частиц ..................................... 85 5.3 Ядерные реакции ..................................................................................... 86 5.3.1 Классификация ядерных реакций .................................................. 86 5.3.2 Общие закономерности ядерных реакций ..................................... 88 5.3.3 Деление ядер. Цепные ядерные реакции ....................................... 89 5.4 Основы радиационной безопасности .................................................... 93 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ................. 96 Примеры решения задач ................................................................................ 97 Задачи для самостоятельного решения ...................................................... 100 Выводы .......................................................................................................... 101 6 ФУНДАМЕНТАЛЬНЫЕ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ И ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ ЧАСТИЦЫ ........................................................................................................ 101 6.1 Элементарные частицы. 101 6.2 Классификация элементарных частиц ................................................ 103 6.3 Фундаментальные взаимодействия ..................................................... 106 6.3.1 Гравитационное взаимодействие ................................................. 106 6.3.2 Слабое взаимодействие ................................................................. 108 6.3.3 Электромагнитное взаимодействие ............................................. 110 6.3.4 Сильное взаимодействие ............................................................... 111 Вопросы для самоконтроля и проверки владения материалом ............... 112 Примеры решения задач .............................................................................. 112
Задачи для самостоятельного решения ...................................................... 113 Выводы .......................................................................................................... 114 7 ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ТЕМЫ .................................................................... 114 7.1 Метод возмущений в квантовой механике ......................................... 114 7.2 Трёхмерная задача в потенциальном ящике ....................................... 115 7.3 Гармонический осциллятор. 116 7.4 Прохождение частицы сквозь потенциальный барьер конечной ширины. 119 7.5 Анализ магнитных примесей Методом ЭПР ...................................... 121 7.6 Движение электрона в поле кристаллической решетки. Понятие об эффективной массе электрона .................................................................... 126 7.7 Pависимость электропроводности твёрдых материалов от температуры .................................................................................................. 129 7.8 Явление сверхпроводимости ................................................................ 134 7.9 Определение удельной термо-ЭДС и коэффициента Пельтье .......... 140 7.10 Cолнечные генераторы электроэнергии на основе полупроводниковых структур ..................................................................... 147 7.11 Полупроводниковый диод. Светоизлучающий диод ....................... 152 7.12 Гамма излучение ядер ......................................................................... 157 7.13 Механизм поглощения
- лучей. Позитрон ..................................... 159 7.14 Нейтроны и их прохождение через вещество .................................. 161 7.15 Термоядерные реакции ....................................................................... 163 Выводы .......................................................................................................... 165 СВЯЗЬ ФУНДАМЕНТАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ С СОВРЕМЕННЫМИ МЕТОДАМИ ИССЛЕДОВАНИЯ ................................................................... 166 ЗАКЛЮЧЕНИЕ ................................................................................................ 167 ПРЕДМЕТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ........................................................................ 169 БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК ............................................................. 172 СОДЕРЖАНИЕ ................................................................................................ 173
- лучей. Позитрон ..................................... 159 7.14 Нейтроны и их прохождение через вещество .................................. 161 7.15 Термоядерные реакции ....................................................................... 163 Выводы .......................................................................................................... 165 СВЯЗЬ ФУНДАМЕНТАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ С СОВРЕМЕННЫМИ МЕТОДАМИ ИССЛЕДОВАНИЯ ................................................................... 166 ЗАКЛЮЧЕНИЕ ................................................................................................ 167 ПРЕДМЕТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ........................................................................ 169 БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК ............................................................. 172 СОДЕРЖАНИЕ ................................................................................................ 173
1 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18