Файл: Labwork(atom)4-1-2-3.pdf

www.phys.nsu.ru

ния присутствия их в процессе формирования изображения требуется учесть интерференционные эффекты. Длина волны быстрого электрона определяется из следующих соображений. Из закона сохранения энергии для электрона с зарядом “-e”, проходящего через область, в которой значение потенциала изменяется от 0 до V0, следует

Для ускоряющего напряжения в 100 кВ длина волны электрона λ = 0,037 Å. При повышенных энергиях надо учитывать релятивистское изменение массы электрона. Погрешность определения λ в случае использования нерелятивистских формул при ускоряющем напряжении 100 кВ уже достигает 5 %. В релятивистском случае масса частицы становится больше массы покоя:

m =γm0 = m0 1−v2 / c2 ,

где m0 – масса покоя электрона, с – скорость света. Уравнения (1)–(3) соответствующим образом модифицируются. Используя соотношение де Бройля, можно получить длину волны электрона с релятивистской поправкой в виде

так называемое “релятивистское ускоряющее напряжение”, введенное для удобства. После расчётов величина λ может быть представлена в виде

где V0 выражается в вольтах, а λ – в нанометрах. Релятивистская поправка существенна для высоковольтной электронной микроскопии. Если V0 выражается в мегавольтах, хорошим приближением для релятивистского ускоряющего напряжения будет

7 Планк Макс Карл Эрнест Людвиг (23.IV.1858–4.X.1947) – немецкий физик-теоретик, член Берлинской АН (1894), АН СССР (1926), Лондонского королевского общества (1926), профессор ряда немецких университетов. Вывел законы химического равновесия в газах и растворах (1887). Вывел закон чернотельного излучения (1900), ввёл квант действия (постоянную Планка, Нобелевская премия 1918 г.), вывел релятивистские уравнения для энергии и импульса электрона (1906), тогда же придумал термин «теория относительности». Именем Планка названо научное общество в Германии.

30

www.phys.nsu.ru

Vr =V0 +V02 ,

откуда следует, что Vr = 6 МВ для микроскопа с энергией электронов 2 МэВ. Самые большие приборы, имеющиеся в настоящее время, работают с ускоряющим напряжением 3 МВ.

Фокусировка электронного луча магнитным полем. Наиболее подходящим средством изме-

нения направления движения электронов является воздействие на него электрическим или магнитным полем. Используемые в электронных микроскопах электромагнитные линзы имеют тороидальную форму с внутренним полым цилиндрическим каналом. Если в этот канал направить электронный пучок, то на входе в него электроны начнут вращаться вокруг оси цилиндра. Это обусловлено тем, что на них действует сила, перпендикулярная направлению их движения и радиальной составляющей магнитного поля. Благодаря воздействию продольной составляющей напряженности магнитного поля электроны, обладающие теперь и азимутальной скоростью, начнут приближаться к оси симметрии таким образом, что при выходе из канала электромагнита они соберутся в одну точку, лежащую на указанной оси. Электрические и магнитные поля изменяют направление движения электронов и, кроме того, при достаточном приближении электронов к оси симметрии обладают свойствами линз, т. е. фокусирующими свойствами. Поэтому для описания свойств электронных линз можно использовать фокусное расстояние и положения фокальной плоскости аналогично оптической микроскопии.

Электронно-оптическая схема микроскопа. Электронный микроскоп состоит из электронной пушки и системы электронных линз (рис. 1). На этой же схеме изображен путь луча в микроскопе, в конструкции которого имеется три ступени увеличения (объектив, промежуточная линза и проектор) и одна конденсорная линза в осветительной системе.

Все электроны, рассеянные препаратом в одном и том же направлении сводятся объективной линзой в одну точку, лежащую в ее фокальной плоскости. Если объект обладает кристаллической решеткой, то он образует дискретный набор направлений рассеяния электронов, каждому из которых соответствует точка в фокальной плоскости. Таким образом, в этой плоскости располагается дифракционная картина объекта. При продолжении траекторий электронов они пересекают плоскость, сопряженную объекту так, что все электроны, прошедшие через определенную точку объекта, попадают в одну и ту же точку сопряженной плоскости. Вследствие этого центральный неотклоненный пучок образует в сопряженной плоскости светлопольное изображение, а каждый из дифракционных пучков – темнопольное. Каждое из этих изображений может быть выделено с помощью апертурной диафрагмы в фокальной плоскости объектива.

Расположенная за сопряженной плоскостью длиннофокусная промежуточная линза при изменении ее фокусного расстояния может переносить на плоскость, в которой расположена диафрагма проектора, как изображение объекта, так и дифракционную картину, формирующуюся в фокальной плоскости объектива. Таким образом, промежуточная линза позволяет совмещать в электронном микроскопе наблюдение увеличенного изображения объекта и его дифракционной картины. Соответственно проекционная линза переносит на конечный экран либо трехкратно увеличенное изображение объекта, либо его двукратно увеличенную дифракционную картину.

31

www.phys.nsu.ru

Источник

электронов

Конденсорная диафрагма и линза

Образец

Объективная линза и диафрагма

I – дифракционная картина

I1– изображение Промежуточная линза

Селекторная

диафрагма

I2 – изображение Проекционная линза

III – дифракционная картина

Конечное изображение

На флуоресцирующем экране

Рис.1. Путь лучей в электронном микроскопе. Показаны два режима работы микроскопа

Увеличенное изображение I1, сформированное объективом, называется первым промежуточным изображением. Оно служит в качестве объекта для промежуточной линзы, которая формирует второе промежуточное изображение I2. Далее изображение I2 увеличивается проекционной линзой для получения конечного изображения объекта на флуоресцирующем экране.

Таким образом, для получения на конечном экране увеличения, например в 20000 крат, типичные (приблизительные) увеличения различных ступеней для электронного микроскопа следующие: объективная линза ×25, промежуточная линза ×8, проекционная линза ×100. При этом конечное увеличение можно изменять, регулируя ток в промежуточной или проекционной линзе.

Дифракция от малого участка препарата (микродифракция) осуществляется с помощью селекторной диафрагмы сопряженной плоскости объектива, через которую пропускаются далее лишь электроны, которые взаимодействовали с выделенным участком препарата и участвовали в формировании его изображения. Аналогичным образом в дифракционной картине с помощью апертурной диафрагмы (в фокальной плоскости объективной линзы) можно выделить дифракционный луч и вслед за этим получить темнопольную картину, соответствующую этому дифракционному лучу.

32

www.phys.nsu.ru

Разрешение микроскопа и аберрации линз. Основным преимуществом использования электронных микроскопов является их исключительно высокая разрешающая способность, которая становится возможной из-за чрезвычайно малой длины волны электронов по сравнению с длинами волн других форм излучения, для которых можно создать оптическую систему. Величина этого разрешения определяется формулой Рэлея8, полученной с учетом максимального угла рассеяния электронов α, при котором они еще могут пройти через объективную линзу. Эта формула имеет следующий вид:

где R – размер разрешаемого объекта, λ – длина волны, α – эффективная угловая апертура объективной линзы.

Эффективная угловая апертура в электронном микроскопе ограничивается главным образом сферической аберрацией. Ошибка, возникающая из-за сферической аберрации, выражается следующей формулой:

где Cs – коэффициент сферической аберрации (приблизительно равен фокусному расстоянию, например 3 мм).

Таким образом, с уменьшением α величина R возрастает, а S уменьшается. В связи с этим в электронной оптике существуют понятия оптимальной апертуры и минимального разрешения, выражаемые формулами

где А и В – константы порядка единицы.

Кроме того, на разрешение влияют такие факторы, как астигматизм, хроматическая аберрация электронной оптики микроскопа, а также хроматическая аберрация, возникающая из-за потерь энергии в объекте. Из-за этих погрешностей разрешение в случае неаксиального освещения ухудшается:

где Сс – коэффициент хроматической аберрации линзы.

8 Рэлей (Стретт) Джон Уильям (12.XI.1842–30.VI.1919) – английский физик, член Лондонского королевского общества (1873), его президент в 1905–1908 гг. Работал в Кембриджском университете, затем в собственной лаборатории, профессор и директор Кавендишской лаборатории, профессор Королевского института в Лондоне, с 1908 г. – президент Кембриджского университета. Титул лорда Рэлея получил в 1873 г. после смерти отца. Основоположник теории колебаний, ввёл понятия фазовой и групповой скорости (формула Рэлея) и понятие автоколебаний. В 1885 г. открыл новый тип поверхностных волн (волны Рэлея). В 1900 г. вывел один из законов излучения абсолютно чёрного тела (закон Рэлея—Джинса). Независимо от О.Хевисайда создал теорию скин-эффекта. Заложил основы теории молекулярного рассеяния света (закон Рэлея), чем объяснил голубой цвет неба. В 1879 г. создал теорию разрешающей способности оптических приборов (критерий Рэлея). В 1894 г. совместно с У. Рамзаем открыл аргон (Нобелевская премия 1904 г.). Обнаружил явление магнитной вязкости, закон намагничивания Рэлея, создал рефрактометр Рэлея, дифференциальный манометр Рэлея, прибор для измерения силы звука (диск Рэлея). Медали Румфорда, Копли, Фарадея.

33

www.phys.nsu.ru

Разброс значений Е возникает из-за флуктуаций энергии электронов в падающем пучке, флуктуаций тока в линзах, а также процессов поглощения в образце. В то время как αopt и Rmin медленно изменяются с изменением Е (через зависимость от λ), С с ростом Е быстро уменьшается. Это – одно из главных преимуществ работы при высоких ускоряющих напряжениях. Разрешающая способность электронного микроскопа зависит от ряда физических явлений, важнейшие из которых – сферическая и хроматическая аберрации электронных линз, главным образом объектива. Кроме того, сильный астигматизм возникает из-за асимметрии магнитного поля. Асимметрию поля в любом направлении можно исправить, вводя компенсирующую слабую цилиндрическую линзу правильно подобранной силы и ориентации. На современном приборе, снабженном стигматором для исправления астигматизма, можно уменьшить эту аберрацию до такой степени, что она уже не будет ограничивать разрешение.

В электронных микроскопах последнего поколения, где на современном техническом уровне учтены все мешающие факторы, достигнуто разрешение близкое к 1 Å. Применение высокого разрешения на электронных микроскопах привело к возможности наблюдений рядов атомов и даже отдельных атомов вещества для изучения структуры объектов в физике твердого тела, кристаллографии, материаловедении, химии и минералогии.

Система обозначения кристаллографических плоскостей

Кристаллические структуры вещества, в которых плотность материи распределена периодически с межплоскостными расстояниями порядка единиц и десятков ангстрем, являются естественными дифракционными решётками для электронов, так же как и для рентгеновских лучей и нейтронов. Однако природа взаимодействия электронов, нейтронов и рентгеновских лучей с веществом при дифракции различна, и это определяет для каждого метода различия в рассеивающей способности атомов и интенсивности дифракционных лучей.

В кристаллическом веществе как отдельные материальные частицы, так и их группы периодически чередуются в трёх измерениях так, что относительное их расположение одинаково во всем объёме. Любая из совокупности идентичных точек, обладая одним и тем же взаимным пространственным расположением, является характерным для данной структуры и под названием решётки служит средством описания структуры, а сами точки считаются узлами этой решётки. Эта решётка в общем случае является периодической в трёх измерениях.

Для описания решётки достаточно задать такой параллелепипед, приняв его рёбра за координатные оси, а для описания структуры следует указать координаты атомов внутри параллелепипеда. В качестве элементарной ячейки решётки выбирается параллелепипед, обладающий наивысшей симметрией и наименьшим объёмом. Ячейки, а вместе с ними и решётки характеризуются длинами рёбер (периодами решётки – a, b, c) и углами между ними – α, β, γ.

Кристаллическую решётку можно рассматривать и как совокупность параллельных друг другу узловых прямых или узловых плоскостей. Можно выделить бесчисленное количество различных систем параллельных друг другу прямых или плоскостей. Каждая система отличается ориентиров-

34