Файл: 30. Природа света.docx

ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 29.11.2023

Просмотров: 385

Скачиваний: 2

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.


Рис. 280. Действие дифракционной решетки: S — ярко освещенная щель, параллельная штрихам решетки, L1 — линза, в фокальной пло­скости которой расположена щель, R — дифракционная решетка, L2 — линза, дающая совместно с L1 изображение S на экране М, S0 — изображение щели S с помощью неотклоненных лучей (макси­мум нулевого порядка), S1, S'1 — изображения щели S с помощью от­клоненных решеткой лучей (максимумы первого порядка), S2, S'2 — изображения щели S с помощью отклоненных решеткой лучей (мак­симумы второго порядка) и т. д.

если нанести царапины на поверхность металлического зер­кала. В этих решетках чередуются полоски, правильно от­ражающие свет, и царапины, разбрасывающие свет во все стороны. Такие решетки называются отражательными. Сумму ширины прозрачной (отражающей) и непрозрачной (рассеивающей) полоски принято называть периодом ре­шетки d. В лучших современных решетках наносят до 1800 штрихов на 1 мм, так что период решетки может быть около 0,8 мкм.
Направим на решетку перпендикулярно к ее поверхности пучок параллельных лучей. Для этого можно ярко осветить узкую щель S, расположенную в фокальной плоскости со­бирающей линзы L1(рис. 280). Свет, проходя через узкие прозрачные полоски решетки RR, испытывает дифракцию, отклоняясь в стороны от своего первоначального направле­ния. При помощи второй линзы L2получим на экране М изображение щели S. Так как вследствие дифракции лучи от решетки падают на линзу L2по разным направ­лениям, то изображения щели S должны расположить­ся в разных местах экрана. Однако благодаря вза­имной интерференции отклоненных пучков некоторые из этих изображений будут отсутствовать (минимумы), а дру­гие будут особенно сильны (максимумы S0, S1, S'1, S2,S'2...).




Рис. 281. К теории дифракционной решетки

Результат такой интерференции можно рассчитать, поль­зуясь рис. 281, где изображены несколько рядом располо­женных прозрачных участков решетки. Предположим, что на решетку падает монохроматический свет длины волны . Пусть фронт падающей волны совпадает с АВ (плоскостью решетки), т. е. свет падает перпендикулярно к решетке. В результате дифракции света на выходе из решетки будут наблюдаться световые волны, распространяющиеся по все­возможным направлениям. Рассмотрим волны, распростра­няющиеся от решетки по направлению, составляющему угол  с нормалью к плоскости решетки. Разности хода лучей, идущих от соответствующих точек отверстий, на­пример от правых краев (точки А, A1, A2, А3, . . .), от ле­вых краев (точки B1, B2,B3,B4 . . .) или от середин отвер­стий и т. д., имеют, конечно, одно и то же значение. Эти разности равны



где d=AA1=A1A2=A2A3есть период решетки. Для того чтобы все пучки усиливали друг друга, не­обходимо, чтобы dsin равнялось целому числу длин волн , т. е.

(135.1)

где n —целое число. Таким образом, условие (135.1) есть ус­ловие взаимного усиления всех пучков, прошедших через отверстия решетки. Это условие позволяет определить те значения угла , т. е. те направления, по которым будут наблюдаться максимумы света длины волны . Эти углы най­дем из формулы

(135.2)

давая nразличные целые значения: 0, ±1, ±2, ±3 и т. д.

§ 136. Дифракционная решетка как спектральный прибор.

Из формулы (135.2) следует, что для данной длины волны может наблюдаться несколько максимумов. На­правление, соответствующее n=0, есть =0; это — направ­ление первоначального пучка. Соответствующий максимум носит название максимума нулевого порядка; на рис. 280 ему соответствует точка S0. При n=1 имеем: sin1=/d, при n

=—1, sin'1=—/d, т. е. имеются два макси­мума первого порядка, расположенных симметрично по обеим сторонам нулевого максимума (точки S1 и S'1на рис. 280). При n=±2 найдем sin2=2/dи sin'2=—2/d, т. е. два симметричных максимума второго порядка (точки S2 и S'2 на рис. 280), и т. д.

Отсюда непосредственно следует, что для волн разной длины положения максимумов нулевого порядка, соответ­ствующие =0, совпадают, а положения максимумов первого, второго и т. д. порядков различны: чем боль­ше , тем больше соответствующие . Таким образом, более длинные волны дают изображения щели, дальше расположенные от нулевого максимума. Если на щель S(рис. 280) падает сложный свет (например, белый), то в плоскости экрана ММ мы получим ряд цветных изображе­ний щели, расположенных в порядке возрастающих длин волн. На месте нулевого максимума, где сходятся все длины волн, будем иметь изображение щели в белом свете, а по обе стороны его развернутся цветные полосы от фиоле­товых до красных (спектры первого порядка); несколько дальше расположатся вторые цветные полосы (спектры второго порядка) и т. д.

Так как длина волны красного цвета около 760 нм, а фиолетового около 400 нм, то красный конец спектра вто­рого порядка накладывается на спектр третьего порядка. Еще сильнее перекрываются спектры высших порядков. Рис. V (см. форзац) дает схематическое изображение спект­ра, полученное с помощью дифракционной решетки. Легко видеть, что этот рисунок, представляющий результаты опы­та, подтверждает все полученные выше выводы.

Если период решетки dмал, то соответствующие значе­ния  велики; точно так же при малом dвелика и разность двух значений  для волн различной длины. Таким образом, уменьшение периода решетки увеличивает угловое расстоя­ние между максимумами различных длин волн. Если свет, падающий на щель, представляет смесь различных длин волн 1, 2, 3и т. д., то при помощи дифракционной решетки можно более или менее полно разделить эти длины волн. Чем больше общий размер решетки, т. е. чем больше полосок она содержит, тем выше качество решетки: увеличение числа полосок увеличивает коли­чество пропускаемого решеткой света (максимумы стано­вятся ярче) и улучшает разделение излучений близких длин волн (максимумы становятся резче).

Зная период дифракционной решетки
, можно ее исполь­зовать для определения длины световой волны, измерив угол , определяющий положение максимума данного порядка. В таком случае из соотношения dsin=nнай­дем

(136.1)

Измерение длины световой волны при помощи дифрак­ционных решеток принадлежит к числу наиболее точных.

§ 137. Изготовление дифракционных решеток. Хорошая дифракцион­ная решетка должна обладать малым периодом и большим числом поло­сок. В современных хороших решетках число это превышает 100 000 (ширина решетки до 100 мм, число полосок до 1200 на 1 мм). Полоски должны быть строго параллельными между собой, и ширина полосок каждого сорта (прозрачных и непрозрачных) строго одинакова (равенство ширины прозрачной и непрозрачной полосок не обяза­тельно). Существенно, чтобы период решетки dбыл постоянен.

Хорошие решетки получают, проводя тонким резцом параллельные штрихи на поверхности металлического зеркала (отражательной решетки), причем штрихи, разбрасывающие свет во все стороны, играют роль темных полосок, а нетронутые места зеркала — роль светлых. Для из­готовления решетки, работающей на пропускание, можно прочертить штрихи на поверхности стеклянной пластинки *). Для изготовления ре­шетки требуется первоклассная делительная машина. В настоящее вре­мя широкое применение находят дифракционные решетки, полученные в результате регистрации на специальных фотопластинках интерферен­ционной картины, возникающей при интерференции двух плоских моно­хроматических световых волн, падающих под разными углами на плос­кость фотопластинки.

§ 138. Дифракция при косом падении света на решетку. На рис, 280 изображена дифракция параллельного пучка лучей (плоская волна) в случае, когда падающий пучок перпендикулярен к плоскости решетки (угол падения равен нулю). Дифракция, конечно, будет наблюдаться и при косом падении света, когда угол падения равен а.



Рис. 282. Схематическое изображение дифракции при косом падения

светового пучка на решетку: SO — направление первичного пучка,

 — угол падения,
RR — дифракционная решетка, R'R' — проекция

RR на направление, перпендикулярное к первичному пучку, OS0

направление на нулевой максимум, OS1 и OS'2 — направления на максимумы первого порядка, OS2 и OS'2 — направления на максимумы

второго порядка и т. д.

В этом случае дифракция происходит так, как если бы наша решетка была заменена другой, представляющей ее проекцию на направление, перпендикулярное к падающим лучам (рис. 282). Нулевой максимум будет, следовательно, лежать на продолжении первичного пучка, а пе-

*) Так как при прочерчивании штрихов по стеклу или металлу резец тупится, и поэтому трудно обеспечить равенство ширины штри­хов, то хорошие решетки на стекле изготовляются редко. Прозрачные решетки изготовляют в виде отпечатков из специальных пластичных материалов с металлической (отражательной) решетки, Такие решет­ки (так называемые реплики) относительно недороги.

риодом будет служить величина d'=dcos. В тех случаях, когда а близ­ко к 90° (скользящее падение), период, определяющий дифракционную картину, может быть гораздо меньше, чем период действительной решет­ки. Благодаря этому можно наблюдать дифракцию света на очень гру­бой решетке.

Взяв, например, металлическую линейку с миллиметровыми деле­ниями и расположив ее весьма наклонно к лучам, идущим от волоска удаленной лампы накаливания (волосок должен располагаться парал­лельно штрихам решетки, играя роль освещенной щели), можно легко наблюдать дифракционные спектры разных порядков. Меняя поворотом линейки угол падения, можно видеть, как растягиваются спектры и уве­личивается расстояние между порядками (т. е. уменьшается период) по мере приближения угла падения к 90°.

Пользуясь косым падением, можно наблюдать с помощью обычной дифракционной решетки дифракцию рентгеновских лучей, длина вол­ны которых в десятки тысяч раз меньше, чем световых. Так, поставив решетку с периодом 1 мкм под углом =89°59'40", мы получим карти­ну, соответствующую решетке с периодом около 1 Å, и можем изучить дифракцию рентгеновских лучей, длина волны которых составляет долю ангстрема *): Этот метод наблюдения дал возможность весьма точного определения длины волны рентгеновских лучей.