ВУЗ: Не указан

Категория: Не указан

Дисциплина: Не указана

Добавлен: 01.08.2024

Просмотров: 453

Скачиваний: 0

ВНИМАНИЕ! Если данный файл нарушает Ваши авторские права, то обязательно сообщите нам.

Приняв эту энергию за начало отсчета, для энергий отдельных компонент сверхтонкой структуры находим

(30)

Нетрудно видеть, что расстояния между компонентами (в единицах скорости или в энергетических единицах) определяются произведениями и. Таким образом, если из трех независимых переменных , и B какое-либо одно известно, можно найти другие две. В большинстве случаев известной величиной является g-фактор основного состояния . Если измерения проводятся во внешнем магнитном поле, то известной величиной являетсяВ и, следовательно, могут быть определены g-факторы как основного, так и возбужденного состояний.

Из формулы (27) следует, что интенсивности компонент сверхтонкой структуры зависят от угла наблюдения , т.е. направления импульса γ-кванта относительно направления магнитного поля. Для неполяризованного ферромагнетика со случайной ориентацией намагниченности отдельных доменов интенсивности линий, приведенные в табл. 1, следует усреднить по всем возможным значениям . В результате такого усреднения находим, что интенсивности компонент мессбауэровского спектра (в порядке их расположения в табл. 1) будут находиться в отношении 3:2:1. Если ферромагнетик поляризован магнитным полем, направленным вдоль потока квантов, то =0 и из табл. 1 находим соотношение интенсивностей 3:0:1. Наконец, если ферромагнетик намагничен перпендикулярно потоку квантов, то =90° и интенсивности компонент будут находиться в отношении 3:4:1. Можно заметить, что от угла зависит относительная интенсивность второй компоненты, тогда как отношение интенсивностей первой и третьей компонент остается постоянным. Вид мессбауэровских спектров для трех рассмотренных характерных случаев показан на рис. 6.


Рис. 6. Сверхтонкая структура мессбауэровского спектра для ферромагнетика со случайной ориентацией намагниченности в отдельных доменах (а) и для ферромагнетика, намагниченного параллельно (б) или перпендикулярно (в) потоку γ-излучения. Положение компонент сверхтонкой структуры примерно соответствует структуре мессбауэровского спектра для 14,4 кэВ γ-перехода 57Fе. Цифры в верхней части рисунка соответствуют нумерации γ-переходов на рис. 5

Компоненты магнитной сверхтонкой структуры характеризуются определенной поляризацией, зависящей от величины М. Например, для ферромагнетика, намагниченного вдоль потока γ-квантов, в спектре присутствуют только компоненты, соответствующие переходам с М=±1. Для таких переходов γ-излучение имеет циркулярную поляризацию, правую при М=+1 и левую при М=-1. Поляризацию компонент сверхтонкой структуры можно исследовать методом эмиссионной мессбауэровской спектроскопии. При этом как источник, так и поглотитель должны быть приготовлены из ферромагнитного вещества с разрешенной структурой спектра. Резонансное поглощение будет иметь место только в том случае, если соответствующие компоненты спектров испускания и поглощения не только совпадут по энергии, но и будут иметь одинаковую поляризацию. Если, например, поляризация компонент спектра поглощения известна, однозначно определяется и поляризация компонент спектра испускания. Поскольку знак поляризации определяется направлением оси квантования, такой эксперимент позволяет определить знак сверхтонкого поля (см. (23)). В качестве анализатора поляризации обычно используется фольга из намагниченного железа, поскольку для железа хорошо известно, что знак сверхтонкого поля отрицательный.


    1. Квадрупольное взаимодействие

Вторым типом сверхтонкого взаимодействия, приводящего к расщеплению мессбауэровской линии, является электрическое квадрупольное взаимодействие. Гамильтониан этого взаимодействия имеет следующий вид:

, (21)

где – градиент электрического поля (ГЭП),– ядерный квадрупольный момент,– спин ядра,– проекция оператора ядерного спина (),– параметр асимметрии тензора ГЭП:

, (31а)

–вторые производные от электростатического потенциала в области ядра.

Для состояний с полуцелым спином электрическое квадрупольное взаимодействие не приводит к полному снятию вырождения по магнитному квантовому числу (вырождение по знаку магнитного квантового числа всегда остается). Для состояний с целым спином вырождение может быть снято полностью, если параметр асимметрии не равен нулю.

Рассмотрим квадрупольное расщепление ядерного уровня для простого случая I=и =0. Собственные значения гамильтониана в этом случае равны:

(32б)

(32в)

В скобках указаны собственные значения оператора , т.е. магнитные квантовые числа. Из (32a, б) следует, что ядерное состояние с I=расщепляется на два подуровня, расстояние между которыми равно. В соответствии с этим в мессбауэровском распределении должны наблюдаться два пика (квадрупольный дублет), см. рис. 7.


Рис. 7. Переходы между подуровнями возбужденного состояния с IB=3/2 и основным состоянием (I0=1/2) и вид мессбауэровского распределения для случая квадрупольного сверхтонкого взаимодействия. Схема подуровней возбужденного состояния соответствует e2qQ>0

Градиент электрического поля (или постоянная квадрупольного взаимодействия) является важной характеристикой электронной структуры твердых тел, в связи с чем исследование электрического квадрупольного взаимодействия имеет в физике твердого тела, химии, биологии такое же значение, как и измерение изомерного сдвига. С точки зрения ядерной физики большой интерес представляет определение квадрупольных моментов ядерных уровней. Точность определения Q зависит от точности расчета градиента электрического поля. Если квадрупольное расщепление присутствует как для возбужденного, так и для основного состояния ядра, можно найти отношение квадрупольных моментов двух ядерных уровней. Точность определения этого отношения не зависит от возможности расчета градиента электрического поля.

  1. Атомно-силовая микроскопия

    1. Физические основы работы атомно-силового микроскопа

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) был изобретен в 1986 году Гердом Биннигом, Кэлвином Куэйтом и Кристофером Гербером. В основе работы АСМ лежит силовое взаимодействие между зондом и поверхностью, для регистрации которого используются специальные зондовые датчики, представляющие собой упругую консоль с острым зондом на конце (рис. 1). Сила, действующая на зонд со стороны поверхности, приводит к изгибу консоли. Регистрируя величину изгиба, можно контролировать силу взаимодействия зонда с поверхностью.

Основание

Консоль

Зонд

Рис.1 Схематическое изображение зондового датчика ACМ

Качественно работу АСМ можно пояснить на примере сил Ван-дер-Ваальса. Наиболее часто энергию ван-дер-ваальсова взаимодействия двух атомов, находящихся на расстоянии друг от друга, аппроксимируют степенной функцией – потенциалом Леннарда-Джонса:


П

ервое слагаемое в данном выражении описывает дальнодействующее притяжение, обусловленное, в основном, диполь–дипольным взаимодействием атомов. Второе слагаемое учитывает отталкивание атомов на малых расстояниях. Параметр– равновесное состояние между атомами,– значение энергии в минимуме. На рис. 2 представлен качественный вид потенциала Ленарда-Джонса.

Рис. 2. Качественный вид потенциала Ленарда-Джонса

Потенциал Леннарда-Джонса позволяет оценить силу взаимодействия зонда с образцом. Общую энергию системы можно получить, суммируя элементарные взаимодействия для каждого из атомов зонда и образца.

Рис. 3. К расчету энергии взаимодействия зонда и образца

Тогда для энергии взаимодействия получаем (рис. 3):

где и– плотности атомов в материале образца и зонда.

Сила, действующая на зонд со стороны поверхности, может быть вычислена следующим образом

В общем случае данная сила имеет как нормальную к поверхности, так и латеральную (лежащую в плоскости поверхности образца) составляющие. Реальное взаимодействие зонда с образцом имеет более сложный характер, однако основные черты данного взаимодействия сохраняются – зонд АСМ испытывает притяжение со стороны образца на больших расстояниях и отталкивание на малых.

Получение АСМ изображений рельефа поверхности связано с регистрацией малых изгибов упругой консоли зондового датчика. В атомно-силовой микроскопии для этой цели широко используются оптические методы (рис. 4).