ВУЗ: Не указан
Категория: Не указан
Дисциплина: Не указана
Добавлен: 29.04.2025
Просмотров: 9641
Скачиваний: 0
СОДЕРЖАНИЕ
1 Движение электрона в кристалле. Уравнение Шрёдингера, волновая функция
1.2 Движение электронов в атоме
1.3 Зонная теория твердого тела
Глава 2. Электропроводность полупроводников
2.1 Собственные и легированные полупроводники. Уравнение электронейтральности
2.2 Статистика электронов и дырок
2.2.1 Заполнение электронами зон вырожденного полупроводника
2.2.1 Заполнение электронами и дырками зон невырожденного полупроводника
2.2 Положение уровня Ферми и расчет концентрации носителей
2.3 Электропроводность полупроводников
2.3.1 Электронная проводимость
2.3.3 Собственная проводимость
Глава 3. Неравновесные электронные процессы
3.4 Диффузионный и дрейфовый токи
3.2. Неравновесные носители в электрическом поле
3.2.1. Уравнение непрерывности тока
5 Контакт электронного и дырочного полупроводников
5.1 Возникновение потенциального барьера. Контактная разность потенциалов.
5.2 Вольтамперная характеристика p-n-перехода
5.3 Температурные зависимости вах pn-перехода
5.3 Влияние генерационно-рекомбинационных процессов на вах pn-перехода.
5.4 Барьерная емкость pn-перехода
5.5 Диффузионная емкость pn-перехода
5.6.1 Лавинный пробой pn-перехода
5.6.2 Туннельный (полевой, зинеровский) пробой pn-перехода
5.6.3 Тепловой пробой pn-перехода
5.7 Влияние сопротивления базы на вах pn-перехода. Полупроводниковый диод
5.8 Выпрямление на полупроводниковом диоде
5.8.2 Переходные процессы в полупроводниковых диодах
6.1 Включение транзистора по схеме с общей базой
6.1.1 Статические вольт-амперные характеристики транзистора, включенного по схеме с общей базой
6.1.2 Усиление транзистора, включенного по схеме с общей базой
6.2 Включение транзистора по схеме с общим эмиттером
6.2.1 Статические вольт-амперные характеристики транзистора, включенные по схеме с общим эмиттером
6.3 Включение транзистора по схеме с общим коллектором
6.4. Дифференциальные параметры биполярного транзистора
6.4.1 Температурная зависимость параметров биполярных транзисторов
6.5 Работа транзистора в импульсном режиме
7.1 Вольт-амперная характеристика тиристора
8.1 Полевой транзистор с управляющим pn- переходом (птуп)
8.1.1 Вольт-амперные характеристики птуп
2 Вольт-амперные характеристики мдп-транзистора
8.2.2 Схемы включения мдп-транзистора
4.2. Барьер на границе металла с полупроводником (барьер Шоттки)
4.2.1 Выпрямление тока на контакте металла с полупроводником
Фотоэлектрические полупроводниковые приборы
7.2. Полупроводниковые источники оптического излучения
10 Классификация интегральных микросхем
10.2 Условные обозначения микросхем
|
|
|
Рис. 3.4. Процесс релаксации избыточной энергии носителя заряда (электрона) в зоне проводимости |
подвижность избыточных носителей заряда может значительно превышать подвижность равновесных носителей.
После прекращения действия возбуждения между решеткой и электронами в течение некоторого времени вновь устанавливается тепловое равновесие, энергия неравновесных носителей быстро снижается (волнистая кривая на рис. 3.4) и их подвижность становится такой же, как у остальных носителей, находящихся в термодинамическом равновесии. Эти процессы характеризуются временем максвелловской релаксации (или просто временем релаксации).
|
|
(3.8) |
где εs – диэлектрическая проницаемость полупроводника (от англ. semiconductor - полупроводник), ε0 = 8,85·10-14 Ф/см – электрическая постоянная, ρ – удельное сопротивление, σ – электропроводность полупроводника. При εs=10, σ~1 Ом-1см-1 τμ~10-12 с.
Время жизни, т.е. время нахождения избыточных носителей в разрешенных зонах, как правило, значительно превосходит эту величину, составляя 10–2 – 10–7 с. Следовательно, большую часть времени своего свободного существования неравновесные носители проводят в состоянии, когда они не отличаются своей средней кинетической энергией (температурой) от равновесных.
Появление неравновесных носителей заряда приводит к увеличению проводимости:
|
|
(3.9) |
где
q
– заряд электрона,
и
–
подвижности электронов и дырок
соответственно,
– избыточная неравновесная проводимость.
Изменение концентрации носителей во времени определяется уравнением непрерывности:
|
(3.10) |
Здесь G – скорость генерации, R – скорость рекомбинации.
После снятия возбуждения (выключения света, прекращении инжекции) (G=0) концентрации электронов и дырок уменьшаются в результате рекомбинации, и кристалл возвращается к равновесному состоянию, в котором Δn=0 и Δp=0. Скорость рекомбинационных процессов (исчезновение избыточных носителей, после снятия возбуждения) характеризуется их временем жизни неравновесных носителей заряда: τn, τp. При рекомбинации зона-зона τn= τp=τ. При G=0 уравнение непрерывности примет вид:
|
(3.14) |
Уменьшение концентрации носителей определяется процессом линейной рекомбинации. Решение этого уравнения имеет вид:
|
(3.15) |
Здесь Δn(0) – избыточная концентрация электронов в момент выключения света (прекращения инжекции), τ – среднее время существования избыточной концентрации носителей или время жизни неравновесных носителей, для собственного полупроводника – время жизни электронно-дырочных пар.
График
зависимости избыточной концентрации
от времени представлен на рис. 3.5. При
t=τ
.В соответствии
с (3.15)
τ
можно определить как время, в течение
которого концентрация неравновесных
(избыточных) носителей заряда убывает
в e
раз.
|
Рис. 3.5 |
Отметим, что линейная рекомбинация характерна при низком уровне инжекции носителей, при высоком уровне возбуждения процессы определяются квадратичной рекомбинацией:
|
(3.16) |
При квадратичной рекомбинации концентрация уменьшается по гиперболическому закону. Аналогичные соотношения можно написать для дырок.
Механизмы рекомбинации можно разделить на два вида: межзонную и рекомбинацию через ловушки (центры рекомбинации). Межзонная рекомбинация осуществляется при переходе электрона из состояния в зоне проводимости в пустое состояние валентной зоны, что равносильно уничтожению свободного электрона и свободной дырки.
Как правило, при малых концентрациях неравновесных носителей (малый уровень возбуждения) имеет место рекомбинация через ловушки (примеси и др. дефекты решетки), при больших концентрациях возрастает вероятность прямой рекомбинации. Эффективность работы ловушек зависит от того, где расположен энергетический уровень ловушки. Наиболее эффективными будут те ловушки, энергетический уровень которых расположен в середине зоны.
|
Рис. 3.6 |
В зависимости от того, каким образом рассеивается избыток энергии ΔЕ межзонная рекомбинация делится на три типа: излучательная (ΔЕ=hν); безизлучательная или фононная (ΔЕ передается решетке на образование фонона); ударная или Оже-рекомбинация (ΔЕ передается третьему носителю заряда, в результате чего происходит освобождение электрона с другой орбитали).
3.4 Диффузионный и дрейфовый токи
Омический ток, который возникает в полупроводниках при появлении в них электрического поля: j = σ·E можно разделить на две составляющие:
|
(3.23) |
Носители, создающие эти токи, дрейфуют в электрическом поле на фоне хаотического броуновского движения, поэтому эти токи называют дрейфовыми.
Находящиеся
в тепловом движении носители заряда в
кристалле можно рассматривать как
электронный газ. В газах наблюдается и
хорошо изучен процесс диффузии.
Аналогичный эффект должен наблюдаться
для свободных электронов и дырок. Если
в какой-то области возник избыток
носителей заряда (градиент
концентрации
),
то под действием диффузии они должны
распространяться из области с большей
концентрацией в область с меньшей
концентрацией.
|
|
|
Рис. 3.8 |
Скорость распространения носителей пропорциональна градиенту концентрации и коэффициенту диффузии, который тем выше, чем выше температура и подвижность носителей заряда. Поскольку электроны и дырки обладают зарядом, то их диффузионные потоки должны приводить к появлению токов:
|
(3.24) |
где
Dn
и Dp
– коэффициенты
диффузии электронов и дырок,
–
градиенты концентрации электронов и
дырок в трехмерном случае (
набла-оператор или оператор Гамильтона).
Для одномерного случая:
|
(3.25) |
Существует следующая связь между коэффициентами диффузии температурой и подвижностью носителей заряда:
|
(3.26) |
Формулу (3.28) часто называют соотношением Эйнштейна.
Следует обратить внимание на то, что если градиенты концентрации и диффузионные потоки электронов и дырок направлены в одну сторону, то образуемые ими диффузионные токи будут протекать в противоположных направлениях, компенсируя друг друга.
В полупроводниковом кристалле перенос заряда всегда осуществляется в результате двух процессов: дрейфа и диффузии. Поскольку диффундируют и дрейфуют два тип носителей заряда должно быть, как минимум, четыре различных составляющих общего тока: дрейфовый ток электронов и дырок, диффузионный ток электронов и дырок:
|
(3.27) |
Полный ток каждого вида носителей складывается из диффузионного и дрейфового токов:
|
(3.28) |
Для одномерного случая полный ток равен:
|
(3.29) |
3.2. Неравновесные носители в электрическом поле
3.2.1. Уравнение непрерывности тока
В общем случае, для полупроводника, в объеме которого происходит генерация (G) и линейная рекомбинация, изменение концентрации носителей во времени заряда может быть определено в результате решения уравнения непрерывности:
|
(3.30) |
|
|
(3.31) |
в одномерном случае:
|
(3.32) |
|
|
(3.33) |
,
,
а